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プレスリリース一覧
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JTAGテスト / バウンダリスキャンテスト
JTAG
Technologies社のJTAGテストソリューションは、IEEE1149.1スタンダードの実装基板テストとして製品のライフサイクル全体で使用できます。
設計におけるデバッグ効率化、
プリント回路基板の実装保証、保守におけるBGA基板の故障解析まで、信頼性の高いテストソリューションです。
BGA部品、QFP部品、チップレットなどの3D
IC、部品内蔵基板まで、高密度実装基板のテストと解析をサポートします。
PXI/LXI自動テストシステム
ピカリング インターフェース社の自動テストソリューションは、テスト業界で標準化されたPXI /
LXIモジュールを組み合わせて自動テスト環境を構築できます。
スイッチングモジュールによる自動計測、センサーシミュレーションモジュールによる機能テスト、障害挿入モジュールによる安全性能テストまで、あらゆる手作業をWindowsアプリケーションから制御して、自動化をサポートします。
プレスリリース
JPCA Show 2026 / 2026 マイクロエレクトロニクスショーに出展します
2026年6月1日 JTAGテストPXI / LXI / USB 自動計測システムプレスリリース
アンドールシステムサポートは、東京ビッグサイトで2026/6/10(水)～6/12(金)まで開催される「JPCA Show 2026 / 2026マイクロエレクトロニクスショー」に出展します。今年は、チップレット、BGA実装基板、QFP実装基板用のJTAGテスト/バウンダリスキャンテストをご紹介します。また、半導体テスト、IoT機器のテスト用のPXI、LXI自動テストソリューションをご紹介します。
アンドールシステムサポートは「人とくるまのテクノロジー展 2026 横浜」に出展します
2026年4月21日 PXI / LXI / USB 自動計測システムプレスリリース
アンドールシステムサポートは2026年 5月27日～29日にパシフィコ横浜で開催される「人とくるまのテクノロジー展 2026 横浜」ノース会場内の英国パビリオンに出展します。
ピカリング社、信号経路の設計とシステム導入を迅速化するテストシステムアーキテクトを発表
2026年3月5日 PXI / LXI / USB 自動計測システムプレスリリース
ピカリング社のテストシステムアーキテクトは、シグナル・スイッチングと配線システムに対応した初の専用グラフィカル設計ツールです。 Web上から利用できる、この無料の設計ツールは、システム構成ツール、回路図設計ツール、製品セレクタ、マイグレーションツールなどのソリューションに加え、ケーブル設計ツールやマイクロ波スイッチ設計ツールなどの過去にリリース済みのツールを備えており、エンド・ツー・エンドのワークフローに対応します。
–ネクスティエレクトロニクス社共同開催– 小型HDQFPパッケージの実装テストと故障診断を自動化！ 車載向けNXP最新マイコン S32K3活用セミナー
2026年1月29日 Arm社純正開発ツールJTAGテストプレスリリース
2026年2月20日にネクスティエレクトロニクス社と共同開催で 車載向けNXP最新マイコン S32K3活用セミナー(無料)を開催いたします。
オートモーティブワールド2026にアンドールシステムサポートは出展します
2025年12月26日 PXI / LXI / USB 自動計測システムプレスリリース
2026年1月21日(水)～23日(金)に東京ビッグサイト開催されるオートモーティブワールド2026にアンドールシステムサポートは出展します。
