JTAGテスト

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JTAG Technologies社製品 価格改定のお知らせ

昨今の為替変動や仕入価格、輸入・流通コストの上昇を受け、JTAG Technologies社製品の国内販売価格を改定いたします。2026年11月1日以降の新規お見積もり分より新価格を適用いたします。価格改定前のお見積もりをご希望のお客様は、お早めにご依頼ください。

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JTAGテスト
JPCA Show 2026 / 2026 マイクロエレクトロニクスショーに出展します

アンドールシステムサポートは、東京ビッグサイトで2026/6/10(水)~6/12(金)まで開催される「JPCA Show 2026 /
2026マイクロエレクトロニクスショー」に出展します。今年は、チップレット、BGA実装基板、QFP実装基板用のJTAGテスト/バウンダリスキャンテストをご紹介します。また、半導体テスト、IoT機器のテスト用のPXI、LXI自動テストソリューションをご紹介します。

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Arm社純正開発ツール
--ネクスティエレクトロニクス社共同開催-- 小型HDQFPパッケージの実装テストと故障診断を自動化! 車載向けNXP最新マイコン S32K3活用セミナー

2026年2月20日にネクスティエレクトロニクス社と共同開催で 車載向けNXP最新マイコン S32K3活用セミナー(無料)を開催いたします。

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JTAGテスト
2026年開催ネプコンジャパンでJTAGテストのソリューションを展示します



2026年1月21日(水)~23日(金)に東京ビッグサイト開催される第40回 ネプコン ジャパンで、アズビル太信株式会社様のブース内に、アンドールシステムサポートは展示させて頂きます。

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Arm社純正開発ツール
EdgeTech+ 2025に出展します

アンドールシステムサポートは、 パシフィコ横浜で2025年11月19日(水)~21日(金)まで開催される「EdgeTech+ 2025」に出展します。
今年は、Arm社純正開発ツール、Cortex-Mが実装されたマイコン向けの開発ツールであるKeil MDKと、チップレット、部品内蔵基板などの3次元実装基板、
BGA実装基板、QFP実装基板用のJTAGテスト/バウンダリスキャンテストをご紹介します。また、半導体テスト、IoT機器のテスト用のPXI、LXI自動テストソリューションをご紹介します。

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JTAGテスト
BGA実装検査・故障解析技術の最前線 「真の不良原因」を追及する ~ハンダ不良検出装置 X 超音波断面試料作製装置コラボセミナー~

「真の不良原因を追及する 〜ハンダ不良検出装置 × 超音波断面試料作製装置コラボセミナー〜」は、アンドールシステムサポート社、 株式会社高田工業所 の2社で、
BGA実装における目視では判別できない不良の根本原因を、電気的・物理的両面から可視化するための最新技術を紹介します。

JTAGテストによる非接触型の電気検査と、超音波断面加工による高精度な断面観察技術を組み合わせ、品質管理・不良解析の新たな標準となるアプローチを提案します。

現場責任者・品質保証・検査技術者の皆様に特に有益な内容です。

開催日:2025年7月23日 (水)、参加費無料無料(事前申込制)

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JTAGテスト
JPCA Show 2025 / 2025 マイクロエレクトロニクスショーに出展します

アンドールシステムサポートは、東京ビッグサイトで2025/6/4(水)~6/6(金)まで開催される「JPCA Show 2025 / 2025 マイクロエレクトロニクスショー」に出展します。今年は、BGA実装基板、QFP実装基板用のJTAGテスト/バウンダリスキャンテストをご紹介します。また、半導体テスト、IoT機器のテスト用のPXI、LXI自動テストソリューションをご紹介します。

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JTAGテスト
2025年開催ネプコンジャパンでJTAGテストと自動テストのソリューションを展示します

2025年1月22日 (水) ~ 24日(金) に東京ビッグサイト開催される第39回 ネプコン ジャパンで、アズビル太信株式会社様のブース内に、アンドールシステムサポートは展示させて頂きます。

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