ソフトウェア

JTAG Technologies社のテストソフトウェア製品は、過去 25 年間以上にわたりバウンダリスキャンのテクノロジーを活用して継続的に開発してきました。開発当初からこの技術におけるリーディングカンパニーとして、今後もその役割を担っていきます。

JTAG社のバウンダリスキャンテストソフトウェアソリューションは、
プリント基板のライフサイクル全体にわたって使用できます。

設計における迅速なデバッグとテストのための使いやすいソリューション

プリント基板の生産および製造向けの最も包括的な自動テストソリューション

実装基板のテストおよびデバイスプログラミング

生産およびサービス・修理のための高速で信頼性の高いソリューション

製造テスト

JTAG ProVision Development Suite

JTAG ProVision バウンダリスキャン統合開発環境 (IDE) は、製品開発、生産、製造中に、実装基板およびシステム用のJTAGテスト / バウンダリスキャンテストおよびインシステムプログラミングアプリケーションを生成するために使用されるテストおよびプログラミングアプリケーション開発スイートです。

この統合されたプロフェッショナルな JTAGバウンダリスキャン開発環境 (IDE) ソフトウェアツールは完全に自動化されており、30 を超える異なる EDA および CAD/CAM システムからの設計データのインポートをサポートします。その他の主要なデータ入力としては、JTAG デバイスの BSDL (記述) モデルと、メモリ、バスロジック、その他のアクティブおよびパッシブ部品を含む数万種類の非 JTAG デバイスのモデルライブラリがあります。

使い方

ProVision バウンダリスキャンソフトウェアスイートを使用すると、上記の入力から構築されたプロジェクトデータベースを使用して、幅広いテストおよびプログラミングアプリケーションを迅速に生成できます。すべてのアプリケーションは、完成したテストシーケンスを製造施設やテスト施設に納品する前に、ProVision 環境内で最適化、検証、実行できます。ProVision には、生産準備が整ったテスト計画のためのバウンダリスキャンテストシーケンサーが組み込まれています。

ProVision の開発機能は、JTAG Technologies社の高度なテストカバレッジ分析ツールと緊密に統合されており、また、設計図やレイアウト用のJTAG Visualizer グラフィカル表示システムとも緊密に統合されています。これらのプロフェッショナルな JTAG ツールを使用すると、開発中のテストの完全性を迅速に評価し、リリース前に改善を加えることができます。

特徴

使用方法が簡単で、必要な知識は最小限です
日本語のアプリケーションウィザードで使いやすい
ボードテスト、システムテストからデバイスプログラムまで対応

利点

テスト自動生成機能によりテスト準備期間を短縮
Visualizer とバウンダリスキャン診断ツールへのシームレスなリンク
組み込みのフォルトカバレッジ、テストカバレッジ評価ツール
短期間のトレーニングで使用可能
世界中のJTAGテストに精通した専門のアプリケーションエンジニアがサポート

特徴

インフラストラクチャ、インターコネクト、Dot 6 インターコネクト、ロジッククラスター、ロジックコンポーネント、メモリ、フラッシュデバイス、シリアル SPROM、NAND フラッシュなどの完全なテストパターン自動生成ツール（ATPG）
複数のネットリストインポートによるマルチボードシステムをサポート
内蔵の TAP 接続メカニズムは IEEE 1149.1 ゲートウェイとブリッジチップをサポート
内蔵の「ドラッグアンドドロップ」基板間接続エディタ
再利用可能なモデルマッピングファイルとモデルエディターを備えています
JFT – 複雑なクラスターおよび混合信号デバイスのテスト用の Python ベースのスクリプトシステムが含まれています
高精度な障害検出率解析ツール（BSD）
テストの順序付けとレポート生成のための組み込みアプリケーションエグゼクティブ (AEX Manager)

アプリケーション

ProVision は、単一 PCB またはシステムのテスト用に設計されており、現在入手可能な最も完全なバウンダリスキャンアプリケーション開発ツールです。ProVision は、スキャンパスインフラストラクチャ、相互接続、IEEE std 1149.6 相互接続、メモリクラスタ、デジタルロジッククラスタ、ミックスドシグナルクラスタの構造テストをサポートします。ProVision を使用すると、CPLD、FPGA シリアル PROM、I2C および SPI デバイス、NANDFlash などのプログラミングアプリケーションを準備することもできます。組み込みのカバレッジ検査ツールを使用して全体的な障害カバレッジを評価し、結果を HTML および CSV 形式にエクスポートできます。

JTAG ProVision は継続的な改善サイクルの対象となります。新しい機能とデバイスモデルは定期的に導入され、サポートセクションを通じて、または主要な機能強化についてはアップグレードによって提供されます。

JTAG Provision は現在、以下の概要にあるすべてのメーカーのデバイスをサポートしています。ただし、まだサポートされていないデバイスをお持ちの場合は、ご連絡ください。モデルライブラリを更新します。

サポートされているデバイスのメーカー

0～C
3DPlus
Abilis
Abracon
Aeroflex
Agilent
AKM
Allegro
Alliance
Alpha&Omega
Altera
AMCC
AMD
AMIC
AMIS
AMS
Analog
Analogic
Anpec
Apacer
Aptina
Asix
Atheros
ATI
Atmel
Austin
Avago
Batron
Beckhoff
Bel
BH Electronics
BI
Bosch
Bourns
Broadcom
CAMD
Catalyst
CERN
Chiplus
Chrontel
Cincon
Cirrus
Clare
CML
Coilcraft
Conner-Winfield
Cortina

C – G
Cosmo
Crystek
CSR
CTS
Cypress
Dallas
Davicom
DDC
DDD
Delta
Device Engineering, Inc.
Diodes
E.C.O.
E2V
Ecliptek
ECS
Elmos
Elpida
EM
Emerson
EMLSI
EnergyMicro
Enpirion
Eon
Epson
Erg
Ericsson
ESMT
Everspin
Exar
Excel
Explore
Fairchild
Finisar
Firecomms
Firecron
FMI
Fordahl
Fortasa
Fox
Freescale
FTDI
Fujitsu
Gaia
Genesys
Gennum

G – M
Golledge
Greenliant
GSI
HALO
Hamlin
Hitachi
Hittite
HMP
Holt
Honeywell
Hynix
I&C
IC+
ICmic
ICS
ID-MOS
IDT
IMI
Infineon
Inova
Inrevium
Intel
Intersil
InvenSense
IQD
IR
ISSI
ITE
Jauch
KDS
Kionix
Lantiq
Lantronix
Lapis
Lattice
Legend
Lesswire
Lineage
Lite-On
Littelfuse
Logic Devices
LS Research
LSI
LSI-CSI
LTC
M/A-COM

M – P
Macroblock
Macronix
Marvell
Maxim
Maxwell
MCC
Measurement Specialties
Micrel
Micro Crystal
Microchip
Micron
Microsemi
Milandr
Mindspeed
Mini-Circuits
Mitsubishi
Molex
MPS
msystems
MtronPTI
Murata
Music
Nanya
National
NEC
Neosid
NetPower
NexFlash
NHi
NI
NJRC
NKK Switches
Nordic
Numonyx
NVE
NXP
Oki
Omron
ON
OSRAM
Panasonic
Peregrine
Pericom
PhaseLink
Philips
Phoenix Contact

P – S
Pletronics
PLX
PMC-Sierra
PnpNetwork
Potato
Power-One
Premier
Profichip
ProTek
PTC
Pulse
Qimonda
Rakon
Ramtron
Realtek
Recom
Renesas
Richtek
Ricoh
Rohm
Rood
RSG
Samsung
Sandisk
Sanyo
Seiko
Semtech
Sensirion
Sharp
Siemens
SiI
SiLabs
Silicon7
SiliconMotion
Simtek
Sipex
SiTime
Skyworks
SmarDTV
SMSC
Solid State Optronics
Sony
Spansion
SST
ST
ST-Ericsson

S – Z
STEC
Summit
Supertex
SynQor
Taitien
TE Connectivity
Teledyne
Telefunken
Temex
Teridian
THine
TI
Torex
Toshiba
Traco
Trinamic
TriQuint
TrueLight
Tyco
u-blox
Ubicom
Vectron
Vicor
Vishay
Vitesse
VLSI
VPT
VTI
White
Winbond
WIZnet
Wolfson
Würth
XFMRS
Xicor
Xilinx
XP
Zarlink
Zetex
Zettler
Zilog
ZMD

モデル

ProVision は、非バウンダリスキャンデバイス向けに 30万種類を超えるモデルで提供されています

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JFT – JTAG ファンクションテスト

JTAG ファンクションテストシステム (JFT) は、バウンダリスキャンテスト (シングルピンネットのテスト) と、Python、National Instruments社 LabVIEW、および Microsoft社でのプログラミングアクティビティをサポートする一連のソフトウェアモジュールを備えた、使いやすい DLL アプリケーションプログラムインターフェイス (API) です。

JFTを使用すると、ユーザーは JTAGテスト / バウンダリスキャンテストアプリケーションをWindowsの標準開発環境の.Net、またはPythonスクリプト言語、LabVIEW（バウンダリスキャンVI）で作成できます。JFTでは、周辺回路のテストをドライバー/センサーピンの設定を、変数またはレジスタビットとして宣言されたピンのグループを制御してプログラムすることができます。

