『基板検査の明るい未来』をテーマとして、JTAGテストのデモ、ユーザー事例、組込みシステム開発事例を展示し、大盛況の内に終了しました。

- 展示会名:
- ネプコン ジャパン2016内 第33回 エレクトロテスト ジャパン
- 開催日時:
- 2016年1月13日(水) ~ 15日(金) 10:00~18:00(最終日は17:00終了)
- 展示会場:
- 東京ビッグサイト
展示概要 – アンドールのテストソリューション
1. JTAGテストシステム JTAG ProVision
JTAGテストを様々な検査装置と組合わせて検査工程を改善できます。
- BGAオープン不良を3秒で検出
- 検査タクトを88%短縮
- プローブピンを53%削減
2. 検査を見込んだシステム開発
アンドールの豊富な経験とノウハウでお客様の想いを実現します。
- テスト容易化設計 DFT
- ハード設計、ソフト設計、FPGA設計
- JTAGテスト技術サポート
3. 手動計測”ゼロ” PXI計測システム
お客様の御要望に合わせた自動計測システムを実現します。
- PXI自動計測システム
- オートモーティブ自動計測
- フォルトインサーションテスト
- JTAG基板実装検査
ブースの位置
小間番号は 『E15-002 』 です。
当社ブースは、東2ホール出入口を入り、左に曲がって、左側3つ目のブロックです。
