2015年12月

「第33回 エレクトロテスト ジャパン」出展情報

『基板検査の明るい未来』をテーマとして、JTAGテストのデモ、ユーザー事例、組込みシステム開発事例を展示し、大盛況の内に終了しました。 展示会名： ネプコン ジャパン2016内 第33回 エレクトロテスト ジャパン 開催 […]