これらのアプリケーションは通常、ロジックデバイスまたはミックスドシグナルクラスターのテストに使用され、再利用可能なテスト「モジュール」に変換することもできます。JFT を JTAG CoreCommander（コアコマンダー）エミュレーションテストモジュールと組み合わせると、組み込みデバイス周辺機器 (ADC、メモリコントローラーなど) を介してテストを実行するための効果的で低コストのシステムが得られます。

特徴

ロジックデバイスとメモリのテストを作成する
取得した変数に対して限界テストを実行する
オプションの CoreCommander を使用してデバイス内部にアクセスする
I2C、SPI通信およびサンプル用のライブラリが含まれています

利点

多彩なテスト開発環境
一般的なテスト開発 API によってサポートされています
充実したバウンダリスキャン制御機能を搭載
マイクロプロセッサコアエミュレーションテストのオプション

アプリケーション

完全なテストプログラム自動生成（ATPG）を使用せずに、バウンダリスキャン機能を必要とする低コストのテスト開発。JTAG インターフェイスを高レベルで使用するための基本要件を持つテストシステム開発者およびインテグレータ向け。

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JTAG Visualizer（ビジュアライザー）

JTAG Visualizer は、PCB 回路図とレイアウトのための高度なグラフィカルビューアおよびレイアウトビューアおよびデータ管理システムです。Visualizer は、ProVision アプリケーション開発プラットフォームなどのバウンダリスキャン製品の JTAG Technologies ファミリとシームレスに統合します。

さまざまな CAD、CAM、EDA ツールからの PCB データを受け入れます。設計では、Visualizer は設計上の障害検出率をグラフィカルに表示できるようにすることで、DFT (テスト容易化設計) フィードバックをユーザーに提供します。製造およびテストでは、Visualizer を使用して、レイアウトビューと回路図ビューの両方で欠陥のあるネット (短絡、オープン、スタックアットなど) を強調表示できます。Visualizer は、回路図とレイアウトの間のクロスプローブや、レイアウトの下側の「フリップ」ビューモードもサポートしています。

特徴

PCB レイアウトと回路図ビューをサポート
多数の入力データソース
スタンドアロンまたは JTAG ProVision へのプラグイン
回路図にネットごとのカバレッジを表示
診断データをレイアウトで表示する

利点

設計サイクルの早い段階で、色分けされた障害検出データを表示および印刷します
図研(Zuken)、シーメンスEDA(CIEMENS EDA, Mentor)、ケイデンス(Cadence)、アルティウム(Altium) などのほとんどの EDA フォーマットに対応しています
レイアウトデータにはCAM形式も使用可能(FabMaster ODB++など)
修理ややり直しの際の障害発見を簡素化します

アプリケーション

回路図に Visualizer を使用して、設計サイクルの初期段階でバウンダリスキャンのテストカバレッジ（テスト範囲）を評価します。補完的なテストシステム (機能、ICT、フライングプローブなど) からのテストカバレッジデータを追加し、Visualizer を通じて総合評価を表示します。実稼働テストシステムのレイアウトに Visualizer を使用して、バウンダリスキャン診断レポーター (BSD) からのデータを強調表示します。Active-X バージョンも含まれているため、Visualizer をオーダーメイドのテスト実行プログラムに統合できます。

特徴

基板レイアウトと回路図をすぐに確認できます。

JTAG アクセスとデザインのテスト容易性
テストプログラムの障害カバレッジ
修理を迅速化するために診断された障害の場所
すべての主要な EDA ツールと互換性があります
図研(Zuken)社、シーメンスEDA(CIEMENS EDA,Valor, Mentor)社、ケイデンス(Cadence)社、アルティウム(Altium)社など、ほとんどのメーカーからの回路図とレイアウトデータをインポートして表示します。
ProVision ネットリストエクスプローラー、フォールトカバレッジエクスプローラー、バウンダリースキャン診断レポーターなどから Vizualizer レイアウトまたは回路図に直接リンクします。
Active-X バージョンを使用して、Visualizer の機能を独自のオーダーメイドのテスト実行に追加します
ネットカラーハイライトなどの表示モードを完全にカスタマイズ可能。
コンポーネントおよびネットレベルでのレイアウトと回路図間のクロスプローブ。

CTPG_M

ProVision で高速メモリクラスタと接続クラスタテストを構築するために必要なのは、CTPG_M と、デバイスの内部 IP との通信を可能にするサポート CoreCommander モジュールを使用した高速メモリクラスタと接続テストの構築だけです。

DDRメモリおよびその他のメモリタイプを実際のシステム速度でテストしたいという要望の高まりを受けて、JTAG Technologies社は ProVision 用の新しい CoreCommander Test Program Generator (CTPG_M) を開発しました。

CTPG_M は、バウンダリスキャンレジスタの欠如 (一般に小型 CPU)、すべてのメモリ信号 (特に同期) への不十分なアクセスなど、従来のバウンダリスキャン (IEEE Std 1149.1) 技術を使用したメモリクラスタのテストに関連する問題の多くを克服します。メモリクロック）、またシステムのフルスピードで動作する書き込み/読み取りサイクルを使用してテストすることもできません。

組み込みエミュレーション/デバッグロジックと組み込みメモリコントローラーの機能を利用することで、上記の問題を克服するテストを自動的に開発でき、より迅速かつ効果的なテストが可能になります。このシステムは、マイクロプロセッサに組み込まれているか、FPGA にダウンロードされている既存のデバッグ/エミュレーションサポートオプションを利用します (CoreCommander を参照)。CTPG_M は、JTAG ProVision ソフトウェア (CD 23 以降) のオプションとして現在利用可能です。すべての JTAG Technologies社のハードウェアおよび診断システムと完全な互換性があり、テストエンジニアや生産技術者など向けにピンレベルの診断レポートを作成できます。

したがって、テスト結果は、JTAG Technologies社 Visualizer ツールによって提供されるレイアウトビューまたは回路図ビューでも表示できます。生産技術者は、テスト結果をVisualizer ツールによって提供されるレイアウトビューまたは回路図ビューで迅速に確認できます。

特徴

メモリテストの高速化
機能テストの改善
寄生インピーダンス障害を捕捉
ボードテストの故障検出率を向上
既存のハードウェアと診断ソフトウェアを使用

プロダクションスタンドアロン

JTAG Technologies社の「クラシック」プロダクションスタンドアロンパッケージ (PSA) は、長年にわたり、独立したバウンダリスキャンテストやデバイスプログラミングステーションが必要な場合に、CEM および OEM 工場で運用される標準実行システムとして使用されてきました。当社の「クラシック」開発ツールで生成されたアプリケーションをサポートするために 1990 年代後半に導入された PSA システムは、現在でも数千台が使用されています。ただし、新しいプロジェクトの場合は、通常、ProVision Platform ランタイムシステムが推奨されます。

PSA を使用すると、テストエンジニアは、if、then、else、および goto 機能を使用して、組み込みの AEX (Application EXecutive) マネージャーでアプリケーションのシーケンスを構築できます。シーケンスビルダーには、DOS/Win コマンドライン呼び出しによる追加機能の追加、シリアル番号が記録されたテストレポートの作成、データベースへのテスト結果のエクスポートなどもできます。PSA には、過去および現在のすべての JTAG Technologies社の JTAGコントローラハードウェア用のドライバが含まれています。

特徴

自己完結型のファクトリー/ランタイムテストソフトウェア
すべてのバウンダリスキャンテストおよびプログラミングアプリケーションを実行する
フォールトレポーター (TTR) およびテストシーケンスレポートジェネレーターを含む

利点

実装基板テスト（PCBテスト）とデバイスプログラミングアプリケーションをシーケンスする単一のユーザーインターフェイス
レポートジェネレーターとデータエクスポート機能が含まれています
テスト対象（DUT、UUT）のシリアル番号とバッチ番号によって記録される結果
システムコール機能が含まれており、そうでない場合はフロー制御に進みます。

アプリケーション

JTAG Production Stand-Alone (PSA) システムは、ユーザーが既存の AEX マネージャーシーケンスを開いたり、一連のテストアプリケーションや ISP アプリケーションから新しいシーケンスを作成したりできる、低コストのファクトリーランタイムソリューションとして理想的です。ユーザー命令ポップアップに条件付き分岐命令 (if、then else、goto など) を追加することにより、PSA はほとんどのテストシーケンス要件を満たすことができます。

特徴

既存の AEX テストシーケンスを開いて実行し、新しい AEX シーケンスを作成します
JTAG テクノロジーのバウンダリスキャン診断へのシームレスなリンク
オペレーター、エンジニア、シーケンス開発者の入場はパスワードで制限されています
システムコール機能により外部機器の制御やデータ処理が可能

