生産ソリューション

最大の障害検出率を達成するために、さまざまなテストが開発されています。相互接続テスト、プルアップ / プルダウン抵抗テスト、メモリクラスター テスト、ランダムロジックデバイスのテストなどのバウンダリスキャンテストはすべて、「JTAG ProVision」を使用して自動的に生成できます。強力なPython言語を使用すると、順序回路、ADC、DACなど、自動テスト生成が不可能な回路部分にテストを追加できます。デザインが単一のボードで構成されているか、複数のボードで構成されているかにかかわらず、あらゆる構成を「JTAG ProVision」内で処理できます。一連のテストが生成されると、このセットの障害検出率が計算され、設計のテスト容易性と比較して、追加のテストが必要かどうかを確認できます。最後に、自動テストシーケンスにより、ボタンを押すだけでテストを実行できます。

実行時にテスト シーケンスが実行され、ボード全体がテストされます。JTAG Technologies社のランタイムソリューションはスタンドアロンで使用する場合もあれば、JTAGを含むトータルテストソリューションとして使用される場合もあります。プロダクション統合パッケージは、LabVIEW、LabWindows、TestStand、C、C++、C#、.NET、Visual Basic、ATEasyで利用できます。また、Agilent社、Teradyne社、Digital Test社、seica社、Spea社、Cobham社、タカヤ社などのインサーキットテスタ、およびフライングプローブテスタ用の認定パッケージ (Symphony製品) も利用できます。

故障診断ソフトウェアは、検出された障害を分析し、障害の原因と関連するネットとピンをレポートします。「Visualizer」を使用すると、レイアウトや回路図上で障害の位置を強調表示できるため、工場の修理技術者がボード上の障害を簡単に見つけることができます。

フラッシュメモリは、フラッシュのアドレス、データ、および制御ラインに接続されたJTAGデバイスのバウンダリスキャンレジスタを介してプログラムできます。バウンダリスキャン フラッシュプログラミングアプリケーションでは、バウンダリスキャンレジスタを介してフラッシュメモリの制御信号が制御され、データとコマンドがフラッシュメモリに送信されます。フラッシュプログラミング アプリケーションファイルは、広範なフラッシュライブラリが付属する「JTAG ProVision」を使用して自動的に生成できます。あるいは、マイクロプロセッサのデバッグロジックを使用して、プロセッサのバスに接続されたフラッシュメモリをプログラムすることもできます。

マイクロコントローラーの組み込みフラッシュをプログラミングするためには、そのコントローラー専用のソリューションが必要です。JTAG Technologies社は、リストされている広範なマイクロコントローラー向けのプログラミングソリューションを提供しています。これらのソリューションは、JTAG Technologies社のランタイムパッケージで直接実行できるReady-to-Run (R2R) プログラミングアプリケーションファイルとして提供されます。

FPGAやCPLDのインシステムプログラミングには、SVF、JAM、STAPL、ISC IEEE 1532などの、さまざまなデータ形式が使用されます。ISC IEEE 1532形式を使用するPLDプログラミングアプリケーションは、「JTAG ProVision」で自動的に生成できます。SVF、JAM、STAPLファイルは、JTAG Technologies社のランタイム ッケージを使用して直接実行できます。

PMBusプロトコルを使用する電源管理デバイスは、接続されたデバイスのバウンダリスキャンレジスタを介してプログラムできます。バウンダリスキャンPMBusプログラミングアプリケーションでは、バウンダリスキャン デバイスがPMBusマスターとして機能し、データとコマンドをPMBusデバイスに配信します。プログラミングアプリケーションファイルは「JTAG ProVision」を使用して自動的に生成できます。

テストおよびプログラミングアプリケーションを確実に実行するために、さまざまなパフォーマンス機能とフォームファクターを備えたさまざまなコントローラーから選択できます。高速「JT 37×7 DataBlaster」は最上位モデルです。スケーラブルなパフォーマンスを備え、さまざまなフォームファクターで利用できます。「JT 5705 ミックスドシグナル コントローラー」は、バウンダリ スキャンと組み合わせてアナログ信号の制御と測定をサポートします。USB インターフェイスを備えた JT 3705 Explorer コントローラーは、最大のパフォーマンスが主な駆動要素ではない場合に理想的な選択肢です。

I/Oモジュールを追加すると、バウンダリスキャンアクセスが不足しているデザイン部分にスキャンテストおよびアナログ測定カバレッジを拡大できます。「デジタルI/Oスキャン (DIOS) モジュール」、「ミックスドシグナルI/Oスキャン (MIOS) モジュール」、またはソケットテストモジュール (STM) を選択して、ソケット、コネクタ、センサーを簡単にテストすることができます。

バウンダリスキャンコントローラーとI/Oモジュールを別個の機器として使用することも、それらを1つの機器に組み合わせることもできます。たとえば、ラックマウント可能なコントローラー (RMIc) は、1つ以上のバウンダリスキャンコントローラーと任意のI/Oモジュールを備えた自己完結型ユニットで、19インチのテストラックまたはベンチトップセットアップへの設置に最適です。「JT 5705」は、2つのTAPコントローラーとミックスドシグナルIO (MIOS) チャネルを効果的に組み合わせ、事実上自己完結型の ATEとなります。

高速「DataBlaster コントローラー」は、スタンドアロンで使用するだけでなく、ファンクションテスト（機能テスト）システムとシームレスに統合するために、一般的なフォーマット (PCI、PCIe、PXI、PXIe、USB、イーサネット、Firewire) のすべてで利用できます。インサーキットテスターまたはフライングプローブテスターとのシームレスな統合のために、テスターの形式に直接一致する専用フォームファクターも利用できます。
JTAGコントローラーをインサーキットテスター、フライングプローブテスター、またはファンクションテストシステムと組み合わせると、I/O モジュールの代わりに、そのシステムのテストおよび測定ハードウェアを使用してI/Oコネクタとテストポイントを測定できます。使用​​します。
あらゆる距離から遠隔操作できる製品「JTAG TapCommunicator」もあります。「TapCommunicator」は、ターゲットへのアクセシビリティの欠如によって引き起こされる問題を克服できる、真にユニークな製品です。ターゲットのネイティブ通信プロトコル (Ethernet、Bluetooth、SpaceWireなど) を利用することにより、バウンダリスキャンテストとプログラミングアプリケーションを事実上あらゆる距離に適用できます。