半導体試験用スイッチ
IC メーカーにとって、設計スケールの進化、ジオメトリの縮小、および新しい材料の使用により、ウェハー・レベルの信頼性テストがこれまで以上に重要になっています。これにより、生産プロセスのさらに上流で信頼性テストとモデリングが促進され、ウェーハに欠陥がある場合やパッケージ化されたデバイスに障害が発生した場合に失われる時間、生産能力、お金、および材料が削減されます。より多くの I/O 数をテストすると同時にコストを削減するという問題に直面した場合、多くの信頼性エンジニアは、従来のスイッチング ソリューションを使用してこれを解決できないことに気付きます。代わりに、エンジニアは、ニーズに合わせて拡張できるモジュール式の柔軟なソリューションにますます注目しています。
ピカリング社のモジュラー PXI および LXI マトリクス・スイッチ・ソリューションは、パッケージ・レベルおよびウェーハ レベルのテスト、ショート/オープン、キャパシタンス、過渡電荷トラップおよび SCPT (Single Charge Pulse Trapping) の I/V テストなど、多くの半導体テストの用途で使用されています。
ピカリング社の半導体テスト用マトリクス・スイッチ・ソリューション
- 高品質な接続: ピカリング社の計装グレードのリード リレー により、経路抵抗が低く、繰り返し接続が可能
- 複数のアナログ・バス: 並列テストによるスループットの向上
- 多くのリレーを複数同時に閉じる事が可能: I/Vテストの為に複数のテスト・ポイントをGNDに接続可能
- テストシーケンスをユニットに読み込む機能: トリガーを利用してテストの接続を切替えることで、テスト時間を短縮
- 高速な動作:ピカリング社製リード・リレーの性能を活かしたマトリクス・スイッチ
- 接続経路を容易に設定可能にするツール: ピカリング社製Switch Path Manager (signal routing software)
- モジュラー設計: スケーラビリティとメンテナンスが容易
技術情報
半導体試験モジュラー マトリックス スイッチング ソリューションの例
製品 | 特徴 |
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微小電流計測用駆動ガード切替え LXI Scalableマトリックス・スイッチ (モデル 65-290-00x) |
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シングル・スロット PXI Switched Guard リード・リレー・モジュール (モデル 40-121 シリーズ) |
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シングル・スロット PXI Switched Guard マトリックス・スイッチ・モジュール (モデル 40-590 シリーズ) |
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型番をクリックすると英国ピカリング社のページを開きます。
製品 | 特徴 |
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高密度 LXI リード・リレー・マトリックス (モデル 65-221) |
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高密度単極 LXI
マトリックス モジュール (モデル 60-553 シリーズ) |
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BRIC超高密度 PXI マトリクスモジュール (モデル 40-558 シリーズ) |
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高密度シングル・スロット PXI マトリクスモジュール (モデル 40-584 シリーズ) |
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高密度シングル・スロット PXIリード・リレー・モジュール (モデル 40-54x シリーズ) |
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