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ピカリング インターフェース、半導体パラメトリック・テストにおける
低リーク電流測定に最適な新しいスイッチガード・モジュールを発表

2024年7月23日 PXI / LXI / USB 自動計測システムプレスリリース

ピカリング インターフェース社はWAT（ウェハ受け入れテスト）などの半導体パラメトリック・テストのアプリケーションにおいて非常に低い電流のドリブン・ガード測定に適した低リーク・スイッチング・ソリューション・ファミリを発表しました。このクロスプラットフォーム製品には、PXI、PXIe、LXIの各バージョンが用意されています。いずれもスイッチガードの設計思想に基づいており、設計全体で最大10の13乗Ωの絶縁抵抗を提供します。