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ハードウェア

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バウンダリスキャンテストおよびプログラミング アプリケーションの信頼性は、それらが実行されるハードウェアと同等です。JTAG Technologies社(ジェイタグ テクノロジーズ社) は、業界で最も信頼性の高い IEEE 1149.x 高速およびパフォーマンスの JTAGコントローラー、JTAGインターフェイスなどを備えています。設計、生産、製造およびサービス時のテストおよびプログラミング アプリケーションを確実に実行するために、さまざまなパフォーマンス機能とフォーム ファクターを備えたさまざまなコントローラーから選択できます。

JTAG Technologies社の設計者は、30 年以上にわたって高速デジタル テスト装置を開発してきました。現在のコントローラのラインナップは、コンパクトでスタイリッシュで信頼性の高い JT3705/USB から、産業用に開発された堅牢で信頼性の高い DataBlasterファミリ および バリアントまで多岐にわたります。最新の JT5705/USB は、アナログ測定機能とソース機能を追加して、ミックスシグナル テスター プラットフォームを提供します。

バウンダリスキャンコントローラー

JTAG Live コントローラー

JTAG Liveコントローラーは USBバスパワーで動作します。JTAG Technologies社標準ピンアサインの10ピンのIDCコネクタから単一のテスト アクセス ポート(TAP)を備えています。JTAG Live コントローラーは、スマートで低コストの使いやすい USB JTAG / バウンダリスキャン インターフェースです。

テストクロック TCKの周波数は、最大 6 MHz で、プログラム可能なTAP出力電圧と入力しきい値も備えています。

JTAG Live コントローラーは、JTAG Live ソフトウェアとJTAG ProVisionの両方で使用できる互換性があります。

特徴

  • 1ポート バウンダリスキャンコントローラー
  • セットアップと使用が簡単
  • 軽量でポケットサイズ
  • 低価格

JT3705/USB EXPLORER

JT3705/USB Explorer は、低コストで 2ポートの JTAGバウンダリスキャン コントローラ インターフェースです。USBバスパワーで動作し、PLD の少量ロットのテストとインシステム プログラミングに特に適しています。JT3705/USB Explorerは、テスト目的で同期できる 2 つの完全準拠バウンダリスキャン テストアクセスポート (TAP) をサポートします。

最大 6MHz の TCK 周波数とプログラム可能な出力電圧と入力しきい値を備えています。

JT3705/USB は、複数のコントローラーを同期して、1つ検査対象をテストできるようにするJTAG ProVisonの機能に対応しています。

特徴

  • 2ポート バウンダリスキャンコントローラー
  • 高速なテスト実行
  • 幅広い互換性
  • 軽量でポケットサイズ
  • 低価格

利点

  • 2 つの別々の IEEE 標準 1149.x テスト アクセス ポート (TAP) による多用途な操作
  • プログラム可能な TCK 周波数 (最大 6MHz) と TAP 信号しきい値
  • ホストPCからUSBバスパワーから電源供給
  • 標準 JTAG ピン配置ケーブルと「フライ​​ング リード セット(ばら線ケーブル)」が付属

アプリケーション

JT3705/USB は、設計エンジニアのハードウェアデバッグ、フィールドサービス・修理、および少量生産アプリケーションを対象としています。

仕様

  • USB 1.1および2.0フォーマットと互換性があります
  • 2 つの完全準拠 1149.x TAP
  • TCK 最大周波数 6 MHz
  • プログラム可能なTAP電圧
  • 幅57mm×奥行き79mm×高さ16mm
  • 重量 49g

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JT5705 ミックスドシグナル JTAG テスター USB

JT5705 シリーズは、JTAG TAP コントローラ (テスター) インターフェイスとデジタルおよびアナログ I/O のユニークな組み合わせをコンパクトなパッケージにしたJTAGコントローラです。

「ミックスドシグナル(デジタル・アナログ混合信号」機能を使用して、電源、クロック周波数を測定したり、DAC や ADC をテストすることができます。CoreCommander FPGA の汎用ブリッジ/トランスレータ システムを使用して、独自の機能を追加します。

JT5705/USB バージョンは、2つの TAP と 64ch の I/O を備えたデスクトップ モデルで、ハードウェアの検証や小規模な生産テストに最適です。最大 TCK 周波数は 15 MHzで、すべての電圧は完全にプログラム可能です。JT5705/FXT は、PCB アセンブリとしてのみ供給される「フィクスチャ」バージョンであり、アプリケーションに応じてオプションの「ブレークアウト」ボードが利用可能です。

