タカヤ株式会社およびアンドールシステムサポート株式会社は、「JTAG検査とフライングプローブテスタを組み合わせたハイブリッド検査システム」で、第20回「JPCA賞（アワード）」を受賞しました。
今回受賞の「JTAG検査とフライングプローブテスタを組み合わせたハイブリッド検査システム」では、タカヤ株式会社様のフライングプローブテスタとJTAGバウンダリスキャンテストを連携し、それぞれの検査手法の相互補完によって、高密度実装基板のテストカバレッジを最大限拡大でき、より正確な故障診断を可能とする新たなシステムを紹介しました。
JPCA賞（アワード）とは
JPCA賞（アワード）は、一般社団法人日本電子回路工業会（Japan Electronics Packaging and Circuits Association）が主催・運営する「JPCA Show
2024（電子機器トータルソリューション展）」の展示会出展者を対象としたアワードです。応募のあった発表内容の『独創性（独自性・オリジナリティ）』、『産業界での発展性・将来性』、『信頼性』、『時世の適合性』を審査基準として、学術界、電子回路業界、専門誌編集者等有識者の方々で構成するJPCA
賞（アワード）選考委員会によって厳正な審議を行い、電子回路技術及び産業の進歩発展に顕著な製品・技術への表彰制度として2005年より実施しされています。
https://www.jpcashow.com/show2024/jp/event/jpca_award.html
受賞理由(ご講評引用)
「下面電極であるBGA実装後の電気検査をJTAGとフライングプローブテストを組み合わせることで効率良い検査として業界に貢献することが期待される」
受賞製品 フライングプローブテスト
JTAGバウンダリスキャンテストとの連携 | タカヤ株式会社 産業機器事業部サイト (takaya.co.jp)
https://www.takaya.co.jp/fa/products/bst/
受賞製品 JTAGバウンダリスキャンテスト
JTAG検査 (JTAGテスト・バウンダリスキャンテスト)の詳細
https://www.andor.jp/jtag/
タカヤ株式会社のフライングプローブテスタ向けATEインテグレーション
https://www.andor.jp/jtag/products/ate-integration/
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