JTAGのメリット

JTAGテスト　５つのメリット



JTAGテストシステム　５つのメリット


1.ボード上のはんだ不良、パターン故障を瞬時に検査・解析できる！

 
検査時間はわずか５秒！		  JTAGテストシステムの自動診断

　・BGA,CSPパッケージの基板検査ができる

　・X線では分からないBGAの半田不良を検出

　・故障箇所をピン単位で診断できる 

2.わずか５本のJTAG信号でボードテストができ、フィクスチャのコスト削減！

 
JTAGテストのカバー率は80%〜90%		  JTAGテストによるコスト削減

　・わずか5本のJTAG信号でボード検査できる
　　⇒フィクスチャ不要、多品種に対応！

　・デジタル基板の80%-90%をテストできる
　　⇒フィクスチャのピン数を大幅に削減！

3.豊富なサポートメンバーが高い技術力でお客様の製品検査をサポート！

 
導入後も『安心』の技術サポート		 　アンドールシステムサポートの技術支援

　・1営業日以内のサポートレスポンス

　・導入アドバイス・コンサルティング

　・テストコードの受託開発

　・海外生産での対応

　・充実したトレーニングコース
　　⇒トレーニングコースはこちら

4.JTAGテストコードは自動生成！故障箇所は自動診断！

 
ウィザードで自動生成！故障診断！		  JTAGテストコードは、ソフトウェアが
自動生成するため、手間がかかりません。


テストコード生成に必要なもの

　■ 回路図のネットリスト（回路CAD）

　■ 部品表（実装部品の情報）

　■ BSDLファイル（デバイスメーカから入手）

5.検査工数、トータルコストを大幅に削減！


試作開発から量産までコスト削減！		 JTAGテストによるトータルコスト削減

　・ボードテストのための準備工数を削減！

　・故障箇所の解析工数を削減！

　・フィクスチャ費用を削減！

　・開発時のデバッグ工数を削減！

　・量産検査時の検査時間を削減！


様々なボードテスト手法の問題点とJTAGテストによる解決策


　　主なボード検査手法は、高密度基板を検査する上で、多くの問題があります。
　　JTAGテストシステムでは、様々な検査手法の問題点を解決できます。

インサーキットテストの問題点とJTAGテストによる解決
  　　インサーキットテストの問題点

　■ 高密度基板はピンが立たない

　■ 基板ごとに治具製作のコストがかかる

　■ ピンの接触信頼性が低い

 　　JTAGテストによる解決

　■ わずか5本のJTAG信号でテスト！

　■ JTAGテストの検査範囲はピン不要！

　■ JTAGは基板上のICを使ってテスト！


ファンクションテストの問題点とJTAGテストによる解決
  　ファンクションテストの問題点

　■ 検査プログラムの開発工数が膨大

　■ 故障箇所の解析が困難

　■ CPUが動作しないと検査できない

   　JTAGテストによる解決

　■ テストコードは自動生成！

　■ ツールによる自動故障解析！

　■ JTAGテストはCPUのプログラム不要！


自動外観検査の問題点とJTAGテストによる解決

 
 　自動外観検査の問題点

　■ BGAパッケージの検査ができない

　■ 通電試験ではない

　■ 装置が大きく、保守では使えない
 
　JTAGテストによる解決

　■ BGAの半田不良を検出！

　■ 通電試験により信頼性を向上！

　■ コンパクトな検査装置で保守に活用！


X線検査の問題点とJTAGテストによる解決


  　X線検査の問題点

　■ BGAのオープン故障が分からない

　■ ボード全体のテストができない

　■ 合否判断結果が不明確
 
 　JTAGテストによる解決

　■ BGAを通電テストできる！

　■ ボード全体をテストできる！

　■ 合否判定はソフトウェアが自動診断！