特徴

  • 2ポート バウンダリスキャンコントローラー
  • 最大64ch のMIOSチャネル
  • 周波数を測定する
  • 最大 8 つのアナログ IO
  • USBインターフェース

利点

  • 高性能 JTAG TAPコントローラー
  • アナログおよびデジタル I/O チャンネルを搭載
  • 複数のユニットをリンクしてチャネル数を増やす
  • 組み込みFPGAを介してユーザーが構成可能な機能
  • 魅力的でコンパクトなデスクトップエンクロージャ

アプリケーション

JT5705/USB – プロトタイプのデバッグ、ハードウェア検証、および実装密度が中程度の実装基板(PCB)の小規模生産テストで、特にミックスドシグナル設計の基板に適しています。

仕様

JT5705/USB

  • 2つの 1149.x 準拠テストアクセス ポート(TAP)
  • TCK 最大周波数 15 MHz
  • 64ch の I/Oチャンネル
  • 8 つのアナログ入力または出力チャンネル (チャンネル 57 ~ 64)
  • デジタル I/O: 1.05V~3.6V
  • アナログ I/O: 0V~30V もしくは -15V~+15V
  • 周波数測定: 0~200 MHz (チャンネル 33 ~ 48)
  • パルス幅カウンタ: 4~8192 nS (チャネル 35 のみ)
  • 周波数発生器: 0~62.5 MHz (チャンネル 33 のみ)

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JT57××/RMIC

新しいコンセプトの産業用 JTAG搭載 実装基板テスター プログラマである JT 57xx/RMIc は、さまざまな JTAG (IEEE 1149.x) コントローラー、デジタル IO、アナログ IO、およびその他の測定モジュールを組み合わせてカスタマイズ可能です。

モジュールは 1/2 ラック幅または 1/4 ラック幅で、次のようにカスタマイズできます。

JT5705/RMIc モジュール (1/4 幅)

  • 2TAP (15MHz)
  • 64ch ミックスドシグナル IO (MIOS) チャネル

JT37×7/RMIc モジュール (1/2 幅)

  • 4TAP (40MHz)
  • 16 の静的 IO チャネル
  • オプションで 64 DIOS チャネル (DIO-64 バージョンのみ)

JT5112/RMIc モジュール (1/4 幅)

  • 64ch ミックスドシグナル IO (MIOS) チャネル

JT 5111/RMIc モジュール (1/4 幅)

  • 64ch デジタル IO (DIOS) チャネル

各モジュールは、ベンチトップ同等のモジュールと同様の仕様を提供しますが、チャネルと TAP の密度が高く、設置面積が小さく、全体的なコストが低いという利点があります。モジュールを組み合わせて適合させることにより、ユーザーは最もコスト効率の高いソリューションを構築するために必要となるほぼすべてのタイプの JTAG/バウンダリスキャン テスター/プログラマを構成できます。

特徴

  • JTAGコントローラー、デジタル IO または MIOS 用の 4 つのモジュール スロット
  • 合計最大 256 の I/O チャネルと 8 つの TAP
  • 高速 (15MHz) および超高速 (40MHz) コントローラー オプション
  • 周波数、パルス幅、VDC (アナログ) の測定オプション
  • アナログソースおよびクロックジェネレーター

利点

  • 最適なテスター / プログラマーを構成する
  • アナログおよびデジタル I/O チャネルをサポート
  • すべてのテスト信号のフロントパネル出力
  • 組み込みFPGAを介してユーザーが構成可能な機能
  • コンパクトな1U 19インチシャーシ

アプリケーション

中程度から高度な複雑さのミックスドシグナル設計の実装基板テストとプログラミング、
機能的な ATE テストセットへのインテグレーション。

仕様

JT5705/RMIc (1/4幅)

  • 2 つの 1149.x 準拠テストアクセスポート(TAP)
  • TCK 最大周波数 15 MHz
  • 高速フラッシュプログラミングのための自動書き込み信号
  • 64ch の I/Oチャンネル
  • 8 つのアナログ入力および/または出力チャンネル (上記の 64 チャンネルから抜粋)
  • 生成された値の精度は +/- 0.45%
  • 測定精度: +/- (0.4% + 100mV)
  • アナログ: 0~+30.0 または ± 15.0V
  • 周波数発生器
  • パルス幅カウンタ
  • 周波数測定:最大128 MHz

