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JTAGテスト容易化設計 Webセミナー

JTAGテスト容易化設計 Webセミナー

BGA基板をデバッグ、解析するための検査と設計の改革!
試作基板のデバッグ効率を改善する
JTAGテスト容易化設計 Webセミナー

BGA実装基板のテスト方法として、 製造現場ではJTAGテストが使われていますが、 設計者にとっては、試作基板の設計、デバッグ、 解析の場面でも大きなメリットがあります。
今回のセミナーでは、JTAGテスト容易化設計の 基礎から導入企業の事例、設計ノウハウまで ご紹介いたします。
皆さまの業務改善にお役立て頂けると幸いです。

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JTAGテスト容易化設計 Webセミナのお申込み

本セミナーに、関心を御持ち頂き、誠にありがとうございます。

次回の開催予定につきましては、日程の調整中です。
ご要望がございましたら、お問い合わせフォームからご連絡ください。

JTAGテスト容易化設計 Webセミナーの内容

1. JTAGテスト容易化設計 DFTとは

  • 設計者が抱える 試作基板デバッグの課題
  • BGA基板をテストするJTAGテストとは
  • JTAGテスト容易化設計 DFTの

2. 試作開発の効率を上げたユーザー事例

  • 設計者の手間が減る! JTAGテストの活用
  • 設計・製造・保守の設計者のメリット
  • デバッグ効率を上げた社内ルール作りとは

3. JTAGテストのための設計上の注意点

  • JTAGテスト容易化設計のヒント
  • (株)図研様の回路CADとの連携機能「CR-8000 Design Gateway」
  • テストカバレッジの評価方法とデザインレビューの質を向上する方法

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