ハードウェア

新しいコンセプトの産業用 JTAG搭載 実装基板テスター プログラマである JT 57xx/RMIc は、さまざまな JTAG (IEEE 1149.x) コントローラー、デジタル IO、アナログ IO、およびその他の測定モジュールを組み合わせてカスタマイズ可能です。

モジュールは 1/2 ラック幅または 1/4 ラック幅で、次のようにカスタマイズできます。

JT5705/RMIc モジュール (1/4 幅)

• 2TAP (15MHz)
• 64ch ミックスドシグナル IO (MIOS) チャネル
  

JT37×7/RMIc モジュール (1/2 幅)

• 4TAP (40MHz)
• 16 の静的 IO チャネル
• オプションで 64 DIOS チャネル (DIO-64 バージョンのみ)
  

JT5112/RMIc モジュール (1/4 幅)

• 64ch ミックスドシグナル IO (MIOS) チャネル
  

JT 5111/RMIc モジュール (1/4 幅)

• 64ch デジタル IO (DIOS) チャネル
  

各モジュールは、ベンチトップ同等のモジュールと同様の仕様を提供しますが、チャネルと TAP の密度が高く、設置面積が小さく、全体的なコストが低いという利点があります。モジュールを組み合わせて適合させることにより、ユーザーは最もコスト効率の高いソリューションを構築するために必要となるほぼすべてのタイプの JTAG/バウンダリスキャン テスター/プログラマを構成できます。

特徴

• JTAGコントローラー、デジタル IO または MIOS 用の 4 つのモジュール スロット
• 合計最大 256 の I/O チャネルと 8 つの TAP
• 高速 (15MHz) および超高速 (40MHz) コントローラー オプション
• 周波数、パルス幅、VDC (アナログ) の測定オプション
• アナログソースおよびクロックジェネレーター

高速かつパフォーマンスのポータブル JTAG バウンダリスキャン コントローラ。テストシステムから制御するためのUSB 2.0/1.1、イーサネット、および Firewireの 3 つのインターフェイスを備えています。

このコントローラーは、要求の厳しい製造テスト アプリケーション、高速なシステム内フラッシュ メモリ プログラミング、プログラマブル ロジック コンフィギュレーションを対象としています。JT 37×7 は、特定の環境やアプリケーションに合わせて、さまざまな動作レベル (メモリ オプション) で利用できます。各ユニットには、4 TAP ポートのシグナル コンディショニング インターフェイス JT2147 QuadPOD が付属しています。

JT37×7 DataBlaster は、最大 40 MHz TCK の高速かつパフォーマンスのバウンダリ スキャン コントローラ ファミリです。これらのコントローラは、USB/E-net/FireWire インターフェイスを備えたベンチトップ ユニットとして利用できるほか、同じ 3 つのインターフェイスを備えた 19 インチ ラックマウント型機器としても提供され、PXI(e) および PCI(e) のプラグイン カードとしても提供されます。

詳細については、以下のタブを参照してください。

特徴

• 高性能ポータブルバウンダリスキャンユニット
• 最大 4 つのバウンダリ スキャン チェーンを同時にテスト
• 高速デバイスプログラミング
• 製造環境向けの堅牢な設計
• 3 つのシリアル インターフェイス: USB (1.1 および 2.0)、イーサネット、および Firewire。

PCI バス スロットまたは PCI Express バス スロット用の高速およびパフォーマンスの JTAG バウンダリスキャン プラグインコントローラーです。

このコントローラーは、要求の厳しい製造テスト アプリケーション、高速なインシステム フラッシュメモリ プログラミング、プログラマブルロジック コンフィギュレーションを対象としています。

JT 37×7 は、特定の環境やアプリケーションに合わせて、様々なメモリオプションを利用できます。各ユニットには、付属のシグナル コンディショニング インターフェイス JT2147 QuadPOD により、DataBlaster コントローラーあたり 4 つの TAP を独立して制御できます。

JT37×7 DataBlaster は、最大 40 MHz TCK の高速かつパフォーマンスのバウンダリ スキャン コントローラ ファミリです。これらのコントローラは、USB/E-net/FireWire インターフェイスを備えたベンチトップ ユニットとして利用できるほか、同じ 3 つのインターフェイスを備えた 19 インチ ラックマウント型機器としても提供され、PXI(e) および PCI(e) のプラグイン カードとしても提供されます。

詳細については、以下を参照してください。

特徴

• PCIバススロットまたはPCI Expressバススロット
• 最大 4 つのバウンダリ スキャン チェーンを同時にテスト
• 高速デバイスプログラミング
• Enhanced Throughput Technology™ (ETT) により大量生産能力を実現

PXI および PXI-Express の「ハイブリッド」スロット用の高速およびパフォーマンスの JTAG バウンダリ スキャン コントローラ、または PXI-Express ペリフェラル スロット用のプラグイン コントローラ。

このコントローラーは、要求の厳しい製造テスト アプリケーション、高速なシステム内フラッシュ メモリ プログラミング、プログラマブル ロジック コンフィギュレーションを対象としています。