JT37×7/RMIc-DIO-0 (1/2幅)

  • 4 つの 1149.x 準拠テスト アクセス ポート
  • TCK 最大周波数 40 MHz
  • 16ch の静的 I/O
  • 高速フラッシュプログラミングのためのETTテクノロジー
  • 設定可能なフラッシュ画像バッファ

JT37×7/RMIc-DIO-64 (1/2幅)

  • 4 つの 1149.x 準拠テスト アクセス ポート
  • TCK 最大周波数 40 MHz
  • 64chの I/O スキャンチャネル
  • 16chの 静的 I/O
  • 高速フラッシュプログラミングのためのETTテクノロジー
  • 設定可能なフラッシュ画像バッファ

JT5112/RMIc (1/4幅)

  • 64ch の I/Oチャンネル
  • 8 つのアナログ入力または出力チャンネル (上記の 64 チャンネルから抜粋)
  • 生成された値の精度は +/- 0.45%
  • 測定精度: +/- (0.4% + 100mV)
  • アナログ: + 30.0V または ± 15.0V
  • 128 MHzまでの周波数測定
  • 周波数発生器
  • パルス幅カウンタ

JT5111/RMIc (1/4幅)

  • 64 デジタル I/O チャンネル
  • デジタル出力範囲 (1.0 – 3.6 V)

モデル

利用可能な 4 つのモデルから独自のシステムをカスタマイズして構成できます。

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JT37×7/TSI – USB / Ethernet / Firewire

高速かつパフォーマンスのポータブル JTAG バウンダリスキャン コントローラ。テストシステムから制御するためのUSB 2.0/1.1、イーサネット、および Firewireの 3 つのインターフェイスを備えています。

このコントローラーは、要求の厳しい製造テスト アプリケーション、高速なシステム内フラッシュ メモリ プログラミング、プログラマブル ロジック コンフィギュレーションを対象としています。JT 37×7 は、特定の環境やアプリケーションに合わせて、さまざまな動作レベル (メモリ オプション) で利用できます。各ユニットには、4 TAP ポートのシグナル コンディショニング インターフェイス JT2147 QuadPOD が付属しています。

JT37×7 DataBlaster は、最大 40 MHz TCK の高速かつパフォーマンスのバウンダリ スキャン コントローラ ファミリです。これらのコントローラは、USB/E-net/FireWire インターフェイスを備えたベンチトップ ユニットとして利用できるほか、同じ 3 つのインターフェイスを備えた 19 インチ ラックマウント型機器としても提供され、PXI(e) および PCI(e) のプラグイン カードとしても提供されます。

詳細については、以下のタブを参照してください。

特徴

  • 高性能ポータブルバウンダリスキャンユニット
  • 最大 4 つのバウンダリ スキャン チェーンを同時にテスト
  • 高速デバイスプログラミング
  • 製造環境向けの堅牢な設計
  • 3 つのシリアル インターフェイス: USB (1.1 および 2.0)、イーサネット、および Firewire。

利点

  • アプリケーション要件に合わせて簡単に拡張できるスケーラブルなアーキテクチャ
  • 自動 TCK 速度マッチングとプログラマビリティによる最適なチェーン パフォーマンス、最大 40 MHz の連続データ レート
  • Enhanced Throughput Technology™ (ETT) とギャング操作により大量生産能力を実現
  • JT2147 QuadPOD™ システム (付属) を介した DataBlaster コントローラーあたり 4 つの TAP の独立した制御
  • 最大限の柔軟性を得るために、オプションでさまざまな QuadPod バージョンを利用できます。

アプリケーション

DataBlaster のスケーラブルなアーキテクチャは、アプリケーション要件に適合する 3 つのレベルの動作パフォーマンスを提供します。

  • JT3707: ボードテスト、CPLDプログラミング、および小さなデータブロックのフラッシュプログラミング用のベースレベル
  • JT3717: 製造およびデバッグにおけるボード テスト、CPLD プログラミング、中型フラッシュ メモリのプログラミング
  • JT3727: 製造およびデバッグにおける大容量フラッシュ メモリおよび CPLD のボード テストおよびインシステム プログラミングを含むすべてのアプリケーション