JTAG ProVision プラットフォーム

完全なProVisionシステムでは、統合された JTAG / バウンダリスキャンテストおよびプログラミングソフトウェアアプリケーションの開発と実行が可能ですが、生産および製造内では、同じ使い慣れたユーザーインターフェイスを機能を削減したバージョンで使用することができます。「ProVision プラットフォーム」は、テスト実行のみ、フラッシュインシステムプログラミング ( ISP ) のみ、PLD ISP のみ、またはもちろんこれらの任意の組み合わせで使用できます。

各 ProVision プラットフォームライセンスには、ProVision 開発アーカイブのインポート、アプリケーションの実行、使い慣れた TTR (真理値表レポート) 形式でのテスト結果のレビュー、およびオプションで BSD (診断) または Visualizer (グラフィカルビューア) を実行する機能が含まれています。このシステムには、アプリケーションシーケンス用のバウンダリスキャンテストシーケンサ、当社の評価の高い AEX (アプリケーションエグゼクティブ) マネージャも含まれており、これ自体には、より複雑なテストおよびプログラミングシーケンスを構築するための if、then、else、goto 構造が含まれており、レポート生成も可能です。結果はシリアル番号ごとに保存されます。

特徴

使いやすいテストおよび ISP ランタイムオプション
AEX Manager テストエグゼクティブを含む
フル機能の真理値表レポーター (TTR) が含まれています

利点

JTAG ProVision 開発者プラットフォームからの出力と完全な互換性
PSA Classic シーケンスファイル (CD18 以降) をインポートします。
完全なレポート生成およびエクスポート機能が含まれています
シーケンス開発者、エンジニア、オペレーターのパスワード入力
工場内でのバウンダリスキャンへの低コストのエントリー

アプリケーション

JTAG ProVision プラットフォームは、ユーザーが既存の ProVision プロジェクトやプロジェクトアーカイブを開くことを可能にする低コストのランタイムソリューションとして理想的です。内蔵の AEX シーケンサーを使用すると、テストエンジニアはバウンダリスキャンテストのシーケンスを構築し、アプリケーションをプログラミングできます。ユーザー命令ポップアップに条件分岐命令 (if、then else、goto など) を追加することにより、ProVision プラットフォームはほとんどのテストシーケンス要件を満たすことができます。ネットワークライセンスとしての ProVision プラットフォームは、ProVision の完全な「シート」の生成面へのアクセスも提供し、低コストで効果的に 2 番目のソフトウェアシートを提供します。

特徴

既存の ProVision プロジェクトを開いて実行する
AEX シーケンスの作成とエクスポート
JTAG Visualizer およびバウンダリスキャン診断へのシームレスなリンク
オペレーターの入場をパスワードで制限
システムコール機能により外部機器の制御やデータ処理が可能

デバイス

サポートされているデバイスのメーカー

コアコマンダー

CoreCommander は、高レベルの GUI を介してインタラクティブな JTAG ハードウェアデバッグツールとして使用できます。この JTAG インターフェイスでは、レジスタアクセスコマンドまたはフルメモリの読み取りおよび書き込みを選択し、結果を直接確認しながら実行できます。コマンドのシーケンスは対話型ウィンドウ内で再生したり、Python エディターにエクスポートしたりできます。インタラクティブな使用法は、設計および (フィールド) サービスにおけるハードウェアの立ち上げおよびデバッグ中に特に価値があります。

多くの IC には JTAG (IEEE Std. 1149.1) バウンダリスキャンレジスタ (BSR) が装備されていますが、かなりの数のマイクロプロセッサおよび DSP には BSR が不足しているか、BSR が存在しない場合もあります。CoreCommander Micro は、プロセッサのオンチップデバッグモードを使用してポートおよび組み込み周辺コントローラにアクセスし、「カーネル中心」のテストを促進します。同様に、今日のフィールドプログラマブルゲートアレイ (FPGA) の場合、テストエンジニアは JTAG インターフェイスからゲートアレイ自体のリソースに「ブリッジ」できます。当社の CoreCommander FPGA 製品は、当社の JTAG ハードウェアがさまざまなバスインターフェイス (Wishbone、CoreConnect、AXI、Avalon など) を介して組み込み IP コアを制御できるようにする「トランスレータ」インターフェイスを実装しています。

特徴

コアデバッグアクセスまたは組み込みロジックを介したプロセッサおよび FPGA の JTAG 制御
最も人気のあるコアとFPGAをサポート
「高速」クラスターテストとフラッシュアプリケーションを作成する

利点

バウンダリスキャンレジスタの欠陥を克服
IEEE Std 1149.x に準拠していないデバイスでも動作します。
最も一般的なプロセッサコアと FPGA をサポート (ARM PPC など)
テストスクリプト用のPythonと互換性のあるコード
他のソリューションと比較して低コスト。

アプリケーション

CoreCommander Micro ルーチンを使用すると、IEEE std 1149.1 (従来のバウンダリスキャン) テストアクセスオプションが少量しかない、またはまったくないアプリケーションのテストカバレッジを高めることができます。ターゲットプロセッサのコアを直接コントロールすることにより、ユーザーはコンフィギュレーションレジスタおよび内部または外部メモリ空間に書き込みまたは読み取りを行うことができます。CoreCommander FPGA は、デバイスの構成済み機能の一部を形成する可能性がある既存の IP を活用して動作します。DDR メモリコントローラーなどの要素は、トランスレーターブロックや Avalon や Wishbone などのバスシステムを介して JTAG アクセスを介して「コマンド」できるようになりました。

仕様

JTAG Technologies社の JTAGコントローラをサポート
コアの書き込み/読み取りを実行するための使いやすい対話型 GUI
プロセッサ関数には、「EnterDebug」、「ExitDebug」、「LoadMemory」、「SaveMemory」、「WritePC」、「ReadPC」が含まれます。
FPGA ユーザーは、標準バス Avalon、AMBA、CoreConnect、および Wishbone を介した IP アクセスの恩恵を受けます
サポートされるマイクロコアは次のとおりです: ARM 7/9/11/Cortex M、Freescale PPC、X-scale PXA27x/27x/3xx、TI C2000、Microchip PIC32 & ST C166
JFT-Python JTAG/バウンダリスキャンルーチンと連携して動作します。

デバイス

Vendor

Microprocessor (cores)

Analog Devices

Blackfin BF5xx
Blackfin BF60x

Arm

ARM7
ARM9
ARM11
ARM – Cortex-A/R (For A5,A7,A8,A9,A15,R4,R5,R7)
ARM – Cortex-M (For M0,M1,M3,M4,M7, M0-SWD,M1-SWD,M3-SWD,M4-SWD,M7-SWD)

Infineon

C166
Tricore

Intel (Altera)

JTAG Technologies Translator for FPGAs

Marvell

XSCALE – PXA25x / PXA26x
XSCALE – PXA3xx
XSCALE – PXA27x / IXP4xx

Microchip

PIC32

NXP (Freescale)

Coldfire
MPC5xx / MPC8xx
MPC5xxx

Renesas

RH850/D1x / RH850/f1x

STMicroelectronics

SPC5

Texas Instruments

C28x (TMS320 C2000 series)

Xilinx

JTAG Technologies Translator for FPGAs

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生産用インテグレーションパッケージ

JTAG Technologies社 Production Integration Packages（PIP）を使用すると、ユーザーは「サードパーティ」環境から JTAG ボードテストおよびプログラミングアプリケーションの全範囲を実行できます。National Instruments社の LabView や TestStand などのテスト指向のフロントエンドに加えて、Microsoft社などのさまざまな汎用コンパイラのサポートも提供します。

C/C++ の場合は PIP/DLL があり、Visual C、Visual Basic などの .NET Framework システムの場合は PIP/.NET が提供され、古い Visual Basic コンパイラの場合は PIP/VB もあります。PIP/EXE と呼ばれる DOS/Win コマンドライン実行パッケージも用意しています。各 PIP パッケージには、IEEE Std.　1149.xに対応した JTAG社 JTAGコントローラー（バウンダリスキャンコントローラー） DataBlaster、Explorer、または新しい MIOS (混合信号) 上のボードをテストおよびプログラムするためのアプリケーションをロードおよび起動するための完全な機能が含まれています。

特徴

PIP を使用して、選択した言語でオーダーメイドの JTAG シーケンスを作成します
サードパーティのテスト管理者のサポート (LabView、TestStand、ATEasy など)
ほとんどの高級言語 (VB、C++、.NET) のオプション

利点

バウンダリスキャンアプリケーションをオーダーメイドのテストエグゼクティブにシームレスに統合
複数のプログラミング言語をサポート
リクエストに応じて追加の統合オプションも利用可能
確立されたテストシステムと連携します

アプリケーション

カスタムテストやプログラミングアプリケーションでの使用、または既存の (機能) テストプラットフォームへの統合に最適です。独自の要件/仕様に合わせて、低コストのスタンドアロンテストシステムを作成します。

特徴

あらゆる種類の JTAG コントローラーと DIOS ハードウェアをサポート
大規模なテストとプログラミングのための複数の (DataBlaster) コントローラーのサポートが含まれています
ドキュメントとコード例が付属

