Service solutions

JTAGバウダリスキャンは、製品の修理に掛かる時間を短縮するために役立ちます。 また、システムの更新のための書き換えにも役立ちます。

基板の修理などのサービスに対するJTAGの活用

JTAGデバイスが実装されている基板は、修理に役立ちます。

設計データが入手できない基板の故障個所を見つけたい場合

JTAGデバイスに含まれているバウンダリスキャンの機能を利用する事で、デバイスのピンの出力される値を制御したり、ピンに入力された信号を確認する事ができます。 JTAG Technologies社のAutoBuzzツールは、バウンダリスキャンを利用して、正常なボード上のJTAGデバイス間の接続関係を自動的に学習させることができます。 AutoBuzzが持つ、比較機能を利用することで、他の基板に対し、正常な基板上でのJTAGデバイス間の接続関係と、接続が一致するかどうか他の基板に対して比較して、評価する事ができます。

設計データが入手できる基板の故障個所を見つけたい場合

設計データが利用可能な場合、JTAG Technologies社のBuzzツールから、JTAGデバイスに入力される信号の変化を確認しながら、別のJTAGデバイスのピンから、信号をインタラクティブにGUIの操作を通じて出力させることで、ピン間の接続を確認することができます。
Buzzツールでは、アナログ的な変化は確認できませんが、あたかも、デバイスの内側から、配線に繋がるピンに対して、テスタのプローブを直接当てて、導通検査をするのと同じようにテストできます。

JTAG Live Studioに付属するClipツールや、JTAG ProVisionに付属するActiveテストを使用すと、連続して、複数のピンの値の制御や確認を行う任意のテストパターンを作成することができるので、JTAGデバイスの間に挟まれた、バッファや、単純な論理回路のようなデイバスに対し、簡単にテストを行う事ができるようになります。

ファームウェアを書き込まないプロセッサが実装されている基板のテスト方法

JTAG Technologies社のCoreCommanderは、Flashメモリのファームウェアの内容を書き換えることなく、マイクロプロセッサや、マイクロコントローラとメモリ及びI/Oデバイス間の接続を高速で検証するために利用することができます。また、CoreCommanderは、JTAG Technologies社のソフトウェアと、ハードウェアだけを使用しますので、その他のソフトウェア開発ツールやデバッグ用のハードウェアは必要としておりません。

開発や製造で利用しているJTAG ProVisionで作成されたテストパータンを製品の修理のために再利用するには

製品の設計中に使用された、または製造に使用されたバウンダリスキャンテストにアクセスできる場合は、これらのテストを修理などのサービスで直接、利用できます。ProVisionランタイムプラットフォームまたは、その他のランタイム環境。LabVIEW、LabWindows、TestStand、C、C++、C＃、. NET、Visual Basic、ATEasyを使用できます。

デバイスの書き込み

修理が完了した基板に対して、最新のファームウェアに更新しなくてはならない場合があります。JTAG Technologies社のツールは、事前に準備された書き込みファイルを利用して、そのまま、更新する事ができます。JTAG Technologies社のツールは、全てのFlashデバイスに対応することができます。

JTAGのインターフェース・ハードウェア

1TAPのJTAG Liveコントローラや、2TAPのJT 3705/USBコントローラは、基板上のJTAGチェーンにアクセスできる低コストの優れたソリューションです。また、オプションのJT2111 DIOSモジュールを使用する事で、バウンダリスキャンを介してアクセスする事ができます。