JTAGラーニングセンター

セミナー時間：45分

入門コース ①

バウンダリスキャンの基礎

オンデマンドで公開中
（2022年3月2日開催）

高密度実装基板の実装検査で注目を集めているJTAG /バウンダリスキャン（別名IEEE Std 1149.1）を活用した実装テストの基礎技術をご説明します。

• バウンダリスキャンの進化
• バウンダリスキャンの技術
• デバイスレベルのテスト
• 実装基板のテスト
• サンプルツール 「JTAG Live」

セミナー時間：55分

基礎コース ①

バウンダリスキャンの詳細

オンデマンドで公開中
（2022年3月9日開催）

JTAG / バウンダリスキャンを活用した実装テスト用アプリケーションの自動生成ツール「ATPG」の方法と、さまざまなテスト生成と結果の分析方法をご説明します。

• テスト自動生成 ATPGとは
• テスト生成に必要なデータ
• テスト生成の方法
• インターコネクトテスト
• メモリテスト

セミナー時間：45分

基礎コース ②

テストカバレッジの評価

オンデマンドで公開中
（2022年3月9日開催）

JTAG ProVisionの障害カバレッジ分析ツールを使用して、テストの有効性を評価する方法をご説明します。テストパッドの削減とテスト戦略の改善が期待できます。

• アクセシビリティの確認
• テストカバレッジの分析方法
• Visualizerによる可視化方法
• 特別な端子処理の確認方法
• テスト容易性の評価

セミナー時間：45分

応用コース ①

エミュレーティブテスト

オンデマンドで公開中
（2022年3月23日開催）

JTAGポートを備えたすべてのデバイスがバウンダリスキャンをサポートしているわけではありません。また、バウンダリスキャンに対応していても、一部の信号ピンへのアクセスが制限されているデバイスもあります。
この課題を解決するため、CoreCommander関数を使用して、マイコンのコア（ARM、TriCore、MIPなど）を活用したテスト方法についてご説明します。

• CoreCommanderの仕組み
• A/Dコンバータのテスト方法
• Python、LabViweへの組込み例

セミナー時間：45分

応用コース ②

デバイスプログラミング

オンデマンドで公開中
（2022年3月30日開催）

バウンダリスキャンの回路は、多くの電子機器に組み込まれていますが、ボードテストだけで使われるケースが多いようです。
バウンダリスキャンを使ったデバイスのインシステム（オンボード）プログラミングの方法についてご説明します。

• プログラミング方法
• フラッシュメモリへの書き込み
• PLDとマイコンへの書き込み

セミナー時間：60分

応用コース ③

ファンクションテストJFT

オンデマンドで公開中
（2022年5月19日開催）

Pythonなどのスクリプトシステムを使用して、ボード（PCBA）の潜在的なアセンブリの問題に対処するための強力なテストプログラムを生成する方法をJTAGファンクションテスト（JFT）と呼びます。
簡単なツールとスクリプト言語Pythonを使用して、効果的にJTAGバウンダリスキャンのテストデータを生成する方法についてご説明します。

• 従来のJTAGテストとの比較
• I2Cを制御したセンサーテストの例
• Python言語によるJFT記述例

セミナー時間：45分

実践コース ①

JTAG ProVision
プロジェクトの作成方法

オンデマンドで公開中
（2022年9月7日開催）

本セミナーは、JTAG Technologies社製 JTAGバウンダリスキャン・テストツール「JTAG ProVision」のプロジェクトの作成方法をデモンストレーションを通じて、習得して頂くセミナーとなります。

• プロジェクトの作成方法
• テストアプリケーションの作成方法
• JTAGテストの実行
• BGA基板の故障診断
• テストシーケンスの設定

セミナー時間：約15分

JTAG博士の技術講座 ①

バウンダリスキャンの基礎

BGAパッケージや、CSPパッケージが実装された基板では、端子がデバイスと基板の裏側に隠れてしまうため、従来のプローブで端子を当たるICTや外観検査装置では実装不良を検出することができません。JTAGバウンダリスキャンテストツールを使うと、BGA部品の実装不良箇所を特定できます。 JTAGテストのスペシャリストであるJ太郎博士が分かりやすく解説します。

セミナー時間：約10分

JTAG博士の技術講座 ②

バウンダリスキャンの基礎

JTAG博士の技術講座の第２弾の公開です！ BGAパッケージや、CSPパッケージが実装された基板では、端子がデバイスと基板の裏側に隠れてしまうため、従来のプローブで端子を当たるICTや外観検査装置では実装不良を検出することができません。JTAGバウンダリスキャンテストツールを使うと、マイコン、FPGA、DDRメモリなどのBGA部品の実装不良箇所を特定できます。 JTAGテストのスペシャリストであるJ太郎博士が分かりやすく解説します。

セミナー時間：45分

入門コース

JTAGテスト入門セミナー

1. BGA実装不良を見つけるJTAGテスト
2. JTAGテストアーキテクチャの解説
3. JTAGテストのデモンストレーション

セミナー時間：45分

基礎コース

JTAGテスト成功事例セミナー

1. BGA実装不良の解析事例
2. (株)図研 様の回路CADとの連携
3. 国内企業の導入実績

セミナー時間：45分

基礎コース

テスト容易化設計セミナー

1. JTAGテスト容易化設計 DFTとは
2. 試作開発の効率を上げたユーザー事例
3. JTAGテストのための設計上の注意点

セミナー時間：45分

入門コース

JTAGテストツールのすべて

1. JTAGテストのソフトウェア製品と機能
2. JTAGテストのハードウェア
3. JTAGテストの保守と技術サポート