仕様

  • モジュール機能の適応
  • TCK 最大周波数 40 MHz
  • 4 つの電圧プログラム可能な 1149.x TAP (1.0V ~ 3.6V)
  • JT 2149/MPV-0xx SCIL モジュールと互換性あり

フォームファクター

37×7/TSI

USB 2.0、イーサネット、Firewire を備えたポータブル ユニット。

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JT37×7/PCI-PCIe データブラスター

PCI バス スロットまたは PCI Express バス スロット用の高速およびパフォーマンスの JTAG バウンダリスキャン プラグインコントローラーです。

このコントローラーは、要求の厳しい製造テスト アプリケーション、高速なインシステム フラッシュメモリ プログラミング、プログラマブルロジック コンフィギュレーションを対象としています。

JT 37×7 は、特定の環境やアプリケーションに合わせて、様々なメモリオプションを利用できます。各ユニットには、付属のシグナル コンディショニング インターフェイス JT2147 QuadPOD により、DataBlaster コントローラーあたり 4 つの TAP を独立して制御できます。

JT37×7 DataBlaster は、最大 40 MHz TCK の高速かつパフォーマンスのバウンダリ スキャン コントローラ ファミリです。これらのコントローラは、USB/E-net/FireWire インターフェイスを備えたベンチトップ ユニットとして利用できるほか、同じ 3 つのインターフェイスを備えた 19 インチ ラックマウント型機器としても提供され、PXI(e) および PCI(e) のプラグイン カードとしても提供されます。

詳細については、以下を参照してください。

特徴

  • PCIバススロットまたはPCI Expressバススロット
  • 最大 4 つのバウンダリ スキャン チェーンを同時にテスト
  • 高速デバイスプログラミング
  • Enhanced Throughput Technology™ (ETT) により大量生産能力を実現

利点

  • アプリケーション要件に合わせて簡単に拡張できるスケーラブルなアーキテクチャ
  • 自動 TCK 速度マッチングとプログラマビリティによる最適なチェーン パフォーマンス、最大 40 MHz の連続データ レート
  • Enhanced Throughput Technology™ (ETT) とギャング操作により大量生産能力を実現
  • JT2147 QuadPOD™ システム (付属) を介した DataBlaster コントローラーあたり 4 つの TAP の独立した制御
  • 最大限の柔軟性を得るために、オプションでさまざまな QuadPod バージョンを利用できます。

アプリケーション

DataBlaster のスケーラブルなアーキテクチャは、アプリケーション要件に適合する 3 つのレベルの動作パフォーマンスを提供します。

  • JT3707: ボードテスト、CPLDプログラミング、および小さなデータブロックのフラッシュプログラミング用のベースレベル
  • JT3717: 製造およびデバッグにおけるボード テスト、CPLD プログラミング、中型フラッシュ メモリのプログラミング
  • JT3727: 製造およびデバッグにおける大容量フラッシュ メモリおよび CPLD のボード テストおよびインシステム プログラミングを含むすべてのアプリケーション

仕様

  • モジュール機能の適応
  • TCK 最大周波数 40 MHz
  • 4 つの電圧プログラム可能な 1149.x TAP (1.0V ~ 3.6V)
  • JT2149/MPV-0xx SCIL モジュールと互換性あり

フォームファクター

JT37×7/PCI

PC のコントローラーを PCI バス スロットに差し込みます。

JT37×7/PCIe

PC プラグイン コントローラーを PCI Express バス スロットに接続します。

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JT37×7/PXI-PXIe データブラスター

PXI および PXI-Express の「ハイブリッド」スロット用の高速およびパフォーマンスの JTAG バウンダリ スキャン コントローラ、または PXI-Express ペリフェラル スロット用のプラグイン コントローラ。

このコントローラーは、要求の厳しい製造テスト アプリケーション、高速なシステム内フラッシュ メモリ プログラミング、プログラマブル ロジック コンフィギュレーションを対象としています。

JT37×7 は、特定の環境やアプリケーションに合わせて、さまざまな動作レベル (メモリ オプション) で利用できます。各ユニットには、4 TAP ポートのシグナル コンディショニング インターフェイスJT2147 QuadPOD が付属しています。

