アンドールシステムサポートは、JTAG実装検査ツールの普及振興のため、JTAGフォーラムを開催致します。

開催日
【東京 会場】 :2017年10月25日 水曜日 13:30 -17:00
【名古屋 会場】:2017年10月27日 金曜日 13:30 -17:00
【大阪 会場】 :2017年10月30日 月曜日 13:30 -17:00
参加費:
無料でご参加いただけます。
JTAGフォーラム2017のお申し込みはこちら

JTAGフォーラム2017 プログラム

1. JTAGテスト技術解説と 最新 JTAGテストシステム
~電子部品の進化と電子基板の高密度化~

FPGA,ARMマイコン,DSP,DDRメモリは、BGA部品が標準となりました。さらなる高密度化のため、3次元への実装密度も高くなってきています。 複雑化する実装基板検査の課題とJTAGテストの進化を解説します。

  • IEEE1149規格 JTAGバウンダリスキャン解説
  • わずか5本の信号で基板全体を検査する仕組み
  • JTAGテストのテストコード自動生成と実行、故障診断
  • BGAオープン不良(未接合)とブリッジ不良を特定する方法
  • ARMマイコン基板、ARM搭載FPGAを効率的にテストする方法

2. 国内10社の事例にみるJTAGテストの活用と効果
~実装基板の検査手法とJTAGテストの活用~

国内の開発現場、製造現場で起きている問題とJTAGテストによる課題解決を10社のJTAGテスト導入事例でご紹介します。

  • 開発現場での活用と開発期間短縮
  • 製造現場での活用と検査コスト削減
  • サービス現場での活用と修理コスト削減

3. JTAGテストによる基板検査の「みらい」
~様々な検査手法の特徴とJTAGテスト複合検査~

多くの企業が抱える実装基板検査の課題と解決策をご紹介します。

  • X線検査との連携によるBGA実装検査、疑似接触への取り組み
  • ファンクションテストとの連携による検査タクトの改善
  • インサーキットテストとの連携によるテストカバレッジの改善
  • 将来のさらなる高密度実装基板の検査を実現する 最新のJTAG規格と最新のテストツールのロードマップを発表します!

アンドールのスタッフをはじめ、JTAGテストの第一人者であるオランダ JTAG Technologies社 社長Peter van den Eijnden 氏が来日し最新のロードマップを発表します。

JTAGバウンダリスキャンを活用されるお客様との情報交換の機会としてもご活用ください。



東京会場

開催日時:
2017年10月25日 水曜日 13:30 -17:00(13:00より受付)
会場名:
フクラシア浜松町 会議室B+C
住所:
東京都港区浜松町1-22-5 KDX浜松町センタービル6階
最寄駅:
JR 「浜松町駅」より徒歩1分
都営大江戸線「大門駅」より徒歩2分
東京モノレール「浜松町駅」より徒歩2分

名古屋会場

開催日時:
2017年10月27日 金曜日 13:30 -17:00(13:00より受付)
会場名:
名古屋プライムセントラルタワー 13F 第一会議室
住所:
愛知県名古屋市西区名駅2-27-8
最寄駅:
地下鉄東山線・桜通線「名古屋駅」1番出口より徒歩4分
JR「名古屋駅」桜通口より徒歩7分
名鉄名古屋本線「名古屋駅」中央改札口側出口より徒歩10分

大阪会場

開催日時:
2017年10月30日 月曜日 13:30 -17:00(13:00より受付)
会場名:
梅田センタービル 16F C+D会議室
住所:
大阪府大阪市北区中崎西2-4-12
最寄駅:
JR「大阪駅」 御堂筋口より徒歩10分
地下鉄「梅田駅」 「東梅田駅」より 徒歩7分
阪急「梅田駅」 茶屋町口から徒歩5分
阪神「梅田駅」より徒歩9分

案内状