「JTAGフォーラム 2015」東京・名古屋・大阪

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JTAGフォーラム2015 プログラム

1. JTAGテスト技術解説と 最新 JTAGテストシステム
~半導体パッケージの進化とBGA実装基板の検査手法~

増え続けるBGA搭載基板と将来の部品内蔵基板、3次元LSI 時代における実装基板検査の課題とJTAGテストの進化をご紹介します。

  • IEEE1149規格 JTAGバウンダリスキャン解説
  • わずか5本の信号で基板全体を検査する仕組み
  • JTAGテストのテストコード自動生成と実行、故障診断
  • BGAオープン不良(未接合)とブリッジ不良を特定する方法
  • BGAパッケージの実装不良を改善するヒント

2. 国内8社の事例にみるJTAGテストの活用と効果
~実装基板の検査手法とJTAGテストの活用~

国内の開発現場、製造現場で起きている問題とJTAGテストによる課題解決を8社のJTAGテスト導入事例でご紹介します。

  • 開発現場での活用と開発期間短縮
  • 製造現場での活用と検査コスト削減
  • サービス現場での活用と修理コスト削減

3. JTAGテストによる基板検査のロードマップ
~様々な検査手法の特徴とJTAGテスト複合検査~

多くの企業が抱える実装基板検査の課題と解決策をご紹介します。

  • 自動外観検査の長所と短所
  • インサーキットテスタの長所と短所
  • X線検査の長所と短所
  • ファンクションテストの長所と短所
  • JTAGテストの長所と短所
  • JTAGテスト複合検査

また、将来のさらなる高密度実装基板の検査を実現する最新のJTAG規格と最新のテストツールのロードマップを発表します!

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アンドールのスタッフをはじめ、JTAGテストの第一人者であるオランダ JTAG Technologies社 社長Peter van den Eijnden 氏が来日し最新のロードマップを発表します。

JTAGバウンダリスキャンを活用されるお客様との情報交換の機会としてもご活用ください。

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東京会場

開催日: 2015年10月2日 金曜日 13:00 -17:00 (12:30より受付)

会場名:グランパークカンファレンス 302+303会議室

住所:〒105-0023 東京都港区芝浦3-4-1

最寄駅:

・JR「田町駅」より徒歩5分

・地下鉄都営浅草線・三田線「三田駅」より徒歩7分

※前回とは会場が異なります


名古屋会場

開催日: 2015年10月 5日 月曜日 13:00 -17:00 (12:30より受付)

会場名:ウインクあいち(愛知県産業労働センター)11階 1102

住所:〒450-0002 愛知県名古屋市中村区名駅4丁目4-38

最寄駅:
 名古屋駅(JR・地下鉄・名鉄・近鉄)より
 ・JR名古屋駅桜通口から ミッドランドスクエア方面 徒歩5分
 ・ユニモール地下街 5番出口 徒歩2分

大阪会場

開催日:2015年10月 7日 水曜日 13:00 -17:00 (12:30より受付)

会場名:梅田センタービル 16F E会議室

住所:〒530-0015 大阪府大阪市北区中崎西2-4-12

最寄駅:
 ・JR「大阪」駅 御堂筋から徒歩10分
 ・地下鉄「梅田」駅「東梅田」駅から徒歩7分
 ・阪急「梅田」駅 茶屋町口から徒歩5分
 ・阪神「梅田」駅 より徒歩9分

※前回とは会場が異なります