JT37×7 は、特定の環境やアプリケーションに合わせて、さまざまな動作レベル (メモリ オプション) で利用できます。各ユニットには、4 TAP ポートのシグナル コンディショニング インターフェイスJT2147 QuadPOD が付属しています。

JT37×7 DataBlaster は、最大 40 MHz TCK の高速かつパフォーマンスのバウンダリ スキャン コントローラ ファミリです。これらのコントローラは、USB/E-net/FireWire インターフェイスを備えたベンチトップ ユニットとして利用できるほか、同じ 3 つのインターフェイスを備えた 19 インチ ラックマウント型機器としても提供され、PXI(e) および PCI(e) のプラグイン カードとしても提供されます。フォーマット。

詳細については、以下のフォーム ファクター、その他の画像、およびアプリケーションのタブを参照してください。

特徴

• 異なる PXI スロット
• 最大 4 つのバウンダリ スキャン チェーンを同時にテスト
• 高速デバイスプログラミング
• 大規模な並列プログラミングとテストのためのギャング コントローラー操作

高速かつパフォーマンスの高い 19 インチ ラックマウント シャーシ アセンブリ JTAG バウンダリ スキャン コントローラ、オプションで最大 256 個のデジタル I/O を備え、テスト アクセスとカバレッジを強化

このコントローラーは、要求の厳しい製造テスト アプリケーション、高速なシステム内フラッシュ メモリ プログラミング、プログラマブル ロジック コンフィギュレーションを対象としています。JT 37×7 は、特定の環境やアプリケーションに合わせて、さまざまな動作レベル (メモリ オプション) で利用できます。各ユニットには、4 TAP ポートのシグナル コンディショニング インターフェイスJT2147 QuadPOD が付属しています。

JT37×7 DataBlaster は、最大 40 MHz TCK の高速かつパフォーマンスのバウンダリ スキャン コントローラ ファミリです。これらのコントローラは、USB/E-net/FireWire インターフェイスを備えたベンチトップ ユニットとして利用できるほか、同じ 3 つのインターフェイスを備えた 19 インチ ラックマウント型機器としても提供され、PXI(e) および PCI(e) のプラグイン カードとしても提供されます。フォーマット。

詳細については、以下のフォーム ファクター、その他の画像、およびアプリケーションのタブを参照してください。

特徴

• 19インチラックマウント可能
• 最大 4 つのバウンダリ スキャン チェーンを同時にテスト
• 高速デバイスプログラミング
• オプションの 256 個のバウンダリ スキャン I/O により、テスト アクセスと最大カバレッジが強化されます。
• 3 つのシリアル インターフェイス: USB (1.1 および 2.0)、イーサネット、および Firewire。

アナログ出力モジュールを備えた JT5112 MIOS JTAG/バウンダリ スキャン混合信号 I/O は、現在の JTAG テスト システムに混合信号スティミュラスと測定機能を追加するだけです。

JT5112 は、耐衝撃性エンクロージャまたは器具埋め込みバージョン (/FXT) として利用可能で、すべての JT37xx シリーズのコントローラで動作します。最大 8 チャンネルで最大 30 V のアナログ値を測定およびソースします。最大 64 チャンネルのデジタル I/O。周波数測定機能とユーザーがプログラム可能な機能も備えています。接続は、ユニットの前面にある標準の 0.1 インチ IDC プラグを介して行われます。JTAG TAP と電源接続は背面にあります。

JTAGアナログ出力
JTAG / バウンダリースキャン I/O、

特徴

• 合計64チャンネル
• 56ch デジタル専用
• 16ch 周波数測定チャンネル
• 8ch アナログ I/O (合計 64 個から抜粋)
• 標準IEEE 1149.1制御インターフェース
• ベンチまたはフィクスチャ (/FXT) バージョンの選択。

JT2122/MPV DIOS (デジタル I/O スキャン モジュール) は、テスト アクセスをコネクタやテスト ポイントに拡張することで、カバレッジを拡大し、バウンダリ スキャン テストの診断解像度を向上させます。JT2122/MPV DIOS は、標準 DIMM-168 モジュールで最大 128 または 133 の I/O への双方向パラレル スキャン アクセスを提供します。

TAP 信号には、168 ピン モジュール コネクタまたは別の 10 ピン コネクタの「フィンガー」を介してアクセスできます。TAP 出力を使用して、別の DIOS モジュールまたはターゲット ボード上のスキャン チェーンにデイジーチェーン接続できます。

特徴

• 低価格
• テスト範囲を増やす
• 診断精度の向上

JT2128 DIOS モジュールは、障害検出率を高め、診断の解像度を向上させます。JT2128 は、3 つのセグメントにグループ化された最大 133 個の I/O チャネルへの双方向パラレル スキャン アクセスを提供し、それぞれを個別にバイパスできます。JT2128 は、ターゲット ボード、JT2702/DDC ブレークアウト モジュール、またはテスト フィクスチャ上の標準 168 ピン DIMM ソケットに簡単に挿入できるように設計されています。

