月別アーカイブ: 2015年12月
「第33回 エレクトロテスト ジャパン」出展情報
2015年12月7日 JTAGテスト
『基板検査の明るい未来』をテーマとして、JTAGテストのデモ、ユーザー事例、組込みシステム開発事例を展示し、大盛況の内に終了しました。 展示会名：ネプコン ジャパン2016内 第33回 エレクトロテスト ジャパン 開催日 …
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