JT37×7 DataBlaster は、最大 40 MHz TCK の高速かつパフォーマンスのバウンダリ スキャン コントローラ ファミリです。これらのコントローラは、USB/E-net/FireWire インターフェイスを備えたベンチトップ ユニットとして利用できるほか、同じ 3 つのインターフェイスを備えた 19 インチ ラックマウント型機器としても提供され、PXI(e) および PCI(e) のプラグイン カードとしても提供されます。フォーマット。

詳細については、以下のフォーム ファクター、その他の画像、およびアプリケーションのタブを参照してください。

特徴

  • 異なる PXI スロット
  • 最大 4 つのバウンダリ スキャン チェーンを同時にテスト
  • 高速デバイスプログラミング
  • 大規模な並列プログラミングとテストのためのギャング コントローラー操作

利点

  • アプリケーション要件に合わせて簡単に拡張できるスケーラブルなアーキテクチャ
  • 自動 TCK 速度マッチングとプログラマビリティによる最適なチェーン パフォーマンス、最大 40 MHz の連続データ レート
  • Enhanced Throughput Technology™ (ETT) とギャング操作により大量生産能力を実現
  • JT2147 QuadPOD™ システム (付属) を介した DataBlaster コントローラーあたり 4 つの TAP の独立した制御
  • 最大限の柔軟性を得るために、オプションでさまざまな QuadPod バージョンを利用できます。

アプリケーション

DataBlaster のスケーラブルなアーキテクチャは、アプリケーション要件に適合する 3 つのレベルの動作パフォーマンスを提供します。

  • JT3707: ボードテスト、CPLDプログラミング、および小さなデータブロックのフラッシュプログラミング用のベースレベル
  • JT3717: 製造およびデバッグにおけるボード テスト、CPLD プログラミング、中型フラッシュ メモリのプログラミング
  • JT3727: 製造およびデバッグにおける大容量フラッシュ メモリおよび CPLD のボード テストおよびインシステム プログラミングを含むすべてのアプリケーション

仕様

  • モジュール機能の適応
  • TCK 最大周波数 40 MHz
  • 4 つの電圧プログラム可能な 1149.x TAP (1.0V ~ 3.6V)
  • JT2149/MPV-0xx SCIL モジュールと互換性あり

フォームファクター

JT37×7/PXIe

PXI-Expressペリフェラルスロット用のプラグインコントローラ。

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JT37×7 データブラスター RMIC

高速かつパフォーマンスの高い 19 インチ ラックマウント シャーシ アセンブリ JTAG バウンダリ スキャン コントローラ、オプションで最大 256 個のデジタル I/O を備え、テスト アクセスとカバレッジを強化

このコントローラーは、要求の厳しい製造テスト アプリケーション、高速なシステム内フラッシュ メモリ プログラミング、プログラマブル ロジック コンフィギュレーションを対象としています。JT 37×7 は、特定の環境やアプリケーションに合わせて、さまざまな動作レベル (メモリ オプション) で利用できます。各ユニットには、4 TAP ポートのシグナル コンディショニング インターフェイスJT2147 QuadPOD が付属しています。

JT37×7 DataBlaster は、最大 40 MHz TCK の高速かつパフォーマンスのバウンダリ スキャン コントローラ ファミリです。これらのコントローラは、USB/E-net/FireWire インターフェイスを備えたベンチトップ ユニットとして利用できるほか、同じ 3 つのインターフェイスを備えた 19 インチ ラックマウント型機器としても提供され、PXI(e) および PCI(e) のプラグイン カードとしても提供されます。フォーマット。

詳細については、以下のフォーム ファクター、その他の画像、およびアプリケーションのタブを参照してください。

特徴

  • 19インチラックマウント可能
  • 最大 4 つのバウンダリ スキャン チェーンを同時にテスト
  • 高速デバイスプログラミング
  • オプションの 256 個のバウンダリ スキャン I/O により、テスト アクセスと最大カバレッジが強化されます。
  • 3 つのシリアル インターフェイス: USB (1.1 および 2.0)、イーサネット、および Firewire。

利点

  • アプリケーション要件に合わせて簡単に拡張できるスケーラブルなアーキテクチャ
  • 自動 TCK 速度マッチングとプログラマビリティによる最適なチェーン パフォーマンス、最大 40 MHz の連続データ レート
  • Enhanced Throughput Technology™ (ETT) とギャング操作により大量生産能力を実現
  • JT2147 QuadPOD™ システム (付属) を介した DataBlaster コントローラーあたり 4 つの TAP の独立した制御
  • 最大限の柔軟性を得るために、オプションでさまざまな QuadPod バージョンを利用できます。

