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プレスリリース一覧
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JTAGテスト / バウンダリスキャンテスト
JTAG
Technologies社のJTAGテストソリューションは、IEEE1149.1スタンダードの実装基板テストとして製品のライフサイクル全体で使用できます。
設計におけるデバッグ効率化、
プリント回路基板の実装保証、保守におけるBGA基板の故障解析まで、信頼性の高いテストソリューションです。
BGA部品、QFP部品、チップレットなどの3D
IC、部品内蔵基板まで、高密度実装基板のテストと解析をサポートします。
PXI/LXI自動テストシステム
ピカリング インターフェース社の自動テストソリューションは、テスト業界で標準化されたPXI /
LXIモジュールを組み合わせて自動テスト環境を構築できます。
スイッチングモジュールによる自動計測、センサーシミュレーションモジュールによる機能テスト、障害挿入モジュールによる安全性能テストまで、あらゆる手作業をWindowsアプリケーションから制御して、自動化をサポートします。
プレスリリース
オートモーティブワールド2026にアンドールシステムサポートは出展します
2025年12月26日 PXI / LXI / USB 自動計測システムプレスリリース
2026年1月21日(水)～23日(金)に東京ビッグサイト開催されるオートモーティブワールド2026にアンドールシステムサポートは出展します。
2026年開催ネプコンジャパンでJTAGテストのソリューションを展示します
2026年1月21日(水)～23日(金)に東京ビッグサイト開催される第40回 ネプコン ジャパンで、アズビル太信株式会社様のブース内に、アンドールシステムサポートは展示させて頂きます。
コラボセミナー開催のお知らせ「CRAとJC-STARに適合するためのセキュリティ対策 Arm TrustZone対応 リアルタイムOS」
2025年11月25日 Arm社純正開発ツールプレスリリース
2024年に発行された欧州連合(EU)のサイバーレジリエンス法(CRA)は2027年に強制となります。
CRAの発行に伴い、様々な国で、IoT機器や組み込みシステムのセキュリティが必須の時代となりました。
リアルタイムOSは、組み込みのアプリを作成する上で、プラットフォームとなる存在です。 その中で、μT-Kernel 3.0は、国際標準規格 IEEE2050-2018に上位互換の世界標準のリアルタイムOSです。
μT-Kernel 3.0は、Arm社が提供するセキュリティ機能Trust Zoneに対応し、リアルタイム性とセキュリティの機能を兼ね備えたアプリケーションの実行が可能です。 今回のセミナーでは、μT-Kernel 3.0のTrustZone対応と、CRAに対応するために 必須となるセキュリティに関連する情報をまとめて、紹介するセミナーとなっております。
EdgeTech+ 2025に出展します
2025年10月30日 Arm社純正開発ツールJTAGテストPXI / LXI / USB 自動計測システムプレスリリース
アンドールシステムサポートは、 パシフィコ横浜で2025年11月19日(水)～21日(金)まで開催される「EdgeTech+ 2025」に出展します。 今年は、Arm社純正開発ツール、Cortex-Mが実装されたマイコン向けの開発ツールであるKeil MDKと、チップレット、部品内蔵基板などの３次元実装基板、 BGA実装基板、QFP実装基板用のJTAGテスト/バウンダリスキャンテストをご紹介します。また、半導体テスト、IoT機器のテスト用のPXI、LXI自動テストソリューションをご紹介します。
ピカリング社が、試験システムの帯域幅、スループット、運用寿命を拡大する
新しいMEMSベースのMultiGBASE-T1 FIUを発表
2025年10月28日 PXI / LXI / USB 自動計測システムプレスリリース
速度と品質に優れたスイッチングと超長寿命を実現するMEMSスイッチを搭載することにより最高レベルの帯域幅を備えた障害挿入ユニットを実現
