システムに挑戦する アンドールシステムサポート株式会社

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プレスリリース

PXI / LXI / USB 自動計測システム

ピカリング インターフェース、半導体パラメトリック・テストにおける
低リーク電流測定に最適な新しいスイッチガード・モジュールを発表

ピカリング インターフェース社はWAT(ウェハ受け入れテスト)などの半導体パラメトリック・テストのアプリケーションにおいて非常に低い電流のドリブン・ガード測定に適した低リーク・スイッチング・ソリューション・ファミリを発表しました。このクロスプラットフォーム製品には、PXI、PXIe、LXIの各バージョンが用意されています。いずれもスイッチガードの設計思想に基づいており、設計全体で最大10の13乗Ωの絶縁抵抗を提供します。

JPCA Show 2024 / 2024 マイクロエレクトロニクスショーに出展します

アンドールシステムサポートは、東京ビッグサイトで2024/6/12(水)~6/14(金)まで開催される「JPCA Show 2024 / 2024 マイクロエレクトロニクスショー」に出展します。今年は、BGA実装基板、QFP実装基板用のJTAGテスト/バウンダリスキャンテストをご紹介します。また、半導体テスト、IoT機器のテスト用のPXI、LXI自動テストソリューションをご紹介します。

アンドールシステムサポートは「人とくるまのテクノロジー展 2024 横浜」に出展します

アンドールシステムサポートは2024年 5月22日~24日にパシフィコ横浜で開催される「人とくるまのテクノロジー展 2024 横浜」ノース会場内の英国パビリオンに出展しバッテリー・スタック・シミュレータ及び自動テストのデモを展示します。

EdgeTech+ 2023に出展します。

アンドールシステムサポートは、パシフィコ横浜で2023年11月15日(水)~17日(金)まで開催される「EdgeTech+ 2023」に出展します。 今年は、Arm社純正開発ツール、Cortex-Mが実装されたマイコン向けの開発ツールであるKeil MDKとリアルタイムOSを組合わせたデバッグ環境、 BGA実装基板、QFP実装基板用のJTAGテスト/バウンダリスキャンテストをご紹介します。また、半導体テスト、IoT機器のテスト用のPXI、LXI自動テストソリューションをご紹介します。

ピカリング インターフェース社、 LXIマイクロ波スイッチング/リレー・システムの構成を簡素化する 新しいマイクロ波スイッチ設計ツールを発表

ピカリングインターフェース社はフレキシブルなLXIマイクロ波スイッチング製品の構成を可能にする新しい無料のオンラインツールを発表しました。 この専用ツールはカスタムのLXI RF/マイクロ波スイッチング・システムの構成を簡素化し、5G、無線通信、半導体、医療、航空宇宙、防衛などの信号ルーティング・アプリケーション向けのシステムを構築するお客様に強力かつフレキシブルなマイクロ波設計機能を提供します。

ピカリング インターフェース社、動作寿命が300倍、テストシステム・スループットが60倍の新しいMEMSベースRFマルチプレクサを発表

電気テストと検証向けモジュラー型シグナル・スイッチング/シミュレーション・ソリューションのリーディング・サプライヤであるピカリング インターフェース社(本社:英国、クラクトン・オン・シー)は新しいスイッチング技術を搭載したPXI/PXIe RF(無線周波数)マルチプレクサ(MUX)モジュールの新シリーズを発表しました。 無線通信や半導体テストに最適なこの新しいMEMSベースのRFマルチプレクサは従来のEMR(電気機械式リレー)製品に比べ、動作寿命の大幅な延長(最大300倍)、動作速度の向上(最大60倍)、帯域幅の拡大、RF電力処理の向上を実現します。また、挿入損失はEMRと同程度で、ソリッドステート・スイッチよりもはるかに低いレベルを達成しています。

ピカリング インターフェース社、110GHzのシグナル・スイッチングが可能な業界初のPXI/PXIeマイクロ波リレー・モジュールを発表

ピカリング インターフェース社(本社:英国、クラクトン・オン・シー)は車載レーダーなどの新技術を含む要求の厳しいRF/通信アプリケーションに関連する110GHzのシグナル・スイッチングが可能なPXI/PXIeマイクロ波リレー・モジュールの新シリーズを発表しました。

JPCA Show 2023 / 2023 マイクロエレクトロニクスショーに出展します

アンドールシステムサポートは、東京ビッグサイトで2023/5/31(水)~6/2(金)まで開催される「JPCA Show 2023 / 2023 マイクロエレクトロニクスショー」に出展します。今年は、BGA実装基板、QFP実装基板用のJTAGテスト/バウンダリスキャンテストをご紹介します。また、半導体テスト、IoT機器のテスト用のPXI、LXI自動テストソリューションをご紹介します。

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