アプリケーション

DataBlaster のスケーラブルなアーキテクチャは、アプリケーション要件に適合する 3 つのレベルの動作パフォーマンスを提供します。

  • JT3707: ボードテスト、CPLDプログラミング、および小さなデータブロックのフラッシュプログラミング用のベースレベル
  • JT3717: 製造およびデバッグにおけるボード テスト、CPLD プログラミング、中型フラッシュ メモリのプログラミング
  • JT3727: 製造およびデバッグにおける大容量フラッシュ メモリおよび CPLD のボード テストおよびインシステム プログラミングを含むすべてのアプリケーション

仕様

  • モジュール機能の適応
  • TCK 最大周波数 40 MHz
  • 4 つの電圧プログラム可能な 1149.x TAP (1.0V ~ 3.6V)
  • JT2149/MPV-0xx SCIL モジュールと互換性あり

フォームファクター

19 インチラックマウント可能機器シャーシ (RMIc) に取り付けるための JT 37×7/RMIcモジュール

JT37×7/RMIc-DIO-0
QuadPODシステムを内蔵

JT37×7//RMIc-DIO-64
内蔵 QuadPOD システムと 64 デジタル I/O スキャン チャネルを含む

JT367×7/RMIc-con
外部QuadPODシステムを使用

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TAP POD

JT2149/DAF

JT2149/DAF は、JTAG Technologies社の広く使用されている JT 2147 (QuadPod) シグナル コンディショニング インターフェイスで使用するコンパクトな混合信号 (デジタル/アナログ/周波数) 測定モジュールです。DAF モジュールは通常の TAP ポッドを置き換えるように設計されており、28ch の測定チャネルとクロック ジェネレーターを提供します。このモジュールは、エッジ コネクタまたはテスト フィクスチャ/ジグ テスト ピンを介して回路基板に接続すると、一連のアナログおよび周波数測定を実行できるようにすることで、標準のデジタル バウンダリ スキャン テストを強化します。

特徴

  • 16ch のデュアルパーパス I/O および周波数チャネル
  • 12チャンネルのアナログ電圧測定
  • プログラマブルクロックジェネレーターチャンネル

利点

  • コンパクトなミックスドシグナル測定モジュール
  • DataBlaster QuadPod によって駆動およびホストされます
  • DataBlaster での直接電圧および周波数測定を可能にします
  • テストシステムエンジニアリングを簡素化

アプリケーション

基本的な機能テスト測定 (PSU 電圧、クロック周波数など) を必要とするテスト システムに最適です。ベンチトップまたはラックマウント機能テスト システムに簡単に構築できます。従来の機器よりも低コスト。測定は、ProVision プラグインの対話型 GUI および/または JFT (Python) 制御ライブラリによってサポートされています。

仕様

  • DC ボルト – 12 チャンネル、範囲 0 ~ 32V
  • 周波数 – 16 チャンネル、範囲 10 ~ 128 MHz、分解能 8 桁、精度 100 ppm
  • デジタル I/O – 16 チャンネル (周波数と共有) 可変 1.0 – 3.6 ボルト
  • ジェネレーター – 1 チャンネル、範囲 0.0596Hz ~ 64 MHz、解像度 59.6 mHz、精度 100 ppm

JT2149/MPV および JT2149/eMPV

JT2149 / MPV および JT2149 / eMPV は、予備の JT2148 QuadPOD トランシーバー スロットに接続できる 32 チャンネルの多目的 DIOS/TAP ポッド モジュール/インターフェイスです。これらのユニットの I/O インターフェイス ポッドの DIOS チャネルにより、障害検出範囲が向上し、バウンダリ スキャン テスト中の診断解像度が向上します。2 つのバージョンの主な違いは、eMPV で拡張ケースを使用していることです。これにより、標準の 0.1 インチ接続を使用して TAP および静的 IO 信号にアクセスできるようになります (下のタブを参照)。標準 /MPV ユニットでは、これらの信号が利用可能です。前面の 0.05 インチコネクタにあります。これらのユニットは、JTAG Technologies の開発ツールによって完全にサポートされています。さらに多くの並列アクセス ポイントが必要な場合は、追加の DIOS モジュールを直列に接続できます。

