大盛況の内に終了いたしました。
ご来場頂き誠にありがとうございました。


アンドールシステムサポートは、JTAG実装検査ツールの普及振興のため、JTAGフォーラムを開催致します。

JTAGフォーラム2016 東京は、ご好評いただいた2015年のJTAGフォーラムとほぼ同じ内容で、講演いたします。

開催日時：
2016年2月23日 火曜日　13:00 -17:00（12:30より受付）※定員間近
2016年3月 4日 金曜日　13:00 -17:00（12:30より受付）
東京会場：
アンドールシステムサポート株式会社 東京本社
会場へのアクセス
参加費：
無料でご参加いただけます。
お申込み方法：
こちらのお申込みページより承ります。

JTAGフォーラム2016 プログラム

1. JTAGテスト技術解説と 最新 JTAGテストシステム
～半導体パッケージの進化とBGA実装基板の検査手法～

増え続けるBGA搭載基板と将来の部品内蔵基板、3次元LSI 時代における実装基板検査の課題とJTAGテストの進化をご紹介します。

  • IEEE1149規格　JTAGバウンダリスキャン解説
  • わずか5本の信号で基板全体を検査する仕組み
  • JTAGテストのテストコード自動生成と実行、故障診断
  • BGAオープン不良（未接合）とブリッジ不良を特定する方法
  • BGAパッケージの実装不良を改善するヒント

2. 国内8社の事例にみるJTAGテストの活用と効果
～実装基板の検査手法とJTAGテストの活用～

国内の開発現場、製造現場で起きている問題とJTAGテストによる課題解決を8社のJTAGテスト導入事例でご紹介します。

  • 開発現場での活用と開発期間短縮
  • 製造現場での活用と検査コスト削減
  • サービス現場での活用と修理コスト削減

3. JTAGテストによる基板検査のロードマップ
～様々な検査手法の特徴とJTAGテスト複合検査～

多くの企業が抱える実装基板検査の課題と解決策をご紹介します。

  • 自動外観検査の長所と短所
  • インサーキットテスタの長所と短所
  • X線検査の長所と短所
  • ファンクションテストの長所と短所
  • JTAGテストの長所と短所
  • JTAGテスト複合検査

JTAGバウンダリスキャンを活用されるお客様との情報交換の機会としてもご活用ください。


会場

開催日時：
2016年2月23日 火曜日　13:00 -17:00（12:30より受付）※定員間近
2016年3月 4日 金曜日　13:00 -17:00（12:30より受付）
会場名：
アンドールシステムサポート株式会社 東京本社
住所：
〒140-0004 東京都品川区南品川2-15-8
最寄駅：
京浜急行 青物横丁駅より徒歩 10分　（急行・特急・各駅停車）
りんかい線 品川シーサイド駅より徒歩10分（各駅停車）