ナショナルインスツルメンツ社のサポート

National Instruments社との長年にわたる提携パートナーとして、JTAG Technologies社は、National Instruments社の制御およびテスト実行パッケージ (TestStand、LabView、LabWindows/CVi) に幅広い高レベルの統合オプションを提供できます。PIP (Production Integration Packages) ファミリの一部として、ナショナルインスツルメンツのサポートオプションにより、お客様はほぼ 20 年間、高品質のバウンダリスキャンアプリケーションを自社のテストおよびデバイスプログラミングシステムにシームレスかつ確実に統合できるようになりました。

特徴

LabView、TestStand、LabWindows をサポート
印刷された完全なドキュメントが提供されます
テストとプログラミングのサンプルが含まれています

利点

他のテストおよびプロセスステップとのシームレスな統合
混合信号 (アナログ <=> デジタル) テストアプリケーションのセットアップが簡単に可能
ユーザーはオーダーメイドの GUI とシーケンスオプションを作成します
業界標準の互換性
JTAG ソフトウェアの専門家による完全なバックアップとメンテナンス

アプリケーション

ナショナルインスツルメンツ社のソフトウェアツールは、エレクトロニクス業界内で、設計環境での実験（研究）セットアップや生産環境での機能テストシステムを作成するために一般的に使用されています。JTAG Technologies社の製造統合パッケージは、バウンダリスキャンテストやデバイスプログラミングアプリケーションをこれらのセットアップに組み込むための、非常にシンプルで高レベルな方法を提供します。バウンダリスキャンのデジタルテスト能力をアナログ測定器や周辺テスト機器と併用することで、エンジニアはバウンダリスキャンを越えてミックスドシグナルテスト（アナログ・デジタル混在テスト）に簡単に取り組むことができます。

特徴

LabView の PIP/LV と VI セットファミリーの統合
LabWindows 用の PIP/LW と一連の機能パネルの統合
カスタムステップタイプ（付属）を使用した TestStand 統合用の PIP/TS

BSD (テスト診断)

BSD テスト診断ソフトウェアを開発者または工場のランタイムシステムに追加すると、ネットのブリッジ (短絡)、オープンピン、オープンネット、さらにはケーブルアセンブリ内で発生する可能性のある「ねじれ」接続などの障害の位置をさらに改善できます。 BSD テスト診断は、ピンレベル情報を含む詳細な診断情報からテキストで障害状況を報告し、複数の障害状態を簡単に解釈できます。

ファンクションロジック (クラスターテスト) 用に作成できる障害ディクショナリを使用することで、テスト診断パッケージに追加の機能を追加できます。これらは、機能ロジックブロックの奥深くで発生する可能性のある障害を正確に特定するのに役立ちます。テスト診断は、ProVision 開発者スイートおよび PIP (Production Integration Packages) に含まれる TTR (真理値表レポーターシステム) を理想的に補完します。BSD テスト診断は、サードパーティ ATE システム上で JTAG アプリケーションを実行できるようにするために開発されたランタイムシステムの Symphony ファミリの標準機能です。

特徴

テストデータからのテキスト表示による障害レポート
複数のエラーを同時に処理します
障害の性質とピン/ネット参照を提供します

利点

テスト失敗の正確な診断を提供して、再テスト/修復を迅速化します。
複数の障害を同時に処理します
SPC分析用にデータをテーブル形式でエクスポートします
Visualizer ビューアで表示するために障害データをエクスポートします

アプリケーション

生産システムや再加工および修理ステーションへの組み込み作業が必要なく、理想的に追加でき、ネットワーク環境では、BSD を複数の実行システム間で共有できるため、コストが削減されます。

特徴

カスタムクラスターテスト診断用の「障害ディクショナリ」機能が含まれています
完全なピン番号とネット名情報を使用して障害を説明します。
ピンの固着、ネットの固着、ブリッジング (短絡)、およびネットのツイスト (ラインの交換) 障害を区別します。

生産デバイスのプログラミング

JTAG ProVision 開発スイート

JTAG ProVision バウンダリスキャン統合開発環境 (IDE) は、製品開発、生産、製造中に、組み立てられた PCB およびシステム用のバウンダリスキャンテストおよびインシステムプログラミングアプリケーションを生成するために使用されるテストおよびプログラミングアプリケーション開発スイートです。この統合されたプロフェッショナルな JTAG バウンダリスキャン開発環境 (IDE) ソフトウェアツールは完全に自動化されており、30種類を超える異なる EDA および CAD/CAM システムからの設計データのインポートをサポートします。その他の主要なデータ入力としては、JTAG デバイスの BSDL (記述) モデルと、メモリ、バスロジック、その他のアクティブおよびパッシブ部品を含む30万種類を超える非 JTAG デバイスを記述する大規模なモデルライブラリがあります。

使い方

特徴

学習が簡単で、必要な知識は最小限です
組み込みのアプリケーションウィザードで使いやすい
ボードテスト、システムテストを作成し、デバイスをプログラムします

利点

他の JTAG ツールとの下位互換性
Visualizer とバウンダリスキャン診断へのシームレスなリンク
組み込みの障害検出検査官評価ツール
最小限のトレーニングが必要
工場で訓練を受けたアプリケーションエンジニアを通じて世界中でサポートされています

特徴

インフラストラクチャ、インターコネクト、ドット 6 インターコネクト、ロジッククラスター、ロジックコンポーネント、メモリ、フラッシュデバイス、シリアル SPROM、NAND フラッシュなどの完全な ATPG
複数のネットリストインポートによるマルチボードシステムをサポート
内蔵の TAP 接続メカニズムは IEEE 1149.1 ゲートウェイとブリッジチップをサポートします
内蔵の「ドラッグアンドドロップ」基板間接続エディタ
再利用可能なモデルマッピングファイルとモデルエディターを備えています
JFT – 複雑なクラスターおよび混合信号デバイスのテスト用の Python ベースのスクリプトシステムが含まれています
高精度障害検出率解析ツールを内蔵
テストの順序付けとレポート生成のための組み込みアプリケーションエグゼクティブ (AEX Manager)

アプリケーション

ProVision は、単一 PCB またはシステムのテスト用に設計されており、現在入手可能な最も完全なバウンダリスキャンアプリケーション開発ツールです。ProVision は、スキャンパスインフラストラクチャ、相互接続、IEEE std 1149.6 相互接続、メモリクラスタ、デジタルロジッククラスタ、混合信号クラスタの構造テストをサポートします。ProVision を使用すると、CPLD、FPGA シリアル PROM、I2C および SPI デバイス、NANDFlash などのプログラミングアプリケーションを準備することもできます。組み込みのカバレッジ検査ツールを使用して全体的な障害カバレッジを評価し、結果を HTML および CSV 形式にエクスポートできます。

JTAG ProVision は継続的な改善サイクルの対象となります。新しい機能とデバイスモデルは定期的に導入され、サポートセクションを通じて、または主要な機能強化については CD 配布によって配布されます。

サポートされているデバイスのメーカー

モデル

ProVision は、非バウンダリスキャンデバイス向けに 30万種類を超えるモデルで提供されています

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パワーマネジメントバス (PMBusProg)

PMBus は、物理層として SMBus (システム管理バス) を使用して、電力変換デバイス間の通信を定義する単純なプロトコルです。SMBus は I2C に基づいており、フォールトトレラント機能とエラー修正機能が追加されています。

標準の PMBus セットアップでは、PMBus スレーブと通信するために別個のインターフェイスヘッダーまたは専用のマスターデバイスを使用する必要があります。ただし、PMBusProg を使用すると、既存の JTAG/バウンダリスキャンドライバ/センサーピンの電力を利用し、これらを使用して PMBus マスターを合成できます。

特徴

JTAG を使用して PMbus デバイスをプログラミングするための高速で便利なソリューション
ローカル JTAG (バウンダリスキャン) 準拠デバイス経由で PMBus ピンにアクセス
標準の利用可能な JTAG コントローラーを使用
既存のテスト/プログラミング体制に簡単に追加 (例: NI LabView ソフトウェアを使用)

利点

PMBusプログラミングアプリケーションの自動生成
標準の JTAG 開発者ソフトウェア (ProVision) と標準の JTAG コントローラーハードウェアを使用
設備コストの削減
個別の PMBus ヘッダーの必要性を排除

アプリケーション

追加のハードウェアオーバーヘッドを発生させずに、PMBus デバイスプログラミングを使用して JTAG ステーションのプログラミング機能を拡張します。

特徴

Linear Technology社の LTC3880、LTC3880-1、および LTC2978 部品をサポートします。
Linear Technology社の LTPowerPlay ツールからデータファイルをインポートします
JT 3710、JT 3717、および JT 3727 コントローラーで実行し、約 3 秒でデバイスをプログラムします

プロダクションスタンドアロン

PSA を使用すると、テストエンジニアは、if、then、else、および goto 機能を使用して、組み込みの AEX (Application EXecutive) マネージャーでアプリケーションのシーケンスを構築できます。シーケンスビルダーには、DOS/Win コマンドライン呼び出しによる追加機能の追加、シリアル番号が記録されたテストレポートの作成、データベースへのテスト結果のエクスポートなどもできます。PSA には、過去および現在のすべての JTAG コントローラハードウェア用のドライバが含まれています。

