ATEインテグレーション

イタリアの SPEA Spa社 のエンジニアと協力して、JTAG Technologies社 は、SPEA社 の 3030 インサーキット テスターの計装シャーシに完全に適合するバージョンの JT2147 QuadPodを開発しました。この JT2147/SAM は、標準の JT3727/TSI コントローラおよびフィクスチャを介して TAP 信号を UUT に接続します。4040 フライング プローブ テスターの統合には、標準の JT2147 ポッドが使用されます。テスト開発を簡素化するために、SPEA社 の Leonardo ソフトウェアからエクスポートされたデータ パッケージにはすべてのテスト ポイント情報が含まれており、JTAG ProVision ソフトウェア内からアプリケーションを迅速に生成できます。アプリケーションのデバッグ/検証中に、ProVision はプローブを制御してこのプロセスをスピードアップすることもできます。デジタル信号はバウンダリ スキャン経由で駆動され、SPEA マシンの I/O ピンまたはフライング プローブで検出でき、その逆も可能です。

JTAG Technologies社のバウンダリスキャン アプリケーションを Teradyne社の テストステーションおよび GR228x と統合したいユーザーには、2 つのオプションがあります。1 つ目は Teradyne社 独自のディープ シリアル メモリ (DSM) カードをバウンダリスキャン インターフェイス/コントローラーとして使用し、もう 1 つのソリューションは標準の JT37×7 コントローラーに基づいており、JT2147/ と呼ばれる当社の QuadPod の専用バージョンと組み合わせることができます。 CFM、DSM ベースのソリューションを使用すると、ICT ピン/ネイルを介した刺激と応答を、バウンダリスキャン駆動およびセンシング機能と組み合わせて、ターゲット上のノードにアクセスできます。

JT37×7 ベースのソリューションは、バウンダリスキャンのアクセスによる高速フラッシュまたは PLD プログラミングを必要とするアプリケーションにより適しています。どちらのソリューションも Teradyne製の GUI によって制御され、完全なピン レベルの診断を含むレポートが Teradyne レポート ジェネレーターにフィードバックされます。

当社の ProVision 開発ツールを使用すると、バウンダリ スキャン ベースのテスト パターンを生成できます。このテスト パターンは、さらなる処理のために Teradyne テスト開発ツールに提供されます。

Symphony AP は、JTAG Technologies社 と Huntron社 のエンジニアとのチームワークの成果です。Symphony AP パッケージは、標準の QuadPod に JT37×7/TSI コントローラー、ProVision プラットフォーム、BSD 診断ソフトウェアを組み合わせたものです。このパッケージを使用すると、Huntron社 のロービング プローバによって提供されるプローブ アクセスとバウンダリ スキャン アクセスを 1 つのテストで組み合わせることができます。ProVision はプローブの配置も制御します。

Huntron社のシステムのアナログ シグネチャ解析 (IV トレース) 機能とバウンダリ スキャンを組み合わせることで、優れたミックスド シグナル テスター プラットフォームが作成されます。

JTAG Technologies社 は、イタリアの Seica Spa社 と長年にわたるパートナーシップを結んでおり、当社はフライング プローブとバウンダリ スキャン テストの統合を最も早くから開発しました。JTAG社の Symphony Pilot システムは、標準の JT37×7 DataBlaster ハードウェアを利用して、あらゆる Seica社の テスト プラットフォーム上でテストおよびインシステム プログラミング アプリケーションを実行および診断できるようにします。

JTAGテスト / バウンダリ スキャンと6TL社 の機能テスト装置 (FTE) ブランドの統合により、ボードとシステムのテスト要件の大部分に対応できる両方の長所を備えたソリューションが提供されます。バウンダリ スキャンと機能テストは補完的なテスト方法であるため、この組み合わせにより、全体的なコストが最小になり、予想される障害タイプを最大限にカバーする最適な戦略が得られることがよくあります。YAV9JTAG カードの組み込み JTAGコントローラー機能を使用すると、基本的なアプリケーションのコストとリソースのオーバーヘッドも削減されます。

テストおよびインシステム プログラミング アプリケーションは、JTAG Technologies社の開発ツール (JTAG ProVision または Classic) で生成され、6TL社のテスト環境に簡単にインポートできます。

Symphony 3070 製品は、JTAG Technologies社 の DataBlaster テクノロジー (JT37×7/APC) に基づく専用ハードウェアと、当社の ProVision ツールで開発されたバウンダリスキャン アプリケーションを 3070 テスター (Unix と Windows の両方) で実行できるようにするソフトウェアの組み合わせです。オペレーティング システムがサポートされています。結果と診断レポートは、Keysight社 / Agilent社の GUI に表示されます。

当社の JT37×7/APC コントローラー、実行ソフトウェア、診断ソフトウェアがバンドルされたソリューションは、JTAG Technologies社 を通じて Symphony 3070/APC-x7/PC または Symphony 3070/APC-x7/Unix として販売されます。

Viavi Solutions社 のエンジニアと協力して、42xx テスターに​​完全に適合する QuadPod の Viavi 専用バージョンを開発しました。この JT 2147/AGP は、標準の JT37×7 コントローラ (PCI または TSI) をフィクスチャ経由でターゲットに接続します。さらに、Viavi のピン カードとその GUI と対話する実行ソフトウェアの拡張バージョンが開発されました。デジタル信号は、バウンダリ スキャン経由で駆動し、Viavi マシンの I/O ピンで検出することも、その逆も可能です。結果と診断は Viavi 環境で表示されます。

JT37×7、JT2147/AGP、バウンダリ スキャン実行ソフトウェア、診断、MTL コントローラー コード レイヤーのバンドル ソリューションは、VIAVI社 経由で独占的に販売されます。詳細については、Viavi社 の Web サイトをご覧ください。

現在の 5800 シリーズ用の統合ソリューションも利用可能で、DataBlaster JT37×7/PXI の PXI バージョンをベースとしています。