隠れた不具合を迅速に検出するHASSテストの成功事例

隠れた不具合を迅速に検出するHASSテストの成功事例

TBG Solutions 様は、ピカリング社の18slot LXIシャーシと、PXIスイッチ・モジュールのソリューションを活用する事により、アビオニクス（航空機）用の基板の信頼性を評価するために利用される、HASS(Highly Accelerated Stress Screen)チャンバーを使ったテストを効率化しました。

HASSテスト内容

HASSチャンバー内にて電圧、抵抗、電流、静電容量、周波数、位相、動作を含む50,000のテストを実行しています。自動化された並行テストには、航空機のシミュレーション、ファームウェアのダウンロード、高精度の静電容量測定、およびLoad tripテストも含みます。

従来のGPIBとVXIを利用したHASSテスト装置の課題

1. アビオニクス・リモート入出力基板を同時にテストするソリューションの開発が急務でした。
2. チャンバーにて基板毎に複数のテストシーケンスを並行して実行しする必要がありました。
3. テストポイントが500ありましたが、以前のGPIBとVXIを利用したシステムでは結果を必要とする時間で得るためには、動作速度が遅すぎました。

LXIとPXIを利用したHASSテスト装置の特長

3基板の並行テストだけではなく、個々の単体のテスト時間も従来装置の180分から45分へ短縮することができました。また、作業者が障害の再現や、テストシーケンスを組めるような柔軟なシステムが構築できます。

HASSテスト装置で利用されているピカリング社のモジュール

1. 18slot LXIシャーシ(60-103B-001)
2. マトリクス・スイッチ(60-551-024)
3. 高電力スイッチ
4. RFスイッチ

※型番をクリックすると英国ピカリング社のページを開きます。