NEPCON2016LOGO

『基板検査の明るい未来』をテーマとして、JTAGテストのデモ、ユーザー事例、組込みシステム開発事例を展示し、大盛況の内に終了しました。

JTAG_Controller
展示会名：
ネプコン ジャパン2016内 第33回 エレクトロテスト ジャパン
開催日時：
2016年1月13日(水) ～ 15日(金) 10:00～18:00（最終日は17:00終了）
展示会場：
東京ビッグサイト

展示概要 – アンドールのテストソリューション

1. JTAGテストシステム JTAG ProVision

JTAGテストを様々な検査装置と組合わせて検査工程を改善できます。

  • BGAオープン不良を３秒で検出
  • 検査タクトを88%短縮
  • プローブピンを53%削減

2. 検査を見込んだシステム開発

アンドールの豊富な経験とノウハウでお客様の想いを実現します。

  • テスト容易化設計 DFT
  • ハード設計、ソフト設計、FPGA設計
  • JTAGテスト技術サポート

3. 手動計測”ゼロ” PXI計測システム

お客様の御要望に合わせた自動計測システムを実現します。

  • PXI自動計測システム
  • オートモーティブ自動計測
  • フォルトインサーションテスト
  • JTAG基板実装検査

ブースの位置

小間番号は 『E15-002 』 です。

当社ブースは、東２ホール出入口を入り、左に曲がって、左側３つ目のブロックです。

ej2016map