特徴

自己完結型のファクトリー/ランタイムテストソフトウェア
すべてのバウンダリスキャンテストおよびプログラミングアプリケーションを実行する
フォールトレポーター (TTR) およびテストシーケンスレポートジェネレーターを含む

利点

PCB テストとデバイスプログラミングアプリケーションをシーケンスする単一のユーザーインターフェイス
レポートジェネレーターとデータエクスポート機能が含まれています
UUT のシリアル番号とバッチ番号によって記録される結果
システムコール機能が含まれており、そうでない場合はフロー制御に進みます。

アプリケーション

特徴

既存の AEX テストシーケンスを開いて実行し、新しい AEX シーケンスを作成します
JTAG テクノロジーのバウンダリスキャン診断へのシームレスなリンク
オペレーター、エンジニア、シーケンス開発者の入場はパスワードで制限されています
システムコール機能により外部機器の制御やデータ処理が可能

メモリ（NOR、NAND、シリアル）

JTAG ProVision Flash を使用すると、サポートされているさまざまなデータ形式を使用して、NAND やシリアルデバイスも含む数千の異なるフラッシュタイプをプログラムできます。フラッシュメモリプログラミングアプリケーションには、消去、ブランクチェック、プログラム、ベリファイ、ロック、ロック解除、read_id が含まれており、20,000 を超える部品に対して自動的に作成できます。一般に、フラッシュインシステムプログラミング (ISP) アプリケーションは、書き込み/読み取りサイクルを制御するために IEEE 1149.1 パーツの組み込みバウンダリスキャンレジスタを利用しますが、プログラマブルロジックがフラッシュと直接インターフェイスする場合、オーダーメイドの IP アプリケーションを使用してデータスループットを大幅に向上させることができます。。

JTAG ProVision Flash は、ISP (インシステムプログラミング) アプリケーションを開発するための最も簡単で最速のツールスイートです。複数のチェーン、マルチボード設計、再利用可能なプロジェクトデータベースなど、比類のない柔軟性を提供します。

特徴

デバイスのプログラミングのみに最適
JTAG ポートの有無にかかわらず、数千の部品をサポート
必要に応じて完全な ProVision にアップグレード

利点

マルチベンダーのデバイスプログラミング環境
学びやすく、使いやすい
フラッシュ (NOR、シリアル、NAND) をサポート

特徴

フラッシュプログラミング

AutoWrite™、Ready/Busy、および VPP サポートを備えた拡張スループットテクノロジー™
NAND および NOR フラッシュデバイスのブランクチェック、読み取り ID、消去、プログラム、検証を含む全機能
カスタム IP により、プログラマブルロジック経由でフラッシュにアクセスする場合のスループットがさらに高速になります。

アプリケーション

テスト理念にはまだバウンダリスキャンテストが含まれていない可能性がありますが、それでも JTAG を使用してフラッシュデバイス、I2C、および SPI バスシリアル PROM をプログラムする必要があります。ProVision for Flash を使用して、これらのアクティビティをサポートし、組み込み AEX シーケンサーで使用したり、他の実行プラットフォームにエクスポートしたりできるデバイスプログラミングシーケンスを作成します。

デバイス

サポートされているデバイスのメーカー

PLD (SVF、STAPL、ISC IEEE 1532)

現在のほとんどすべてのプログラマブルロジックデバイス (CPLD および FPGA) は、IEEE std 1149.1 インターフェイスポートを利用して独自のコンフィギュレーション回路にアクセスしています。2001 年までは、一般的な SVF (Serial Vector Format) がこれらのパーツにデータをストリーミングするための事実上の標準と考えられており、SVF は今日でも人気が続いています。

しかし、IC ベンダーがデバイスの「インシステム」プログラミングに最適なデータ形式/言語を作成するために競争するにつれて、IEEE 標準委員会が設計全体に適用できる普遍的な標準を承認するまで、他の標準 (JAM、STAPL、XSVF など) が登場しました。複数のベンダーのデバイスを搭載しています。IEEE Std 1532 は 2001 年に最終的に承認され、その規格の一部として、準拠したプログラマブルパーツ用の拡張 BSDL モデルとともに、ユニバーサルデータ形式「ISC」が導入されました。

JTAG プログラミングを備えた最初の PLD が導入されて以来、JTAG Technologies社はメーカーがすべてのベンダー部品を高速でプログラムできるようにするタイムリーなサポートパッケージを開発してきました。現在、そのサポートは JTAG ProVision、PIP、および Symphony テスター統合パッケージを通じて提供されています。

特徴

すべての CPLD および FPGA ベンダーのユニバーサルサポート
SVF、JAM/STAPL、ISC、および JEDEC ファイルを処理します
Intel社 (Altera社)、Actel社、Lattice社、AMD社 (Xilinx社) などでよく使用されます。

利点

事前にプログラムされた部品の在庫を削減するのに役立ちます
テストとデバイスのプログラミング/構成の両方を統合システムで実行可能
構造テストと機能テストの間のリンクを提供します
テスト IP コアのプログラムに利用可能

アプリケーション

デバイスインシステムプログラムは、JTAG/バウンダリスキャンテクノロジの重要なアプリケーションです。ICT 段階での構造テストのアドオンとして、または機能テストの前段階として使用します。インシステムプログラミングは、構成制御とシステムファームウェアのアップデートに非常に役立ちます。

特徴

JAM および STAPL (JESD71) フォーマットをサポート
逐語的な「プレーヤー」プログラムを通じて、またコンパイルされた JPF 形式ファイルとしても SVF をサポートします
ブリッジやゲートウェイなどのスキャンパスインターフェイスデバイスを処理します
IEEE 1532 準拠のデバイスをターゲットとする場合に現在のプログラミングを可能にします
古い Lattice および Xilinx パーツに対するレガシー JEDEC サポートが含まれています

マイクロプロセッサおよび DSP (組み込み)

JTAG Technologies社は、エンジニアがハードウェアをあまり追加せずにデバイスプログラミング機能を向上させるために使用できる幅広いオプションを提供します。マイクロプロセッサおよび DSP の組み込み (フラッシュ) メモリをプログラミングするための当社のソリューションは、SCIP (Serial Controlled IC Programmer) モジュールとしても知られています。このファミリは幅広いソフトウェアモジュールで構成されており、テストエンジニアや生産エンジニアはこれらを使用して、インターフェースハードウェアを追加することなく、インシステムデバイスプログラミング機能の範囲を拡張できます。

多くのデバイスがプログラミングおよびテスト用のハードウェアインターフェイスとして JTAG (IEEE Std 1149.1) を標準化していますが、内部 (フラッシュ) メモリのプログラム方法に関する標準化はほとんど行われていません。「プライベート」命令と非標準のステートマシン実装の使用により、一部の JTAG/バウンダリスキャンツールセットは、プログラミングインターフェイスとして JTAG を使用するさまざまなデバイスに対応できなくなりました。さらに、プログラミングをサポートするために他の、多くの場合ピン数が少ないインターフェイスを使用するデバイスの 2 次層が存在します。これらの代替インターフェイスの例としては、BDM、SPI、SWD (ARM Single Wire Debug) などが挙げられます。JTAG Technologies の SCIP モジュールは、これらの障害を克服します。

特徴

オンボードのマイコン書き込み、DSP書き込み
BDM、Mono8、MicroChip、その他のシリアルインターフェイスをサポート
SCILハードウェアインターフェースアダプターと互換性あり

利点

フラッシュを組み込んだマイクロプロセッサ、マイコン、DSPなどをプログラミングするためのソリューション
インシステムプログラム (ISP) 技術により、デバイスの取り扱いが最小限に抑えられ、静的および機械的損傷が軽減されます。
ISP とテストの両方に既存の JTAG ハードウェア (JT 37×7) を再利用
ハードウェアの考慮事項が減った結果、治具の複雑さとコストが軽減されました

アプリケーション

SCIP モジュールは、使い慣れた単一のソフトウェアインターフェイスを使用して、PCB テストとインシステムデバイスプログラミング機能の両方を 1 台の機器に組み合わせることが有益な生産施設で非常に役立ちます。現在サポートされているデバイスのリストについては、このページの「デバイス」タブをご覧ください。

特徴

必要に応じて JTAG SCIL モジュールを使用して複数のバスとプロトコルをサポート (JTAG、BDM、Microchip、SPI、I2C)
追加のデバイスサポートをリクエストするリクエストされたサポートに対する迅速な対応
ユニバーサル ISP ソリューションを提供します

デバイス

Manufacturer

Device Family

Option Name

Strategy Type

SCIL Adapter

Analog Devices

Blackfin
ADuC7xxx

–
ADuC7xxxProg

PVM
R2R

–
–

Analog Devices

Blackfin

ADSP-BF538Prog

PVM

–

Analog Devices

Blackfin

ADSP-BF539Prog

PVM

–

Analog Devices

Blackfin

ADSP-BF51xProg

R2R

–

ATMEL

AT91SAM7
ATMega64
ATMega8
ATtiny
ATMega103
ATMega48(p)
ATMega88(P)
ATMega168(P)
ATMega328(P)

