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生産工程向けテスト ソリューション

JTAG Production solutions

テスト容易化設計「Design-for-Manufacturing(DfM)」を盛り込んだ、精度の高い実装技術と検査技術の組み合わせにより、不良の発生を最小限に抑える事ができます。 また、このような高品質な実装過程では、発生した基板の実装不良を高精度で検出する事が求めらます。

シーケンサーとテストレポート このようなテスト工程で必要とされる実装検査を自動化する用途であっても、 JTAG ProVisionに内蔵されたテストシーケンサーの機能は、予め定められた適切な順序で電源の切り替えや、構造的なテストや機能テスト、リミットの比較、などの、様々なテストのための手順を条件を指定して繰り返し実行するために利用できます。

最適なテストを実現するためのハードウェアは、Flashメモリのプログラミングの有無なや、求める性能、ツールのフォームファクタ、すでに使用されている他のテストステーションとの統合の可能性など、様々な要素により変化しますが、JTAG Technologies社の製品は、この様な、様々な要求にも柔軟に対応できるラインナップなっております。

また、製品基板に実装されているデバイスに、Flashメモリデや、Flashメモリを内蔵されたマイコンなどのようなデバイスが含まれている場合には、テストプロセスの一部として、Flashのオンボード書込みを求められる場合もございます。JTAG Technologies社のソリューションは、テストだけでなく、様々メーカーの単体のNOR FlashやNAND Flashだけでなく、マイコンに内蔵されたFlashの書き込みもテストに利用した同一のハードウェアを利用して実現するソリューションも提供しております。

テスト ソリューション

テスト容易化設計「Design-for-Manufacturing(DfM)」のルールは、実装不良を検出するためのテストプロセスを、最適化することにより、製品の製造コストを削減するために役立ちます。
LSI pacageIEEE 1149.1規格のJTAGバウダリスキャンテストの機能を利用することで、デバイスのパッケージの種類に影響されることなく、例えば、BGAの様に、表面から、デバイス端子に触れることができないようなパッケージを採用したデバイスであっても、ピンにアクセスし、基板全体にテストが可能な範囲を拡大することができます。
JTAG ProVisionが提供する解析機能を利用すると、JTAGバウダリスキャンテストの機能を利用して、基板全体の配線やデバイスへの配線確認テストなどを実施できる割合を求めることもできます。「JTAG技術レポート」では、お客様の、基板に、テスト容易化設計を行うために役立つ情報を提供しております。

テストパターンの開発

JTAG ProVisionでは、相互接続テスト、プルアップ、プルダウン抵抗テスト、メモリクラスターテスト、ランダムロジックデバイスのテストなど様々な、バウダリスキャンテストの手法を駆使した、テスト手法を自動的に生成し、基板全体にテストを拡大していくことをできます。

また、自動ストの生成が困難なシーケンシャル回路や、ADCやDACに対するテストも、Pythonと呼ばれるスクリプト言語を活用する事で、追加する事ができます。

単一の基板だけでなく、複数の基板で構成されている場合であっても、JTAG ProVisionを利用すれば、効果的なテストを作る事ができます。

JTAG ProVision上で、テストパターンのセットを作成する事により、基板に対するテスト範囲を計算し、追加のテストが必要かどうかを統計的に確認することもできます。 また、JTAG ProVisionで作成した様々なテストパターンの実行は、自動テストシーケンスの機能を利用する事で、自動化する事が可能です。

ランタイムソリューション

JTAG Technologies社では、基板全体に対するテストシーケンスを実行するためのソリューションとして、スタンドアローンの、JTAG ProVision単体の製品の他にも、プロダクション統合パッケージを用意しております。

プロダクション統合パッケージは、LabVIEW、LabWindows、TestStand、C、C ++、C#、. NET、Visual Basic、ATEasyなどのプログラミング言語を利用して、JTAG ProVisionで作成されたテストパターンを実行することができる、ランタイムのDLLとドキュメントの形で提供しております。

また、Agilent、Teradyne、Digital Test、Seica、Spea、Cobham、Takayaなどのインサーキットテスターおよびフライングプローブテスター用の認定パッケージSymphonyもご利用いただけます。

故障診断ソフトウェア

JTAG Technologies社の、診断ソフトウェアは、テストパターンの結果から、検出された障害を分析し、障害の原因と関連するネットおよびピンを報告します。また、JTAG Visualizerを使用すると、レイアウトと回路図上で障害の場所を強調表示できるため、工場の修理技術者はボード上の障害を簡単に見つけることができます。

テストツールの詳細につきましては、「JTAG ProVision」のページをご参照ください。

デバイス書込みソリューション

デバイスへのプログラミング(書き込み)を、生産工程の処理の一部として必要とされる場合に対応するため、JTAG Technologies社では、デバイスの種類ごとに、異なる製品を用意しております。