特徴

  • I/O チャネルを提供して障害カバー率を向上
  • QuadPod スロットに簡単に取り付け可能
  • 「診断の解像度」を向上させます

利点

  • IEEE規格 1149.x TAP ポッドと DIOS が 1 つのモジュールに含まれています。
  • 標準サイズまたは追加の 0.1 インチ TAP 接続を備えた「E」拡張バージョンで利用可能
  • 多くのデザインで「スタックアット」およびオープンピンの故障カバレッジを向上
  • 40MHz TCK周波数定格
  • 4 つの TAP テスター機能を完全に保持します。

アプリケーション

I/O テスト アクセスの改善により、障害検出率が向上します。スペースが限られている、チャネル数の少ない DIOS アプリケーションに最適です。代替 (カスタム) SCIL 機能を使用して再プログラムできます。

仕様

  • JT2148 QuadPOD トランシーバー スロットに差し込みます
  • ストリームスルーTAP POD操作を含む
  • 32 個の同期 DIOS チャネルに加えて 4 個の静的 I/O ピンを備えています
  • プログラム可能な複数電圧
  • 16 個の 2 ブロックでアクセス/バイパスされるチャンネル

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JT2147 クアッドポッド

JT2147 QuadPOD 高速デバイス プログラマおよびフラッシュ プログラマは、JT 2148 トランシーバと 4 つの独立したプログラム可能な JT2149 TAP POD で構成され、DataBlaster シリーズのバウンダリ スキャン コントローラに信号調整を提供します。デバイスのギャング、並列、高速テスト/プログラミングに使用されます。

TAP ポッドはトランシーバー内に一体的に収納することも、取り外して (オプションの) 1 メートルの延長ケーブルを介して再接続することもできます。JT 2148 トランシーバーは、標準 (/10) または産業用 (/13) のバージョンで利用できます。/13 バリアントには SCSI ケーブル スプリッタが含まれており、システム インテグレータがフラット リボン ケーブルをトランシーバ自体に使用できるようになり、多くの場合、フィクスチャの構築が簡素化されます。

JT2147 の器具埋め込みタイプは、部品リファレンス JT2147/FXT として入手できます。このユニットは、トランシーバーと 4 つのポッドの機能を 1 つのアセンブリに統合しています。このバリアントは、64 個の DIOS チャネルと SCIL 機能もサポートできます (JT 2147/FXT の画像については、以下の画像を参照してください)。

特徴

  • DataBlaster コントローラー用の信号調整ポッド
  • 最大40MHzのTCK信号をサポート
  • 取り外し可能なTAPポッドには4つのユーザーI/Oピンも搭載

利点

  • UUT まで最適な信号調整を維持します。
  • 標準の JT2149 TAP ポッドまたは SCIL モジュールをサポート
  • 標準デスクトップ (/10) または産業用 /13 フォーマットとして利用可能
  • 便利なポッド延長ケーブルが付属
  • JT3710 シリーズ コントローラとの下位互換性

アプリケーション

各 POD はアクティブな回線終端を提供し、テスト時点で重要な信号の完全性を維持します。TAP 信号に加えて、POD は、テストおよびプログラミング動作の事前調整および監視に使用できる 4 つのプログラム可能な静的 I/O ピンを提供します。各 POD の I/O 電圧レベルは個別にプログラムでき、各 POD 内で TDI および TDO 信号電圧を個別に設定して、さまざまなターゲット チップ テクノロジに適合させることができます。

仕様

  • 4 つのバウンダリ スキャン ポート
  • 高いデータレートに対する信号の完全性の強化
  • 取り外し可能なPOD
  • プログラム可能な I/O 電圧

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JT2137 クラシック ポッド

JT2137 クラシックポッドは、テスト フィクスチャ内に埋め込まれたコンパクトな信号調整ポッドを必要とする DataBlaster コントローラの設置に依然として人気のある選択肢です。JT2137 は 4 つのテストアクセスポート(TAP)を備えており、これらを合わせて 5V または 3.3V TTLのしきい値に設定できます。TAP ごとに別のしきい値を設定できる追加のプラグイン アダプタも用意されています (詳細については、最寄りの営業所にお問い合わせください) )。20ピン、 0.1 インチピッチのIDC TAP ヘッダーは、JTAG Technologies社標準の20ピンのピンアサインに準拠しており、追加のフラッシュ プログラミング制御である読み取り/ビジーおよび自動書き込みを提供します。

