Marvin Test Solutions は、エアロスペースで培った高精度・高信頼のテスト技術をベースに、航空宇宙・半導体・製造／生産の各分野向けに機能テストシステムとテスト開発ソフトウェアを提供しています。いずれも PXI ベースのモジュラー・オープンアーキテクチャを採用しており、必要なチャンネル数・計測機能に合わせて構成でき、将来の拡張や計測器の更新も容易です。
航空宇宙（Aerospace）
GENASYS は、衛星・航空電子機器をはじめとするミッションクリティカル用途向けの超高性能ミックスドシグナル・テストプラットフォームです。スケーラブルなアーキテクチャにより、最大 4,500 点の「any resource to any pin（どの計測リソースもどのピンへも）」インターフェースに対応し、クラス最高水準のデジタル性能を備えています。チャンネル数の少ない用途には、あらかじめ構成済みのベンチトップ型（GENASYS Benchtop）をご用意しています。
いずれも導入初日から使えるプリコンフィグレーション済みのオープンアーキテクチャで、アナログ・デジタル・ミックスドシグナルのテスト要件に対応します。テストシステムそのものの開発ではなく、お客様のテストアプリケーション開発に注力いただけます。テスト実行・開発環境には ATEasy を採用。Teradyne L200／L300、GenRad 2750 のリプレース用途にも適しており、LASAR ベースのテストプログラムを移行するツールもご用意しています。
| シリーズ | 概要 |
|---|---|
| TS-321 シリーズ | GENASYS 航空宇宙向けテストシステム。PXI ベースでコンパクト、オープンアーキテクチャで拡張性を確保 |
| TS-322 シリーズ | GENASYS 車載向けテストシステム。コンパクトなオープンアーキテクチャと拡張性 |
| TS-323 シリーズ | GENASYS 衛星向けテストシステム。PXI ベースの小設置面積・拡張性 |
| TS-700 シリーズ | GENASYS Benchtop。アナログ／デジタル／ミックスドシグナル／アビオニクス用途向けの構成済み機能テストプラットフォーム |
オートモーティブ（Automotive）
GENASYS プラットフォームの車載向け構成が TS-322 シリーズです。PXI／PXIe ベースのコンパクトなオープンアーキテクチャで、ハイブリッド／マルチプレクス・ピンに対応し、高価値かつミッションクリティカルな製品のミックスドシグナル・テストに対応します。スケーラブルなアーキテクチャにより最大 4,500 点のインターフェース・テストポイントまで拡張でき、GENASYS のスイッチング・アーキテクチャが「any resource to any pin（どの計測リソースもどのピンへも）」の信号ルーティングを実現します。
コア構成は、GENASYS スイッチングサブシステム（GX7016）と 21 スロットの PXIe シャーシ（GX7212）、MAC Panel SCOUT レシーバの組み合わせです。標準で 6.5 桁 DMM、2 チャンネル 250 MS/s 任意波形発生器、48 チャンネルのアナログ I/O ソース／メジャー計測器を搭載し、オプションで 4 チャンネル DPO、ミリオーム計、各種スイッチングカード、映像サブシステム（HDMI／DVI フレームグラバ、パターンジェネレータ等）を追加できます。
通信インターフェースは 2 ポートの CAN バス、Ethernet、RS-232／422／485 に対応。ユーザ電源にはプログラマブル電源メインフレームと電子負荷を組み込めるため、被試験体への電源供給と負荷試験を同一システム内で行えます。テスト実行・開発環境には ATEasy を採用し、スイッチングの制御を簡素化する SwitchEasy も付属します。
| 項目 | 内容 |
|---|---|
| システム | TS-322 シリーズ（GENASYS オートモーティブ テストシステム） |
| アーキテクチャ | PXI／PXIe ベース。any resource to any pin のスイッチング |
| 規模 | 最大 4,500 点のマルチプレクス・ピン接続まで拡張可能 |
| 標準計測器 | 6.5 桁 DMM、2ch 250 MS/s AWG、48ch アナログ I/O ソース／メジャー |
| 通信 I/F | CAN バス 2 ポート、Ethernet、RS-232／422／485 |
| 電源・負荷 | プログラマブル電源メインフレーム、電子負荷（オプション） |
| ソフトウェア | ATEasy（テスト実行・開発環境）＋ SwitchEasy |
※LIN／FlexRay／車載 Ethernet など CAN 以外の車載ネットワーク、ECU 固有の評価項目への対応可否は構成により異なります。要件をお知らせいただければ、構成のご提案とあわせてご回答します。
車載分野のテストについては、自動車産業向けソリューションのページでも、障害挿入やセンサーシミュレーションを含む事例をご紹介しています。
半導体（Semiconductor）
