JTAG Functional Test system (JFT)

JTAG Functional Test system (JFT)

JTAG Functional Test system (JFT)は、DLLを利用したプログラムで、バウンダリ・スキャン・テストの機能をPtython、 National Instruments社の LabVIEW と Microsoft .NET frameworkなどでプログラムから単純に使用する事ができるように、API (Appilication Program InterfaceI) を提供しております。

JFTを利用する事で、基板上に実装されているJTAGバウンダリ・スキャン機能を内蔵したデバイスのピンから出力される信号を個別に制御したり、入力されている信号の値を個別に読み込むことや、複数のピンをまとめて変数として扱いレジスタに対するビット操作の形で操作するアプリケーションプログラムやスクリプトファイル、またLabViewのVIなどを作成することが可能になります。

JFTは、一般的に、ロジックデバイスやアナログ・デジタル混在の塊の回路に対するテストのために利用され、また、再利用できるテスト部品のモジュールに変換できます。

JFTとJTAG CoreCommanderや、MIOS等のハードウェアを組合わせる事により、組込みデバイスのペリフェラル(ADC、DAC、メモリ・コントローラなど)を含めて、低コストで、効果的なテストを提供することができます。

JFTの特長

• ロジックデバイスやメモリのテストをできます。
• レジスタの値を取得する事で、リミット値のテストを実行できます。
• オプションのCoreCommanderを使用してデバイス内部にアクセスできます。
• I2C、SPI通信およびサンプルのライブラリが含まれています。
• テストモジュールの再利用によりテスト環境を汎用化できます。
• 一般的な開発言語で利用できるAPIを提供できます。
• 包括的なバウンダリ・スキャンを制御する関数を提供しています。
• マイクロプロセッサのコアのエミュレーション機能を利用したテスト機能のオプションも提供しております。

JFTの用途

ATPG (Automatic Test Program Generation)を適用できないデバイスに対する、JTAGバウンダリ・スキャン機能を利用した低コストのテストの開発にも利用できます。 JTAGテストに対する基礎知識とデジタル回路の基礎に、プログラム技術を持ったテストシステムの開発者やインテグレータ向けのソリューションです。

JFT ソフトウェア製品一覧