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半導体試験用スイッチ

半導体試験用スイッチ

IC メーカーにとって、設計スケールの進化、ジオメトリの縮小、および新しい材料の使用により、ウェハー・レベルの信頼性テストがこれまで以上に重要になっています。これにより、生産プロセスのさらに上流で信頼性テストとモデリングが促進され、ウェーハに欠陥がある場合やパッケージ化されたデバイスに障害が発生した場合に失われる時間、生産能力、お金、および材料が削減されます。より多くの I/O 数をテストすると同時にコストを削減するという問題に直面した場合、多くの信頼性エンジニアは、従来のスイッチング ソリューションを使用してこれを解決できないことに気付きます。代わりに、エンジニアは、ニーズに合わせて拡張できるモジュール式の柔軟なソリューションにますます注目しています。

ピカリング社のモジュラー PXI および LXI マトリクス・スイッチ・ソリューションは、パッケージ・レベルおよびウェーハ レベルのテスト、ショート/オープン、キャパシタンス、過渡電荷トラップおよび SCPT (Single Charge Pulse Trapping) の I/V テストなど、多くの半導体テストの用途で使用されています。

ピカリング社の半導体テスト用マトリクス・スイッチ・ソリューション

  • 高品質な接続: ピカリング社の計装グレードのリード リレー により、経路抵抗が低く、繰り返し接続が可能
  • 複数のアナログ・バス: 並列テストによるスループットの向上
  • 多くのリレーを複数同時に閉じる事が可能: I/Vテストの為に複数のテスト・ポイントをGNDに接続可能
  • テストシーケンスをユニットに読み込む機能: トリガーを利用してテストの接続を切替えることで、テスト時間を短縮
  • 高速な動作:ピカリング社製リード・リレーの性能を活かしたマトリクス・スイッチ
  • 接続経路を容易に設定可能にするツール: ピカリング社製Switch Path Manager (signal routing software)
  • モジュラー設計: スケーラビリティとメンテナンスが容易

半導体試験モジュラー マトリックス スイッチング ソリューションの例

型番をクリックすると英国ピカリング社のページを開きます。

製品 特徴
高密度 LXI リード・リレー・マトリックス
(モデル 65-221)
LXI lxi-matrix-modular-scalable
  • 4つのY軸接続を備えたモジュラー・マトリックス設計
  • 最大6,144のクロスポイント構成が可能、Xの個数をプラグインの追加により拡張
  • 12 個または6個のアナログ・バス
  • 低レベルおよび高速スイッチング速度で最大の信頼性を実現する最高品質のルテニウム・リード・リレー
  • トリガー機能を備えたビルトインのスキャン・リスト・シーケンス保存機能
  • ピカリング社の診断テストツールによるサポート:
高密度単極 LXI マトリックス モジュール
(モデル 60-553 シリーズ)
LXI lxi-low-frequency-high-density-matrices
BRIC超高密度 PXI マトリクスモジュール
(モデル 40-558 シリーズ)
PXI pxi-very-high-density-matrices BRIC
  • モジュールあたり最大6,144のクロスポイントを備えた超高密度0.5Aマトリックス・スイッチ
  • 内蔵の高性能シールド・アナログ・バスを備えた統合 PXI モジュール
  • 信頼性の高いピッカリング社製ルテニウム・リード・リレーを使用して最大のパフォーマンスを実現
  • アナログ・バス幅の選択: 6、8、12、および 16 極とデュアル・アナログ・バスのオプション
  • 2、4、および 8 スロットの3UサイズのPXI モジュールを提供
  • ピカリング社の診断テストツールによるサポート:
高密度シングル・スロット PXI マトリクスモジュール
(モデル 40-584 シリーズ)
PXI pxi-very-high-density-matrices
高密度シングル・スロット PXIリード・リレー・モジュール
(モデル 40-54x シリーズ)
PXI pxi-very-high-density-matrices
  • 528のクロスポイントを備えた高密度シングルスロットの3UサイズのPXIリード・リレー・マトリックス・モジュール
  • リレーを部分的に実装する構成を使用してコストを最小化 (すべてのモデルで利用可能)
  • 10Wの最大電力で最大150V、0.5Aに切り替え
  • 最大300VDC/250VACかつ最大60Wの電力の切替えに対応
  • 高速動作速度 <300ms
  • ピカリング社の診断テストツールによるサポート:

PXI/LXI自動テストシステム

PXI/LXI自動テストシステム

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