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ものづくりの未来をサポートします。
プレスリリース一覧
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JTAGテスト / バウンダリスキャンテスト
JTAG
Technologies社のJTAGテストソリューションは、IEEE1149.1スタンダードの実装基板テストとして製品のライフサイクル全体で使用できます。
設計におけるデバッグ効率化、
プリント回路基板の実装保証、保守におけるBGA基板の故障解析まで、信頼性の高いテストソリューションです。
BGA部品、QFP部品、チップレットなどの3D
IC、部品内蔵基板まで、高密度実装基板のテストと解析をサポートします。
PXI/LXI自動テストシステム
ピカリング インターフェース社の自動テストソリューションは、テスト業界で標準化されたPXI /
LXIモジュールを組み合わせて自動テスト環境を構築できます。
スイッチングモジュールによる自動計測、センサーシミュレーションモジュールによる機能テスト、障害挿入モジュールによる安全性能テストまで、あらゆる手作業をWindowsアプリケーションから制御して、自動化をサポートします。
プレスリリース
ピカリング社、信号経路の設計とシステム導入を迅速化するテストシステムアーキテクトを発表
2026年3月5日 PXI / LXI / USB 自動計測システムプレスリリース
ピカリング社のテストシステムアーキテクトは、シグナル・スイッチングと配線システムに対応した初の専用グラフィカル設計ツールです。 Web上から利用できる、この無料の設計ツールは、システム構成ツール、回路図設計ツール、製品セレクタ、マイグレーションツールなどのソリューションに加え、ケーブル設計ツールやマイクロ波スイッチ設計ツールなどの過去にリリース済みのツールを備えており、エンド・ツー・エンドのワークフローに対応します。
–ネクスティエレクトロニクス社共同開催– 小型HDQFPパッケージの実装テストと故障診断を自動化！ 車載向けNXP最新マイコン S32K3活用セミナー
2026年1月29日 Arm社純正開発ツールJTAGテストプレスリリース
2026年2月20日にネクスティエレクトロニクス社と共同開催で 車載向けNXP最新マイコン S32K3活用セミナー(無料)を開催いたします。
オートモーティブワールド2026にアンドールシステムサポートは出展します
2025年12月26日 PXI / LXI / USB 自動計測システムプレスリリース
2026年1月21日(水)～23日(金)に東京ビッグサイト開催されるオートモーティブワールド2026にアンドールシステムサポートは出展します。
2026年開催ネプコンジャパンでJTAGテストのソリューションを展示します
2026年1月21日(水)～23日(金)に東京ビッグサイト開催される第40回 ネプコン ジャパンで、アズビル太信株式会社様のブース内に、アンドールシステムサポートは展示させて頂きます。
コラボセミナー開催のお知らせ「CRAとJC-STARに適合するためのセキュリティ対策 Arm TrustZone対応 リアルタイムOS」
2025年11月25日 Arm社純正開発ツールプレスリリース
2024年に発行された欧州連合(EU)のサイバーレジリエンス法(CRA)は2027年に強制となります。
CRAの発行に伴い、様々な国で、IoT機器や組み込みシステムのセキュリティが必須の時代となりました。
リアルタイムOSは、組み込みのアプリを作成する上で、プラットフォームとなる存在です。 その中で、μT-Kernel 3.0は、国際標準規格 IEEE2050-2018に上位互換の世界標準のリアルタイムOSです。
μT-Kernel 3.0は、Arm社が提供するセキュリティ機能Trust Zoneに対応し、リアルタイム性とセキュリティの機能を兼ね備えたアプリケーションの実行が可能です。 今回のセミナーでは、μT-Kernel 3.0のTrustZone対応と、CRAに対応するために 必須となるセキュリティに関連する情報をまとめて、紹介するセミナーとなっております。