特徴

• テストカバレッジを強化する
• 診断解像度の向上
• ターゲットボードまたはテストフィクスチャに簡単に挿入

JT2702 デジタル 256 チャネル JTAG I/O モジュール、

JT2702/DDC (デュアル DIMM キャリア) は、DIMM DIOS アクセサリ製品です。通常、スペースのオーバーヘッドを最小限に抑えながら多数のデジタル I/O チャネルが必要なカスタム テスト アダプタまたはフィクスチャで使用されます。

JT2702/DDC に 1 つまたは 2 つの JTAG Technologies社 DIMM/168 フォーマット DIOS ユニットを装着することにより、ユーザーは 128 または 256 チャネル (デジタル) I/O システムを構築できます。ユニットは直列にリンクすることもできるため、比較的低コストで 1000 IO を超えるチャネル数を容易に達成できます。チャネルへのアクセスは、8 つの標準 40 極 0.1 インチ IDC コネクタ経由で行われます。

特徴

• 低コストの I/O ソリューション
• モジュールごとに最大 256 チャネル
• デイジーチェーンモジュールでチャンネル数を増やす

JT2127/Flex STM メモリ ソケット テスターは、JTAG/バウンダリ スキャン コントローラーとサポート ソフトウェアを使用して、PCB に取り付けられた DIMM および SODIMM ソケットをテストするために特別に設計されたハードウェア アダプター ファミリです。JTAG/バウンダリ スキャン システムを使用するテスト エンジニアや生産エンジニアにとって、メモリ ソケットのテストは常に面倒な作業でした。UUT (テスト対象ユニット) 上のバウンダリ スキャン準拠のアクセス デバイスからメモリの書き込み/読み取りを作成できる場合でも、初期化プロセスが失敗し、診断情報がほとんど残らない場合があります。さらに、障害が DIMM モジュール自体にあるのか、それともソケットにあるのかもまだ不明です。JTAG Technologies社 の新しい JT2127-Flex システムを使用すると、正常なテスト インターフェイスからピンポイント診断が得られるため、ソケットが正しくはんだ付けされていることを確認できます。

特徴

• マスター DMU ユニットは複数の DIO およびアナログ チャネルを提供します
• 一般的な DIMM ソケットに簡単に接続できるフレックス アダプターが用意されています。
• アナログチャンネルの電源電圧のテスト

JT2135 を使用すると、TAP 信号をベースの JT2137 (クラシック ポッド) から最大 1 メートル延長し、ポッドの周波数仕様を完全に維持できます。JT2135 内のアクティブ回路は、長いインターフェイス ケーブルの TDO 信号の戻り時間を補償します。より長い拡張が必要な​​場合は、複数の JT 2135 を実装できます。

特徴

• ポッドからUUTまでのケーブル距離を延長します
• 信号の完全性を維持
• TDO信号パス遅延を補償します

JT2139 は、複数の計測器インターフェイスを利用する組み合わせテスト システムで使用するために設計された TAP 信号分離モジュールです。寄生容量の影響や不要なグランド ループを回避するために、JT2139 を使用して、JTAG Technologies社のバウンダリ スキャン コントローラを計測システムの残りの部分から完全に電気的に絶縁することができます。JT2139 アイソレータは、インサーキット テスタなどとバウンダリ スキャンを統合する JTAG Technologies社 の「Symphony」システムの標準コンポーネントです。

特徴

• TAP信号を電気的に絶縁
• シンプルなコンパクト設計
• 普遍的に適用可能

JT2154 は、National Semiconductor社の STA111 デバイスをベースにした実験ボードで、設計内でアドレス指定可能なブリッジ/マルチプレクサを利用し、「システム レベル」の JTAG アクセスをセットアップしたいと考えているユーザーを対象としています。このユニットは、高度にセグメント化された設計に対応するために、JTAG Technologies社の JTAGコントローラの TAP (テスト アクセス ポート) 数を拡張するための半永久的な設置にも使用できます。JTAG ProVision には ScanBridge タイプのデバイスのサポートが組み込まれているため、TAP の割り当てとデバイスのアドレス指定を簡単にセットアップできます。

特徴

• 1:3 TAP マルチプレクサとして使用
• システムレベル JTAG の実験用プラットフォーム
• 業界標準のSTA111チップを搭載

JT 2156 トレーニング ボードは、JTAG Technologies社 の ProVision および JTAG Live アプリケーション開発システムのユーザーが利用できるすべての最新機能とテスト技術をデモンストレーションするために考案されました。最新の ARM コア プロセッサだけでなく、この設計には Altera Cyclone FPGA、DDR メモリ、イーサネット PHY、およびいくつかの SPI および I2C 周辺部品も含まれています。JT2156 には、ProVision や JTAGLive Studio の詳細な機能を理解するための包括的な自習​​用マニュアルが付属しています。Altium ユーザーにとって、このデザインは、Nano ボードを現実的なカスタム デザインに適応させる方法の例としても役立ちます。