JTAGバウンダリスキャン・テストツールについて

　　－BGA搭載基板、部品内蔵基板をテストする唯一のテストシステム　５つのメリット－

　　　 ■ ボード上のはんだ不良、パターン故障を瞬時に検査・解析できる！

　　　■ わずか5本の信号でボードテストができるため、ピン治具のコストを削減できる！

　　　■ 豊富なサポートメンバーが高品質な技術サポートで客様の製品検査をサポート！

　　　■ ウィザードにより、テストコードが自動生成。ファンクションテストのプログラム工数を削減！

　　　■ 検査のトータルコストを大幅に削減！


■ 無料JTAGテストツール『JTAG LIVE BUZZ』		■気軽で役立つサイトを公開しました！
	JTAG Liveは BGA等の高密度実装基板の実装デバッグを支援します	JTAGブレークは、多忙な設計及び生産に携わる技術者の方々に、コーヒーブレーク的な　感覚で気軽に読んで頂ける組込み関連の技術情報をお届けします。
■ JTAGテストツール事例説明		■ 組込み総合技術展　　　　　　ET2011に出展致しました。
	インテル社マザーボードのテストに適用した実績をご紹介します	弊社は、2011年11月16日より開催される　組込みシステム開発技術展ET2011に　出展いたしました。ご来場ありがとうございました。　会場の様子を動画で公開中！　　①弊社　ARM Cortex A8搭載基板のデモ　　 ②ローム様　インテルATOM搭載基板のデモ
■ JTAG/バウンダリスキャンテスト　　　　無料トライアルお申し込み募集中		■ エレクトロテスト（ネプコン内）2012出展が決定
	お客様の基板で、JTAGテストの無料トライアルを行っております。	次回のエレクトロテスト展に出展を致します。　（会期　：　2012年1月18日(水)～20日(金)　）　展示会の概要については、こちらを御覧ください。