CoreCommander Test Program Generator for Memories
CTPG_Mの特長
- メモリテストの高速化
- 機能テストを改善
- 寄生インピーダンス障害をキャッチ
- ボードテストの障害カバレッジを改善
- 既存のハードウェアと診断ソフトウェアを使用
CTPG_Mの概要
CTPG_Mは、デバイス内部のIPとの通信を可能にするCoreCommanderモジュールを使用して、JTAG ProVisionから高速なメモリクラスタテストを実現します。
実際にシステムが動作する速度でDDRxおよびその他の種類のメモリをテストしたいという要望を受けて、JTAG Technologies社では、JTAG ProVision用のテストプログラムジェネレータCTPG_M (CoreCommander Test Program Generator for Memories)を開発しました。CTPG_Mは、従来のバウンダリ・スキャン(IEEE Std 1149.1)の幾つかの課題を解消します。
CTPG_Mでは、マイクロプロセッサに組み込まれている既存の、デバッグ/エミュレーションのサポートオプションを利用することで、一部のJTAGデバイスでは、メモリに接続される信号線に対し、バウンダリ・スキャン・セルが一部抜かれており抜かれており、メモリに対するテスト機能が欠如したデバイスが存在する問題と、DDRxメモリに対して、システムが実際に動作する速度でテストできないという問題を克服し、高速で効果的なテストを可能にします。
JTAG ProVision CD23以降のソフトウェアでは、オプションの製品をご購入頂く事で、CTPG_Mの機能を利用できるようになりました。
CTPG_Mの機能は、既存のJTAG Technologies社の製品のテストハードウェアおよび、故障診断システムと完全に互換性を持っておりますので、CTPG_Mにより、検出された、テスト結果を、テストエンジニアや生産技術者のために、ピンレベルの診断レポートを作成できます。
また、このテスト結果を、JTAG Technologies社のJTAG Visualizerの基板レイアウト・ビューや回路図ビューに反映して表示する事もできます。
