第六回『JTAGブレークvol.6』

 JTAGブレークは、多忙な設計及び生産に携わる技術者の方々に、コーヒーブレーク的な

 感覚で気軽に読んで頂ける組込み関連の技術情報をお届けするメールマガジンです。

 各種展示会等で弊社ブースをご訪問して頂きましたお客様にお届けしております。
JTAGフォーラムを
開催いたします!

 〜新ファンクションテストへの挑戦〜 ファンクションテストの課題を解決する    新連載
 第一回:『JTAG Live/Scriptとは?』


  今回からJTAGバウンダリスキャンを活用したファンクションテストについて
 ご紹介する連載を致します。これまでJTAGテストと言うとネットリストを
 ベースとした基板全体を対象としておりました。

  実装基板の検査は、よく知られているように外観検査、
 インサーキット検査及びファンクション検査に大きく分類されます。
 特に、ファンクションテストは、最も普及している検査です。
 しかし、多大な開発工数を必要とし、しかも故障箇所を特定することが
 できないなどの課題も抱えております。

  本連載では、これらファンクションテストの課題を、
 JTAGバウンダリ スキャン機能によってどう解決するかを
 ご紹介していきます。どうぞ、ご期待下さい!!

 ▼詳しくは以下をご覧下さい。
    詳しくは続きをクリック



実基板 〜JTAGテストへの道〜  自社開発ボードを【アッという間にテスト】する
 第六回:『社内での使用結果をインタビュー!』


  前回までで、テストの動作確認が完了いたしました!!!
 納期に間に合うのか不安でしたが・・・終わってみたら、3日以内と
 余裕をもって完了いたしました。

 いよいよ納入し、社内で使用してもらいます!
 使用結果を弊社開発部門主任の森にインタビューいたします。

 JTAGテストのメリットを感じてもらったのか?
 私が作成したテストデータは量産でも問題なく動作したのか?

 ▼結果を聞くのが怖いですが・・・続きは以下から!!!
    詳しくは続きをクリック






JTAGブレーク ホットNOW!! 
第六回:『東芝様セミナーで講演』


  さて、2012年2月2日(木)、2月9日(木)は、川崎&大阪にて
 東芝 セミコンダクター&ストレージ社主催の「東芝TX03マイコン 
 Cortex-M3コア 無料コラボセミナー」が開催されました。

 弊社アンドールシステムサポートも、東芝様のマイコンパートナーとして、
 JTAGバウンダ リスキャンの講演をさせていただきました。

 東芝様のマイコンパートナーとは?詳細はこちら

▼続きは、こちらをご覧下さい。


【品質向上】【工数削減】【コストダウン】の決め手とは!?
 第六回:『DDR3メモリ搭載ボードの不具合を自動で検出』


  今回は『DDR3メモリ搭載ボードの不具合検出』についてお話します。

  システムを稼働して、1週間に1回起きる不具合があるとき、
 どのようにしてデバッグを進めれば良いでしょうか?

  不具合が起きたタイミングに合わせて、測定を試みても難しく、
 トラブルの原因を見つけ出すのは至難の業だと思います。

  DDR3メモリのプロトコル違反を自動的に検出できるツールがあったら、
 デバッグ・検証の工数が大幅に削減できると思いませんか?

 実はあるんです!!

 ▼DDR3の違反検出ツールはこちらです
   詳・し・く・は続きをクリック



テクニカルニュース 『JTAGテスト、こんな多くのメリットが!』
 第五回:『バウンダリ スキャン テストとDFT NO.3!』


  前回に引き続き、今回もJTAGバウンダリ スキャン(以下、JTAGテスト)
 についてのDFT(Design For Test)として、設計段階に注意する点を
 ご紹介したいと思います。

  今回は、スキャン・チェーンの分離やFPGAデバイス使用時の
 注意などについて、説明してみました。

  複数のTAP電圧があった際や、JTAGエミュレータ(ICE)の
 使用の考慮、DRAM等の使用などの点について、JTAG設計で
 考慮しておく点などをご紹介いたします。
 
 詳細は、下記から『技術レポート』をお申込みください。

 続きをクリック




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