実装基板に関するアンケートのお願い
本アンケートは実装基板に関するアンケートです。
今後のお客様にとってより良い製品にするため、5分～10分ほどのアンケートにご協力ください。
アンケートにご協力いただいた方には、
JTAG Technologies社のノウハウ満載の小冊子 ３種類をダウンロードして頂けます。
バウンダリスキャンが収益に与える影響
製品のライフサイクル全体でテストの有効性を改善する
製品ライフサイクルでは、電子機器が、開発から試作、製造、そして最終的にはサービスとサポートの段階に至るまで、そのライフ
サイクルを経るにつれて、製品に対する責任も組織内に移行します。ある部門または分野から次の部門への異動ポイントでは、さまざまな問題によって大幅な遅延や中断が発生する可能性があります。
これに対して、バウンダリスキャンは、上記の問題の多くを解決するのに役立ちます。さらに、大きな経済的機械と品質の向上がこれらの利点に伴います。
JTAG/バウンダリスキャンとは？
IEEEスタンダード 1149.1のテストの仕組み
バウンダリスキャンは、現在および将来の最新の電子アセンブリにおけるテストおよびプログラミングの課題を克服するための優れたテクノロジです。 バウンダリスキャンの基本的な考え方は、デバイスの内部セルを使用する事で、テストするピン接続への外部プロービング アクセスが必要無いという事です。
バウダリスキャンを用いたテスト戦略！
製造現場における構造テストの重要性
製品設計の最初からよく考えられたテスト戦略を適用し、市場が提供する最高のソリューションとツールを使用してテストを生成することにより、測定可能なコスト削減を達成できます。 3つの異なる結果検出方法(検査技術、構造テスト、および機能テスト)を組み合わせて使用する事で、構造上の欠陥や機能上の欠陥を持つPCBAが工場から出荷されないように、欠陥をカバーする事ができます。