AT91SAM7SEProg
–
–
–

R2R
SVF
PVM
PVM
PVM
PVM
PVM
PVM
PVM

–
–
–
–
–
–
–
–
–

Cypress

Psoc3
Traveo

PSoc3Prog
TraveoProg

EXE
R2R

–

Freescale

Coldfire MCF52xxx
Qorivva MPC55xx
Qorivva MPC56xx
MPC5xx
HC08
HCS08
HCS12
Kinetis
MC56F8000

–
MPC5500Prog
MPC5600Prog
MPC500Prog
HC08Prog
HCS08Prog
HCS12Prog
KinetisProg
MC56F8000Prog

PVM
R2R
R2R
R2R
R2R
R2R
R2R
R2R
EXE

–
–
–
SCIL-018
SCIL-017
SCIL-017
SCIL-017
–
–

Infineon

XC166
XE166
XC27xx
XC23xx
XC22xx
Tricore Audo/Aurix

XC16xProg
XC16xProg
XC16xProg
XC16xProg
XC16xProg
Tricore Prog

EXE
EXE
EXE
EXE
EXE
EXE

–
–
–
–
–

Microchip

PIC32MX
dsPIC33
PIC 10F*
PIC 12F*
PIC 16F*
PIC 18F*

PIC32MXProg
–
–
–
–
–

R2R
PVM
PVM
PVM
PVM
PVM

–
–
–
–
–
–

Nordic

NRF51822

NRF51822Prog

R2R

SCIL-019

NXP

LPC2xxx LPC17xx LPC12xx SJA2020

LPC2xxxProg
LPC17xxProg
LPC12xxProg
SJA2020Prog

R2R
R2R
R2R
EXE

–
–
SCIL-019
–

Philips

SAA56xx
TDA95xx

SAAProg SAAProg

EXE
EXE

–
–

Renesas

SH7K

SH7KProg

R2R

SCIL-011

DSM2xxx
PSD 4xxx
PSD 8xx
PSD 9xx
SMM 1xxx
uPSD3200
uPSD3300
uPSD3400
SPC560x
STM32F1
STR91xFxxx
STM32F3
STM32F4
STM32L4 MCU
STM32L05

PSDProg
PSDProg
PSDProg
PSDProg
PSDProg
PSDProg
PSDProg
PSDProg
SPC560xProg
STM32F10Prog
STR91XProg
STM32F30Prog
STM32F4Prog
STM32L4xxProg
STM32L05Prog

EXE
EXE
EXE
EXE
EXE
EXE
EXE
EXE
R2R
R2R
1532
R2R
R2R
R2R
R2R

–
–
–
–
–
–
–
–
–
–
–
–
–
–
SCIL-019

SiliconLabs

C8051
SiM3C1xx
SiM3U1xx

8051Prog
SiM3Prog
SiM3Prog

R2R
R2R
R2R

–

MSP430F1xx
MSP430F2xx
MSP430F4xx
MSP430FE4xx
MSP430F5xxx
MSP430FR5xxx
MSP430F6xxx
MSP430G2xxx
CC430F5xxx
CC430F6xxx
Stellaris LM3Sxxxx
TMS320F28xx
UCD9240
TMS570
Tiva

MSP430Prog
MSP430Prog
MSP430Prog
MSP430Prog
MSP430Prog
MSP430Prog
MSP430Prog
MSP430Prog
MSP430Prog
MSP430Prog
StellarisProg
TMS320Prog
UCD9xxxProg
TMS570Prog
TM4C12x

R2R
R2R
R2R
R2R
R2R
R2R
R2R
R2R
R2R
R2R
R2R
R2R
R2R
R2R
R2R

–
–
–
–
–
–
–
–
–
–
–
–
–
–
–

JTAG ProVision プラットフォーム

ProVisionシステムでは、統合された JTAGテスト / バウンダリスキャンテストおよびプログラミングソフトウェアアプリケーションの開発と実行が可能ですが、生産および製造内では、同じ使い慣れたユーザーインターフェイスを機能を削減したバージョンで使用することができます。「ProVision プラットフォーム」は、テスト実行のみ、フラッシュインシステムプログラミング ( ISP ) のみ、PLD ISP のみ、またはもちろんこれらの任意の組み合わせで使用できます。

特徴

使いやすいテストおよび ISP ランタイムオプション
AEX Manager テストエグゼクティブを含む
フル機能の真理値表レポーター (TTR) が含まれています

利点

JTAG ProVision 開発者プラットフォームからの出力と完全な互換性
PSA Classic シーケンスファイル (CD18 以降) をインポートします。
完全なレポート生成およびエクスポート機能が含まれています
シーケンス開発者、エンジニア、オペレーターのパスワード入力
工場内でのバウンダリスキャンへの低コストのエントリー

アプリケーション

特徴

既存の ProVision プロジェクトを開いて実行する
AEX シーケンスの作成とエクスポート
JTAG Visualizer およびバウンダリスキャン診断へのシームレスなリンク
オペレーターの機能をパスワードで制限
システムコール機能により外部機器の制御やデータ処理が可能

デバイス

サポートされているデバイスのメーカー

生産ライン用統合パッケージ

JTAG Technologies社の Production Integration Packages (PIP) を使用すると、ユーザーは「サードパーティ」環境から JTAG ボードテストおよびプログラミングアプリケーションの全範囲を実行できます。National Instruments社の LabView や TestStand などのテスト指向のフロントエンドに加えて、Microsoft社などのさまざまな汎用コンパイラのサポートも提供します。

C/C++ の場合は PIP/DLL があり、Visual C、Visual Basic などの .NET Framework システムの場合は PIP/.NET が提供され、古い Visual Basic コンパイラの場合は PIP/VB もあります。PIP/EXE と呼ばれる DOS/Win コマンドライン実行パッケージもあります。各 PIP パッケージには、DataBlaster、Explorer、または新しい MIOS (混合信号) IEEE Std. 上のボードをテストおよびプログラムするためのアプリケーションをロードおよび起動するための完全な機能が含まれています。JTAG社の1149.x JTAGコントローラ / バウンダリスキャンコントローラーに対応します。

特徴

PIP を使用して、選択した言語でオーダーメイドの JTAG シーケンスを作成します
サードパーティのテスト管理者のサポート (LabView、TestStand、ATEasy など)
ほとんどの高級言語 (VB、C++、.NET) のオプション

利点

バウンダリスキャンアプリケーションをオーダーメイドのテストエグゼクティブにシームレスに統合
複数のプログラミング言語をサポート
リクエストに応じて追加の統合オプションも利用可能
確立されたテストシステムと連携します

アプリケーション

特徴

あらゆる種類の JTAG コントローラーと DIOS ハードウェアをサポート
大規模なテストとプログラミングのための複数の (DataBlaster) コントローラーのサポートが含まれています
ドキュメントとサンプルコードが付属

ナショナルインスツルメンツのサポート

特徴

LabView、TestStand、LabWindows をサポート
印刷された完全なドキュメントが提供されます
テストとプログラミングのサンプルが含まれています

利点

他のテストおよびプロセスステップとのシームレスな統合
混合信号 (アナログ <=> デジタル) テストアプリケーションのセットアップが簡単に可能
ユーザーはオーダーメイドの GUI とシーケンスオプションを作成します
業界標準の互換性
JTAG ソフトウェアの専門家による完全なバックアップとメンテナンス

アプリケーション

ナショナルインスツルメンツのソフトウェアツールは、エレクトロニクス業界内で、設計環境での実験（研究）セットアップや生産環境での機能テストシステムを作成するために一般的に使用されています。JTAG Technologies社の製造統合パッケージは、バウンダリスキャンテストやデバイスプログラミングアプリケーションをこれらのセットアップに組み込むための、非常にシンプルで高レベルな方法を提供します。バウンダリスキャンのデジタルテスト能力をアナログ測定器や刺激機器と併用することで、エンジニアは境界を越えて混合信号テストに簡単に取り組むことができます。

特徴

LabView の PIP/LV と VI セットファミリーの統合
LabWindows 用の PIP/LW と一連の機能パネルの統合
カスタムステップタイプ（付属）を使用した TestStand 統合用の PIP/TS

デザインとサービス

JTAG Live（ジェイタグライブ）はハードウェア技術者のデバッグをアシストするローコストなツールです。BGAピンのような隠れたピンへのアクセス可能にします。

JTAG Live BUZZは JTAG Technologies社のJTAG Live用HPからユーザー情報を登録することで、無料でご使用頂けます。

登録はこちらから（英語のページ）

登録手順

※ JTAG Liveはハードウェア技術者向けの簡易デバッグ・ツールです。テストパターンの自動生成機能や故障診断の機能はありません。
生産工程への適用や故障解析を目的とされる場合には、JTAG ProVisionのご利用をお勧め致します。

JTAG Live

「JTAG Live」のウェブサイトはこちらから

JTAG Live

JTAG Live Buzz（ジェイタグライブバズ)

JTAG Live™ Buzz は、スコープやロジックアナライザーを使用した従来のプローブでは多すぎる導通テストおよびデバッグボードに簡単なソリューションを提供します。さらに、完全に無料です。

