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プレスリリース一覧
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JTAGテスト / バウンダリスキャンテスト
JTAG
Technologies社のJTAGテストソリューションは、IEEE1149.1スタンダードの実装基板テストとして製品のライフサイクル全体で使用できます。
設計におけるデバッグ効率化、
プリント回路基板の実装保証、保守におけるBGA基板の故障解析まで、信頼性の高いテストソリューションです。
BGA部品、QFP部品、チップレットなどの3D
IC、部品内蔵基板まで、高密度実装基板のテストと解析をサポートします。
PXI/LXI自動テストシステム
ピカリング インターフェース社の自動テストソリューションは、テスト業界で標準化されたPXI /
LXIモジュールを組み合わせて自動テスト環境を構築できます。
スイッチングモジュールによる自動計測、センサーシミュレーションモジュールによる機能テスト、障害挿入モジュールによる安全性能テストまで、あらゆる手作業をWindowsアプリケーションから制御して、自動化をサポートします。
プレスリリース
ピカリング インターフェース社が、航空宇宙/車載アプリケーション向けの 高速PXIレゾルバ・シミュレーション・モジュールを発表
2025年5月13日 PXI / LXI / USB 自動計測システムプレスリリース
PXI/PXIeシミュレータ・モジュールの新ファミリは、高度なサーボ・システムのテストに適した130,000RPMの高速回転レゾルバ・シミュレーションを実現します。
アンドールシステムサポートは「人とくるまのテクノロジー展 2025 横浜」に出展します
2025年4月16日 PXI / LXI / USB 自動計測システムプレスリリース
アンドールシステムサポートは2025年 5月21日～23日にパシフィコ横浜で開催される「人とくるまのテクノロジー展 2025 横浜」ノース会場内の英国パビリオンに出展します。
JPCA Show 2025 / 2025 マイクロエレクトロニクスショーに出展します
2025年4月8日 JTAGテストPXI / LXI / USB 自動計測システム
アンドールシステムサポートは、東京ビッグサイトで2025/6/4(水)～6/6(金)まで開催される「JPCA Show 2025 / 2025 マイクロエレクトロニクスショー」に出展します。今年は、BGA実装基板、QFP実装基板用のJTAGテスト/バウンダリスキャンテストをご紹介します。また、半導体テスト、IoT機器のテスト用のPXI、LXI自動テストソリューションをご紹介します。
IoT時代のセキュリティに備える！Arm Cortex-M23/M33の基礎
2025年2月21日 Arm社純正開発ツール
2025年3月26日(水) 13:00～16:00に「IoT時代のセキュリティに備える！ Arm Cortex-M23/M33の基礎 」をCQ出版社と共催します。
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事務所移転のお知らせ
2025年1月7日 プレスリリース
この度、弊社の事務所が川崎へ移転することになりましたので、お知らせ致します。なお、移転日は2025年1月20日を予定しており、同日より移転先にて平常通り業務を行う予定です。今後とも一層のご愛顧を賜りますよう、何卒お願い致します。
