JTAGテスト容易化設計 Webセミナー
BGA基板をデバッグ、解析するための検査と設計の改革！
試作基板のデバッグ効率を改善する
JTAGテスト容易化設計 Webセミナー
BGA実装基板のテスト方法として、
製造現場ではJTAGテストが使われていますが、
設計者にとっては、試作基板の設計、デバッグ、
解析の場面でも大きなメリットがあります。
今回のセミナーでは、JTAGテスト容易化設計の
基礎から導入企業の事例、設計ノウハウまで
ご紹介いたします。
皆さまの業務改善にお役立て頂けると幸いです。
オンデマンド WebセミナーをYOUTUBEで限定公開中！
これまで開催してきた「JTAGテスト容易化設計 Webセミナー」をYOUTUBEの動画で限定公開しています。 お申込頂いた方に、セミナー動画のURLをお送りしますので、お気軽にお申込ください。
JTAGテスト容易化設計 Webセミナーの内容
1. JTAGテスト容易化設計 DFTとは
- 設計者が抱える 試作基板デバッグの課題
- BGA基板をテストするJTAGテストとは
- JTAGテスト容易化設計 DFTの
2. 試作開発の効率を上げたユーザー事例
- 設計者の手間が減る！ JTAGテストの活用
- 設計・製造・保守の設計者のメリット
- デバッグ効率を上げた社内ルール作りとは
3. JTAGテストのための設計上の注意点
- JTAGテスト容易化設計のヒント
- (株)図研様の回路CADとの連携機能「CR-8000 Design Gateway」
- テストカバレッジの評価方法とデザインレビューの質を向上する方法