Buzz は、エレクトロニクスエンジニアや技術者がプリント基板の基本的な導通テストと正しい動作をチェックするために使用するのに最適です。

Buzz は、バウンダリスキャン (IEEE Std 1149.1) 準拠のデバイスで提供される組み込みピンアクセスを使用してピン間導通テスト (バズアウト) を実行するだけで、入力ピンのピンアクティビティをサンプリングすることもできます。

特徴

学びやすく、使いやすい
デバイスピンへのアクセス制限を克服
無料のバウンダリスキャン導通テスター

利点

ネットリストなしで動作します
「watch」ピンのサンプル機能が含まれています
一度に 10 個の接続をテストする
単純な論理クラスターをテストする

特徴

最大 10 本のドライブおよびセンスピン
ネットリストなしで動作します
複数のバウンダリスキャンチェーンのサポート
スキャンチェーンインフラストラクチャテスト
ピンアクティビティのサンプル
ピン間 (p2p) 導通テスト
マルチピン間 (np2np) 導通テスト
マルチハードウェアのサポート Explorer/USB、Intel社(Altera社)、AMD社(Xilinx社)

アプリケーション

Buzz は、プロトタイプボード上の 2 つのピンが接続されているかどうかを確認する非常に便利な導通チェックを提供します。基本的にはよく知られた DMM のバズ測定ですが、プローブは使用しません。Buzz の Measure ウィンドウ内で、ドライブピンを選択し、それを High または Low に設定し、結果のセンスピンの値を読み取ります。監視モードを使用すると、特定のピンが High に固定されているか、Low に固定されているか、またはトグルしているかどうかを確認できます。

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JTAG Live Buzz Plus

Buzz を使用すると、ユーザーはバウンダリスキャンピンのアクティビティをサンプリングし、回路基板全体のネットの連続性をテストできますが、BuzzPlus は、指定されたネット接続のノードのネットワークを効果的に学習する独自の「シークアンドディスカバー」モードでその機能を拡張します。

この製品には、JTAG Live Buzzが無料で自動的に付属します。

特徴

ノードの検索と発見が簡単
デバイスピンへのアクセス制限を克服

利点

無制限のセンスピン
ネットリストなしで動作します
「watch」ピンのサンプル機能が含まれています

アプリケーション

BuzzPlus を使用すると、2 つのドライバーのすべてのバウンダリスキャン接続を同時に見つけることができます。接続が欠落している場合、またはこれら 2 つのネット間で短絡が発生している場合、それらは簡単に確認できます。

特徴

手動シークおよび検出モード (2 ノード)
ネットリストなしで動作します
複数のバウンダリスキャンチェーンのサポート
スキャンチェーンインフラストラクチャテスト
ピンアクティビティのサンプル
ピン間 (p2p) 導通テスト
マルチピン間 (np2np) 導通テスト
マルチハードウェアのサポート Explorer/USB、Intel社(Altera社)、AMD社(Xilinx社)

JTAG ライブ AutoBuzz

AutoBuzzは、設計内のすべてのバウンダリスキャンパーツの「接続シグネチャ」を、それらのパーツの BSDL モデルのみから効果的に学習する、まったくユニークな新しいツールです。BuzzPlus のシークおよびディスカバーモードを拡張することにより、AutoBuzz は既知の良好なボードの回路データを自動的に収集し、参照として保存します。次に、比較モードを使用して、既知の正常なリファレンスを障害のある回路と比較してチェックします。

この製品には、JTAG Live Buzzが無料で自動的に付属します。

特徴

正常な基板の回路データを自動的に収集
接続マップを簡単に比較

利点

自動シーク&ディスカバーモード
無制限のネット比較
CADデータは不要です
素早く簡単に使用できます

特徴

自動シーク&ディスカバーモード
無制限のネット比較
ネットリストなしで動作します
複数のバウンダリスキャンチェーンのサポート
スキャンチェーンインフラストラクチャテスト
ピンアクティビティのサンプル
ピン間 (p2p) 導通テスト
マルチピン間 (np2np) 導通テスト
マルチハードウェアのサポート Explorer/USB、Intel社(Altera社)、AMD社(Xilinx社)

アプリケーション

ユーザーはバウンダリスキャンの技術知識を必要とせず、基本的なスキャンチェーンの入力のみが必要なため、AutoBuzz は、特に設計データが欠落しているか不完全な場合に、修理および再作業の技術者にとって最適なツールです。

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JTAG ライブクリップ

Clip は、ボードレベルのテストを作成および保存するためのベクターベースのアップグレードです。無制限のパターン深さとビット幅が特徴です。Clip のロジックアナライザーのような波形表示は、ボード上の信号で何が起こっているかを示します。完全な実行制御には、Clip の「Compare On」および「Set Breakpoint」オプションを使用します。

この製品には、JTAG Live Buzzが無料で自動的に付属します。

特徴

サンプル結果の波形ビュー
無制限のドライブピンとセンスピン

利点

バイナリ、10 進数、または 16 進数形式でベクトルを作成します
自動ベクトルフィラー、カウント、ウォークなど。
ドライブ値とセンス値の保存

特徴

サンプル結果の波形ビュー
無制限のドライブピンとセンスピン
2 進数、10 進数、または 16 進数でベクトルを作成します
ドライブ値とセンス値の保存
ネットリストなしで動作します
複数のバウンダリスキャンチェーンのサポート
スキャンチェーンインフラストラクチャテスト
マルチハードウェアのサポート Explorer/USB、Altera、Xilinx

アプリケーション

Clip を使用すると、フラッシュ ID コードのテストや I2C および SPI バスプロトコル部分のテストなど、さまざまなタイプのデバッグアプリケーション用に 16 進数、バイナリ、および 10 進数の形式でベクトルセットをセットアップできます。バウンダリスキャンが有効なピンを使用してデバイスの重要な信号にアクセスできる場合は、Clip を使用してテストできる可能性が高くなります。ベクトルセットは、パターンの長さに制限がなく、使用するピンの数も制限されません。組み込みのベクトル生成モードには、Walk 1、Walk 0、およびバイナリカウントが含まれます。

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JTAG ライブスクリプト

スクリプトは、オープンソースの Python 言語を使用して、「クラスター」テスト用のバウンダリスキャン I/O ピンを駆動および感知するための強力なコマンドおよび制御構造を提供します。

スクリプトを使用して、非バウンダリスキャンロジックの動作を検証する Python コードを作成します。LED および混合信号デバイス。Python プログラムに埋め込むことができる高レベルのルーチンを使用して、スクリプトは変数として定義されたピンまたはピンのグループの値を駆動および検出します。組み込みの JTAGLive Python エディターにより、テストを実行して結果を収集するためのシーケンスの準備が簡素化されます。スクリプトでテストモジュールを作成すると、デバイス指向のテストが促進され、テストコードの再利用が促進されます。

Python オープンソースを使用するということは、確立されたユーザーコミュニティから何千もの追加ライブラリを入手できることを意味します。

この製品には、JTAG Live Buzzが無料で自動的に付属します。

特徴

エンジニアに優しいプログラミング環境
複雑な順次クラスターのテスト
フラッシュおよびSPROMのプログラミング

利点

エンジニアに優しいプログラミング環境
複雑なシーケンシャルクラスタのテスト
フラッシュおよび SPROM プログラミング
I2C および SPI 要素をテストするための内蔵シリアルライブラリ
CoreCommander アドオンによるエミュレーションテストのサポート

特徴

テストプログラミングのためのスクリプト機能
複雑なシーケンシャルまたは組み合わせクラスタのテスト
フラッシュおよび SPROM プログラミング
アナログ測定用の変数処理機能・Python 言語ベース
ドライブおよびセンス値のストレージ •2 進数、10 進数または 16 進数でベクトルを作成
無制限のドライブおよびセンスピン
ネットリストなしで動作
「プライベート」JTAG 命令をサポート
複数のバウンダリスキャンチェーンをサポート
グラフィカルインターフェイスとして TKInter と併用
マルチハードウェアサポート JTAGLIve、Intel社(Altera社)、AMD社(Xilinx社)、FT2232

アプリケーション

スクリプトは、混合信号部分のテスト、ユーザーの介入が必要な操作、デバイスレジスタを設定するためのテストパターンのループなどのアプリケーションに、機能的でデバイス指向のテストアプローチを採用する場合に最適です。

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JTAG Live CoreCommander（コアコマンダー）

CoreCommanderルーチンは、今日の RISC コアや DSP コアに組み込まれているエミュレーション/デバッグ機能を使用して、主要なプロセッサコア (ARM、PPC、X-scale、Cortex など) 機能を制御します。これらは、カーネル中心のテストを可能にすることで、ボードのテストとデバッグを高速化するために開発されました。

CoreCommander は 2 つの動作モードを提供します。

インタラクティブ – コアの直接制御を提供します。
Python 埋め込み – コントロールを完全なプログラムにスクリプト化できます。

この製品には、JTAG Live Buzzが無料で自動的に付属します。

特徴

コアデバッグアクセスを介したマイクロプロセッサおよび DSP の JTAG 制御
最も人気のあるコアがサポートされています
クラスターテストとフラッシュアプリケーションを作成する

