2025年開催ネプコンジャパンでJTAGテストと自動テストのソリューションを展示します

2025年1月22日 (水) ～ 24日(金) に東京ビッグサイト開催される第39回 ネプコン ジャパンで、アズビル太信株式会社様のブース内に、アンドールシステムサポートは展示させて頂きます。

1. BGA実装基板の効果的な実装検査システム、「JTAG Boundary-scan Testシステム」
2. ECUの開発現場で検証作業を効率化するための自動検査システム、「ピカリグインターフェース社製PXIモジュール」
• USB / LXIモジューラシャーシ ( ピカリング インターフェース社 )
• オートモーティブ & IoT機器用　自動テストソリューション ( ピカリングインターフェース社)

JTAGテスト/バウンダリスキャンテストの展示内容

BGA実装基板、QFP実装基板テストのIEEE1149.1規格「JTAGテスト/バウンダリスキャンテスト」をご紹介します。

1. わずか3秒でBGA実装基板の実装保証ができます。
2. テストアプリケーションを自動生成できます。
3. 不良箇所をピンポイントで特定することができます。

ブースでは、JTAGテストの開発統合環境「JTAG ProVision」の自動テストのデモをご覧いただけます。

LXIを利用した自動計測のデモを展示します

自動テストを実現するために、ピカリング社のPXIスイッチモジュールおよびLANケーブル一本でPCから制御可能なLXIモジュラー・シャーシや、LXI規格対応の 計測機を組合わせて自動テストを実現するデモとなておりま。