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プレスリリース一覧
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JTAGテスト / バウンダリスキャンテスト
JTAG Technologies社のJTAGテストソリューションは、IEEE1149.1スタンダードの実装基板テストとして製品のライフサイクル全体で使用できます。
設計におけるデバッグ効率化、 プリント回路基板の実装保証、保守におけるBGA基板の故障解析まで、信頼性の高いテストソリューションです。
BGA部品、QFP部品、チップレットなどの3D IC、部品内蔵基板まで、高密度実装基板のテストと解析をサポートします。
PXI/LXI自動テストシステム
ピカリング インターフェース社の自動テストソリューションは、テスト業界で標準化されたPXI / LXIモジュールを組み合わせて自動テスト環境を構築できます。
スイッチングモジュールによる自動計測、センサーシミュレーションモジュールによる機能テスト、障害挿入モジュールによる安全性能テストまで、あらゆる手作業をWindowsアプリケーションから制御して、自動化をサポートします。
プレスリリース
第38回 エレクトロニクス実装学会春季講演大会にて、タカヤ株式会社およびアンドールシステムサポート株式会社は、優秀賞を受賞しました
第38回 エレクトロニクス実装学会春季講演大会 春季講演大会の優秀賞を受賞しました。 MES2024 第34回 マイクロエレクトロニクスシンポジウムにて、授賞式が行われました。
アンドールシステムサポートは「2024国際航空宇宙展」に出展します
2024年9月10日 PXI / LXI / USB 自動計測システムプレスリリース
アンドールシステムサポートは、東京ビッグサイトで2024年 10月16日から開催される2024国際航空宇宙展に出展します。トレードデーのご入場には来場登録が必要です。会期前の事前登録で、入場料が無料となります
ピカリング インターフェース、半導体パラメトリック・テストにおける
低リーク電流測定に最適な新しいスイッチガード・モジュールを発表
2024年7月23日 PXI / LXI / USB 自動計測システムプレスリリース
ピカリング インターフェース社はWAT（ウェハ受け入れテスト）などの半導体パラメトリック・テストのアプリケーションにおいて非常に低い電流のドリブン・ガード測定に適した低リーク・スイッチング・ソリューション・ファミリを発表しました。このクロスプラットフォーム製品には、PXI、PXIe、LXIの各バージョンが用意されています。いずれもスイッチガードの設計思想に基づいており、設計全体で最大10の13乗Ωの絶縁抵抗を提供します。
「JTAG検査とフライングプローブテスタを組み合わせたハイブリッド検査システム」が第20回「JPCA賞（アワード）」を受賞しました。
「JTAG検査とフライングプローブテスタを組み合わせたハイブリッド検査システム」が第20回「JPCA賞（アワード）」を受賞しました。
JPCA Show 2024 / 2024 マイクロエレクトロニクスショーに出展します
2024年5月29日 JTAGテストPXI / LXI / USB 自動計測システムプレスリリース
アンドールシステムサポートは、東京ビッグサイトで2024/6/12(水)～6/14(金)まで開催される「JPCA Show 2024 / 2024 マイクロエレクトロニクスショー」に出展します。今年は、BGA実装基板、QFP実装基板用のJTAGテスト/バウンダリスキャンテストをご紹介します。また、半導体テスト、IoT機器のテスト用のPXI、LXI自動テストソリューションをご紹介します。
