JTAGテスト・バウンダリスキャンテスト

JTAGテストは0.5mmピッチ以下の狭ピッチBGA実装基板に有効なテスト手法です

JTAGテスト開発統合環境 JTAG ProVisionは、世界中のお客様が開発部門、製造部門、品質保証部門、保守部門で利用されています。民生機器、産業機器、車載機器、航空機器、工作機械、事務機器、医療機器など、あらゆる産業の電子機器のモノづくり現場の開発、テストと故障解析の効率を改善しています。

JTAGバウンダリスキャンテスト　7つのメリット

BGAを電気検査：BGA、狭ピッチQFP 実装基板の実装保証ができ、不良品の市場流出防⽌します
テストパターンを自動生成：テストアプリケーションの⾃動⽣成により検査準備の⼯数を削減します
故障診断の自動化：正確な故障診断により製造不良の再発防止を実現できます
テスト範囲の自動評価：テストカバレッジ評価ツールにより瞬時にカバレッジを確認できます
オンボード書き込み：JTAG経由でフラッシュメモリ、PLDの書き込みができます
治具の簡素化：ピン治具で必要とされるプローブの本数を削減できます。
廃棄基板の削減：JTAGテストは廃棄基板の削減により自然環境を保護します

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We are Boudary-scan

JTAG Technologies 社のバウンダリスキャン製品は、世界50か国以上の設計ラボや工場で使用されており、何千ものボードテストの問題を解決または防止してきました。 1993年以来、同社は、製造中および製造後に設計を検証し、プリント回路基板をテストするために、この優れたテスト方法を最新の状態に保つことをお約束し、常に改良し続けてきました。
アンドールシステムサポートは、JTAG Technologies社の日本総代理店として、1993年以来、国内のお客様をサポートしています。
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