JTAG設計ソリューション
パーツ集テスト用リンク（type=software-design-tool）
ボードを簡単にデバッグできる無料のソリューション、JTAGエミュレーションテストソフトウェアから完全なJTAGバウンダリスキャン統合開発環境(IDE)まで、幅広い設計ソリューション(JTAGデバッグツール)を提供しています。
新製品の設計は、できるだけ早く生産の準備ができている必要があります。設計は、生産歩留まりを最適化するために十分に「テスト可能」である必要があります。テスト用設計(DfT)ガイドラインと解析ツールは、設計エンジニアが余分な設計時間を費やすことなくテスト可能な設計を作成するのに役立ちます。プロトタイプのデバッグ中、JTAG/バウンダリスキャンツール(JTAGハードウェアデバッガ)は、設計エンジニアが設計上の問題に集中し、はんだ付け不良やその他のアセンブリエラーによって引き起こされる「些細な」接続の問題を見つけるために貴重な時間を無駄にしないようにするのに役立ちます。
設計ソリューション
デザインのデバック
新しいデザインを起動するときにエラーが表示された場合、ハードウェア デバッグ ツールを使用すると、デザイン エラーや、はんだ付けされていないデバイス ピンなどの接続の欠落が誤動作の原因であるかどうかを判断できます。JTAG テクノロジのハードウェア デバッグ ツールは、デザインで JTAG デバイスの境界スキャン機能を使用します。BuzzとBuzzPlusを使用すると、信号のアクティビティを観察し、その接続を呼び出し音を鳴らすことで、接続の存在をインタラクティブに確認できます。クリップ/アクティブテストを使用して、JTAGデバイスのピンに接続された非JTAGデバイスの入力と出力を駆動および検出します。また、CoreCommanderを使用すると、組み込みソフトウェアやファームウェアを必要とせずに、マイクロプロセッサまたはマイクロコントローラとメモリおよびI/Oデバイス間の接続を高速で検証できます。
デバイスプログラミング
製品開発では、FPGAとCPLDを、これらのデバイス用にデザインステーションが提供するハードウェアとソフトウェアを使用してプログラムします。フラッシュメモリとマイコン/DSP(エンベデッドフラッシュ)は、組込みソフトウェアの開発やデバッグのためのツールを使用してプログラムされます。当社の「インシステムデバイスプログラミングガイド」は、製造プロセス中のスループットを向上させ、利便性を向上させるための貴重な情報を提供します。
テストソリューション
JTAGテストソリューションで生産ラインを完成させる
テスト用設計(DfT)ルールは、アセンブリエラーを検出するためのテストプロセスを最適化するのに役立ちます。最新の設計では、テストにJTAGバウンダリスキャンを使用しています。デバイスのバウンダリスキャンは、デバイスパッケージに関係なくそのピンへのアクセスを提供し、最大のフォルトカバレッジを可能にします。テスト容易性分析を使用すると、設計の何パーセントをバウンダリスキャンでテストできるかを判断できます。当社の小冊子「Board DfTガイドライン」は、設計のバウンダリスキャンテストの容易性を最適化するのに役立ちます。
テスト開発
テスト容易化設計「Design-for-Manufacturing（DfM）」のルールは、実装不良を検出するためのテストプロセスを、最適化することにより、製品の製造コストを削減するために役立ちます。
LSI pacageIEEE 1149.1規格のJTAGバウンダリスキャンテストの機能を利用することで、デバイスのパッケージの種類に影響されることなく、例えば、BGAの様に、表面から、デバイス端子に触れることができないようなパッケージを採用したデバイスであっても、ピンにアクセスし、基板全体にテストが可能な範囲を拡大することができます。
JTAG ProVisionが提供する解析機能を利用すると、JTAGバウンダリスキャンテストの機能を利用して、基板全体の配線やデバイスへの配線確認テストなどを実施できる割合を求めることもできます。「JTAG技術レポート」では、お客様の、基板に、テスト容易化設計を行うために役立つ情報を提供しております。
ランタイムソリューション
JTAG Technologies社では、基板全体に対するテストシーケンスを実行するためのソリューションとして、スタンドアローンの、JTAG ProVision単体の製品の他にも、プロダクション統合パッケージを用意しております。
プロダクション統合パッケージは、LabVIEW、LabWindows、TestStand、C、C ++、C＃、. NET、Visual Basic、ATEasyなどのプログラミング言語を利用して、JTAG ProVisionで作成されたテストパターンを実行することができる、ランタイムのDLLとドキュメントの形で提供しております。
また、Agilent、Teradyne、Digital Test、Seica、Spea、Cobham、Takayaなどのインサーキットテスターおよびフライングプローブテスター用の認定パッケージSymphonyもご利用いただけます。