  1. Flashメモリ (NOR, NAND, Serial)
  2. マイクロコントローラとDSP (Embedded Flash)
  3. FPGA, CPLD
  4. PMBus デバイス

Flash メモリ

Flashメモリは、Flashのアドレス、データ、および制御ラインに接続されたJTAGデバイスのバウンダリスキャン・レジスタを介して書き込みを行う事ができます。バウンダリスキャン・Flashプログラミング・アプリケーションでは、Flashの信号線はバウンダリスキャン・レジスタを介して制御され、書き込みに必要なデータとコマンドをFlashメモリに送ります。
Flashプログラミング・アプリケーションファイルは、豊富なFlashライブラリが付属するJTAG ProVisionで自動的に生成できます。
また、JTAG Technologies社では、マイクロプロセッサのデバッグロジックを使用して、プロセッサバスに接続されたFlashメモリの書き込みを実行するソリューションも提供しております。

マイクロコントローラとDSP (Embedded Flash)

マイクロコントローラの組み込みFlash(Embedded Flash)に書き込みを行うために、各、マイクロコントローラのアーキテクチャごとに、専用のソリューションを提供しております。 これらのソリューションでは、JTAG Technologies社のランタイムパッケージで直接実行するための、Ready-to-Run(R2R)プログラミング・アプリケーションファイルとして提供されます。

FPGA, CPLD

SVF、JAM、STAPL、ISC IEEE 1532などのFPGAおよびCPLDのインシステムプログラミングには、さまざまなデータフォーマットが使用されます。ISCIEEE1532フォーマットを使用するPLDプログラミングアプリケーションは、JTAG ProVisionを使用して自動的に生成できます。
SVF、JAM、およびSTAPLファイルは、JTAGTechnologies社のランタイムパッケージを使用して直接実行できます。

PMBus デバイス

PMBusプロトコルを使用する電力管理デバイスは、接続されたデバイスのバウンダリスキャンレジスタを介してプログラムできます。バウンダリスキャンPMBusプログラミングアプリケーションでは、バウンダリスキャンデバイスがPMBusマスターとして機能し、データとコマンドをPMBusデバイスに配信します。プログラミングアプリケーションファイルは、JTAG ProVisionを使用して自動的に生成できます。

ハードウェア

実装基板ののテストと、Flashの書き込みには、下記のハードウェアが必要となります。

  • 実装基板上のJTAGインターフェースとPCを接続するためのJTAGコントローラ
  • ボード上のI / Oコネクタおよび特別なテストポイントへのバウンダリスキャンアクセス用のI / Oモジュール。

JTAGコントローラ

テストおよびFlashの書き込みを実行するために、様々な機能と性能、フォームファクターを備えたコントローラを提供しております。

高速なJT 37×7 DataBlasterがフラグシップモデルです。拡張性を備えており、(PCI、PCIe、PXI、PXIe、USB、Ethernet、Firewireインターフェース用やラックマウント向け、特定のICTやFPT向けなど)複数のフォームファクタの製品が提供されております。

JT 5705ミックスドシグナル・コントローラは、バウンダリスキャンと組み合わせたアナログ信号の制御と測定をサポートします。

USBインターフェースを備えたJT3705 Explorerコントローラーは、ローコスト向けの選択肢です。

I/Oスキャン・モジュール

オプションのI/Oモジュールを接続する事により、バウンダリスキャンで直接アクセスできない回路の部分に対して、バウダリスキャンテストやアナログ測定を追加します。

デジタルI/Oスキャン(DIOS)モジュール、ミックスドI/Oスキャン(MIOS)モジュール、ソケットテスト・モジュール(STM)を利用すると、ソケット、コネクタ、およびセンサーを簡単にテストできるようになります。

複合テスト機器

JTAGバウンダリスキャン・コントローラとI/Oスキャン・モジュールは、個別の機器として要したものを組合わせる方法や、予め両方の機能を内蔵した製品も用意されております。

Rack-Mountable Instrument(RMIc)は、バウダリスキャン・コントローラに加えて複数のI/Oスキャン・モジュールを組み合わせ19インチラックにマウントすることも可能な製品です。

JT 5705は、2TAPのJTAGコントローラの機能と、ミックスドシグナルI/O(MIOS)の機能を内蔵し、この2つの機能を組み合わせることで、1台のツールで、自動テストの機能も実現することができるツールとなっております。

他のシステムとの統合

高速なDataBlaster コントローラは、スタンドアローンでの使用や、ファンクションテスト・システムとのシームレスな統合のため様々な(PCI、PCIe、PXI、PXIe、USB、Ethernet、Firewire)フォーマットの製品を提供しております。

また、インサーキットテスターまたはフライングプローブテスターとのシームレスな統合のために、テスターのフォーマットと合わせた専用のフォームファクタの製品も提供しております。

JTAGコントローラをインサーキット・テスタ、フライングプローブ・テスタ、またはファンクション・テストシステムと組み合わせることで、バウンダリスキャンと組み合わせて、I/Oスキャン・モジュールの代わりにそのシステムのテストおよび測定ハードウェアを使用してI/Oコネクタとテストポイントを測定できます。

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