利点

バウンダリスキャンレジスタの欠陥を克服
IEEE std 1149.x に準拠していないデバイスでも動作します
最も一般的なプロセッサコアをサポート (ARM PPC など)
テストスクリプト用のPythonと互換性のあるコード
他のソリューションと比較して低コスト。

特徴

JTAG Technologies社のJTAG Live、FTDI ベースのコントローラ/インターフェイスでサポート
コアの書き込み/読み取りを実行するための使いやすい対話型 GUI
関数には、「EnterDebug」、「ExitDebug」、「LoadMemory」、「SaveMemory」、「WritePC」、「ReadPC」が含まれます。
Python オープンソーススクリプト言語と互換性があります。
JTAG ライブスクリプト (バウンダリスキャンルーチン) と連携して動作します。

アプリケーション

CoreCommander ルーチンを使用すると、IEEE std 1149.1 (従来のバウンダリスキャン) テストアクセスオプションが少量しかない、またはまったくないアプリケーションのテストカバレッジを高めることができます。ターゲットプロセッサのコアを直接握ることにより、ユーザーはコンフィギュレーションレジスタおよび内部または外部メモリ空間に書き込みまたは読み取りを行うことができます。

デバイス

Vendor

Microprocessor (cores)

Analog Devices

Blackfin BF5xx
Blackfin BF60x

Arm

ARM7
ARM9
ARM11
ARM – Cortex-A/R (For A5,A7,A8,A9,A15,R4,R5,R7)
ARM – Cortex-M (For M0,M1,M3,M4,M7, M0-SWD,M1-SWD,M3-SWD,M4-SWD,M7-SWD)

Infineon

C166
Tricore

Intel (Altera)

JTAG Technologies Translator for FPGAs

Marvell

XSCALE – PXA25x / PXA26x
XSCALE – PXA3xx
XSCALE – PXA27x / IXP4xx

Microchip

PIC32

NXP (Freescale)

Coldfire
MPC5xx / MPC8xx
MPC5xxx

Renesas

RH850/D1x / RH850/f1x

STMicroelectronics

SPC5

Texas Instruments

C28x (TMS320 C2000 series)

Xilinx

JTAG Technologies Translator for FPGAs

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JTAG Live Studio（スタジオ）

JTAG Live Studio は、デザインのテスト、デバッグ、プログラミングのための完全な JTAGテスト / バウンダリスキャンソリューションです。自動スキャンパスビルダーを含む JTAG Live プラットフォームに基づいた Studio には、JTAG Live Buzz、BuzzPlus、AutoBuzz、Clip、Script、JAM、STAPL、SVF プレーヤーに加え、JTAG Live コントローラーが含まれています。

AutoBuzz の最新バージョンを使用すると、既知の良好なボードとの比較を使用するか、CAD から派生したネットリストからバウンダリスキャンピン接続を学習することによって、相互接続をテストできます。スクリプトを使用して、 Pythonで再利用可能なクラスターテストとフラッシュプログラミングアクションを作成します。IC コアを制御したり FPGA ゲートアレイファブリックにリンクしたりできる低コストのCoreCommanderオプションを追加することで、IC レベルのテストを組み込みます。

特徴

低コストの完全なバウンダリスキャンツールセット
テストおよびシステム内プログラミングルーチンを高速に作成
スタンドアロンの Python エグゼクティブ内でアプリケーションをシーケンスする
高品質の JTAG/バウンダリスキャンインターフェイス/コントローラーを搭載

利点

プロトタイプのデバッグが高速化されることで、市場投入までの時間が短縮されます。
低コストで中小企業やスタートアップ企業に最適
オープンソースのスクリプト言語を活用します。
すべての設計と設計者に対して形式化されたテストアプローチを可能にします

特徴

Buzz – ピン間導通テスターと「ウォッチウィンドウ」アクティビティモニター。
AutoBuzz 独自の「シークアンドディスカバー」モードを使用した相互接続テスト。
ロジッククラスターテスト – メモリ、I2C パーツ、ADC、E-net PHY など。
SVF、JAM、STAPL プレーヤーを使用した CPLD および FPGA インシステムプログラミング
一般的な Python 環境でのテストシーケンス
USB 通信 GPIB 機器制御などのオープンソースライブラリへのアクセス
ARM、X-scale、PPC、TI パーツ用のオプションの CoreCommander ボルトオンにより、エミュレートテストとプログラミングが可能になります

アプリケーション

設計ラボでプロトタイプ設計のハードウェア問題をデバッグするために使用します。修理および再作業センター内で既知の正常なボードを使用して比較してください。低 => 中量生産向けの完全なテストおよびプログラミングスイートを作成します。

Altium 対応 JTAG Maps（ジェイタグマップ）

無料の Altium 用 JTAG Maps ライセンスを取得する

JTAG Maps は、ユーザー/エンジニアが設計上の JTAG デバイスの機能を迅速に評価できるようにする Altium Designer EDA システムの拡張機能です。これまでエンジニアは、故障範囲を判断するために設計のバウンダリスキャンネットを手動で強調表示するのに何時間も費やすことがよくありました。現在、Altium 用の無料の JTAG Maps アプリケーションはこれらすべてを実行し、貴重な時間を解放して、より徹底的な DfT を可能にし、市場投入までの時間を短縮します。

バウンダリスキャンモデルの有無にかかわらず– バウンダリスキャンデバイスモデル (BSDL) は、どのピンが JTAG/バウンダリスキャンによって制御または監視できるかを正確に示すため、JTAG/バウンダリスキャンプロセスにとって極めて重要です。ただし、JTAG Maps for Altium は BSDL モデルの有無にかかわらず動作でき、「スキャンがカバーされているとみなす」オプションが含まれています。この機能は、コネクタに障害カバレッジを示したり (スキャンがカバーされたと想定するように設定)、2 つの同等の部品間の障害カバレッジの違いを強調したりするために使用することもできます。Altium 用の JTAG マップは、回路図データから TAP (テストアクセスポート) を自動的にトレースします。TAP に関連付けられた JTAG 制御ネットは、「テスト可能な」ネットとは別に強調表示されます。

インポートとエクスポート– ほとんどのユーザーは、JTAG Maps for Altium が提供するカバレッジレポートを単純に使用したいと考えていますが、より正確な画像をインポートすることも可能です。JTAG ProVision プロジェクトをエクスポートした後、データを送信してさらなる分析を行うことができます。完全な障害検出情報を含む単純なテキストベースのメッセージファイルを JTAG マップに読み込んで、表示/強調表示することができます。

オプションの開発者ツール – JTAGテスト / バウンダリスキャンテストを設計に直接適用したいエンジニア向け JTAG Technologies社は、バウンダリスキャンを使用した低コストの機能テスト用の JTAG Live と、本格的な自動テストプログラム生成用、デバイスプログラミングシステムの JTAG ProVision という 2 つのオプションをさらに提供できます。

利点

バウンダリスキャンのアクセシビリティを迅速に表示
DfT プロセスを支援します
製品開発のスピードアップ
市場投入までの時間の短縮

アプリケーション

JTAG Maps は、テスト容易化設計 DFT (Design for Test) を担当するエンジニアにとって、Altium Designer の理想的なコンパニオンールです。JTAGテスト / バウンダリスキャンは、(FPGA、CPLD、マイクロプロセッサ、マイクロコントローラなどのデバイスを使用して) デジタルコンテンツを含む PCB アセンブリをテストするための主要な方法として広く認められています。JTAG Maps を使用すると、デザインのバウンダリスキャンテストの可能性をすばやく簡単に確認できます。

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ソフトウェア

製造テスト

JTAG ProVision Development Suite

利点

特徴

アプリケーション

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JFT – JTAG ファンクションテスト

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JTAG Visualizer（ビジュアライザー）

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特徴

CTPG_M

プロダクション スタンドアロン

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特徴

JTAG ProVision プラットフォーム

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特徴

デバイス

コアコマンダー

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仕様

デバイス

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生産用 インテグレーション パッケージ

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特徴

ナショナルインスツルメンツ社のサポート

利点

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特徴

BSD (テスト診断)

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特徴

生産デバイスのプログラミング

JTAG ProVision 開発スイート

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特徴

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モデル

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パワーマネジメント バス (PMBusProg)

利点

アプリケーション

特徴

プロダクション スタンドアロン

利点

アプリケーション

特徴

メモリ（NOR、NAND、シリアル）

利点

特徴

アプリケーション

デバイス

PLD (SVF、STAPL、ISC IEEE 1532)

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特徴

マイクロプロセッサ および DSP (組み込み)

利点

アプリケーション

特徴

デバイス

JTAG ProVision プラットフォーム

利点

アプリケーション

特徴

デバイス

生産ライン用 統合パッケージ

プロダクションスタンドアロン

生産用インテグレーションパッケージ

パワーマネジメントバス (PMBusProg)

プロダクションスタンドアロン

マイクロプロセッサおよび DSP (組み込み)

生産ライン用統合パッケージ

JTAG Live Buzz（ジェイタグライブバズ)

JTAG ライブクリップ

JTAG ライブスクリプト

Altium 対応 JTAG Maps（ジェイタグマップ）