GENASYS の半導体テストソリューションは、5G ミリ波、デジタル IC、MOX ガスセンサなど幅広いデジタル／ミックスドシグナル用途に適した性能・スケーラビリティ・柔軟性を備えています。モジュラー式のオープンシステム・アーキテクチャにより、システムの増設や計測器のアップグレードが容易で、テストコストと設置面積を大幅に削減できます。
TS-900e-5G は、53 GHz までの真の独立マルチポート並列量産テストに対応し、マルチサイトテストも可能です。ギャップのないベクトル相関 VNA 測定により高品質な RF テストを実現し、レシーバ・インターフェースはウェハプローブとパッケージデバイスの両方に対応。OSAT が求めるスループットを満たします。
ソフトウェアは、テスト開発・実行環境の ATEasy に加え、半導体量産向けアドオンの SemiEasy、STIL／WGL／EVCD・VCD からのベクタ変換ツールなどをご利用いただけます。
| シリーズ | 概要 |
|---|---|
| TS-900e-5G シリーズ | 半導体量産テストプラットフォーム。DC〜ミリ波、100 MHz ベクタレート |
| TS-960e シリーズ | 半導体量産テストプラットフォーム。DC〜ミリ波、125 MHz ベクタレート |
| TS-960e-5G | ミリ波デバイスの量産テストおよび特性評価 |
| TS-900e シリーズ | オープンアーキテクチャの統合半導体テストプラットフォーム |
| MTEK シリーズ | 既存半導体テストシステムの拡張・アップグレード（RF／アナログ／デジタル） |
製造・生産（Manufacturing & Production）
GENASYS Ultra と GENASYS Benchtop のミックスドシグナル・テストプラットフォームは、要求の厳しい製造・産業用テスト用途に妥協のないソリューションを提供します。数十チャンネルから数千チャンネルまで容易にスケールでき、モジュラー式オープンシステム・アーキテクチャ（MOSA）により、優れたアナログ／デジタル計測性能と「any resource to any pin」の信号ルーティングを両立。他に類のない構成の自由度を実現します。
こちらも導入初日から使える構成済みプラットフォームで、テスト実行・開発環境の ATEasy を組み合わせることで、テストアプリケーションの開発と保守を効率化できます。Teradyne L200／L300、GenRad 2750 のリプレースや、LASAR ベースプログラムの移行にも対応します。
| シリーズ | 概要 |
|---|---|
| TS-700 シリーズ | GENASYS Benchtop。コスト効率の高い構成済み機能テストソリューション |
| TS-322 シリーズ | GENASYS 車載向けテストシステム |
| TS-321 シリーズ／TS-323 シリーズ | GENASYS 航空宇宙向け／衛星向けテストシステム |
| TS-305 | Summation SigmaSeries のリプレース用 PXI ベースシステム |
| TS-900e／TS-960e シリーズ | 半導体量産テストシステム（製造ライン向け構成） |
ソフトウェア（Software）
ATEasy は、テスト実行（テストエグゼクティブ）と開発環境を統合した機能テスト用ソフトウェア開発環境です。テストの実行・シーケンス制御・故障解析・デバッグに対応したカスタマイズ可能なテストエグゼクティブを備え、開発と検証を高速化する各種ツール、シミュレーション機能、ロイヤリティフリーのランタイム実行環境を提供します。
オープンアーキテクチャを採用しており、GPIB、VXI、PCI／PXI、USB、LXI／TCP-IP、シリアル通信、DLL、ActiveX、.NET アセンブリ、HTML、VXI Plug&Play ファンクションパネル・ドライバ、IVI ドライバ、LabVIEW VI、C ヘッダファイルなど、業界標準のハードウェア／ソフトウェア・インターフェースを容易に利用できます。波形生成、デジタル I/O、LASAR 変換、半導体ベクタ変換、校正、IC テスト向けのプラグインもご用意しています。
| 製品 | 概要 |
|---|---|
| ATEasy | テストエグゼクティブ＋統合開発環境。テストの実行・シーケンス・デバッグ・故障解析 |
| DIOEasy | デジタル I/O 向けベクタ開発ソフトウェア（GX5050／GX5150／GX5280／GX5290／GX5295 対応） |
| DIOEasy-FIT | STIL／WGL／VCD・EVCD 形式のデジタルベクタを取り込み・変換するツール |
| DtifEasy シリーズ | LASAR シミュレーション由来の IEEE-1445 準拠ファイルを変換・実行する診断テストソリューション |
| WaveEasy | 数式や手描きで波形を作成・編集できるアナログ波形開発／解析ソフトウェア |
| CalEasy シリーズ | Marvin Test Solutions 製計測器の校正・検証を自動化 |
| ICEasy | 半導体テスト用途向けの統合ソフトウェアツール群 |
※軍事（Military）向けテストソリューション、およびポータブル／ハンドヘルド（兵装テストセット中心）は取扱対象外です。