特徴

  • 3.3V または 5V の 4 つの JTAG TAP
  • コンパクトサイズ
  • 器具の簡単な取り付けオプション

利点

  • JTAG テクノロジー DataBlaster と完全互換
  • 標準の JTAG テクノロジーのピン配列を使用した 4 つのテスト アクセス ポート
  • SCSI ケーブル スプリッターに付属の /13 オープンフレーム バリアントとして利用可能

アプリケーション

JT2137 シリーズは、テスト フィクスチャ内に設置するのに最適であり、そのコンパクトなサイズにより、TAP 信号を短いワイヤを介してテスト プローブにリンクできます。最大 25 MHz の TCK で動作するこのユニットは、テスト、フラッシュ プログラミング、およびシステム内 CPLD/FPGA プログラミングのほとんどの要件を満たします。JT2137 は、(一部の認定アプリケーションにおいて) JT2147 QuadPod に代わる低コストの代替品も提供します。

仕様

  • 4 つの独立した IEEE std 1149.x テスト アクセス ポート
  • DataBlaster への SCSI-II (/12 バリアント) またはフラット ケーブル (/13 バリアント) 接続
  • 3.3V または 5V でプログラム可能、LED インジケーター付き
  • 寸法 20 x 67 x 105 mm
  • 重量 110g

MACパネル用 JT2147 / EDAK

JT2147/eDAK は、JTAG Technologies QuadPOD シグナル コンディショニング インターフェイスの新しいバリアントで、MAC パネルの「Scout」マス インターコネクト インターフェイス内で使用するために特別に設計されています。このユニットは、JT2148 トランシーバ回路と 4 つの独立したプログラマブル TAP モジュール (JT 2149 タイプの 2 つと JT2149/MPV タイプの 2 つ) の両方を、MAC パネル ダイレクト アクセス キット (DAK) フォーム ファクタに一致する単一のボード上に統合します。全体として、この構成は 4 つのテスト アクセス ポート、64ch のデジタル IO スキャン チャネル、および再構成可能 (SCIL) 機能を提供します。

特徴

  • 4 TAP QuadPod テクノロジー
  • DataBlaster PXI コントローラーに一致
  • 大量の相互接続インターフェースへの配線を簡素化

利点

  • JT37×7/PXIへの直接接続が可能
  • テストの時点まで高い信号整合性を保証します
  • 機能テスト用途での接続と配線を簡素化
  • 高度なRFシールド/ノイズ耐性によるメリット
  • 64 チャンネルのデジタル IO を含む

アプリケーション

軍事/航空、通信/データ通信、自動車アプリケーション向けの高品質、高信頼性の機能テスト システム。

仕様

  • 定格 40 MHz の 4 つのバウンダリ スキャン TAP (テスト アクセス ポート)
  • 高いデータレートに対する信号の完全性の強化
  • 高速フラッシュプログラミングのための追加信号
  • プログラム可能な I/O 電圧 (出力 1.0V~3.6V、入力 0.5V~1.8V)
  • MAC Scout ダイレクト アクセス キットのフォーム ファクター

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バージニアパネル 用 JT2147/VPC

JT2147/VPC は、JTAG Technologies社の QuadPOD シグナル コンディショニング インターフェイスのバリアントで、特にVirginia Panel Corporation のマス インターコネクト インターフェイス内で使用するために設計されています。このユニットは、JT2148 トランシーバー回路、2 つの独立したプログラマブル TAP モジュール (JT2149 タイプ)、および I/O 付き 2 つの TAP モジュール (JT2149/MPV タイプ) の両方を、VPC QuadraPaddle コネクタG20x または G14x タイプを介して接続する単一のボード上に統合できます 。

特徴

  • 4 つの TAP QuadPod テクノロジーを統合
  • DataBlaster PXI/PXIe コントローラーに適合
  • 大量の相互接続インターフェースへの配線を簡素化

利点

  • JT37×7/PXI および JT3717/PXIe への直接接続が可能
  • テストの時点まで高い信号整合性を保証します
  • 機能テスト用途での接続と配線を簡素化
  • 高度なRFシールド/ノイズ耐性によるメリット
  • テストカバレッジを向上させるための組み込み IO チャネル

アプリケーション

軍事/航空、通信/データ通信、自動車アプリケーション向けの高品質、高信頼性の機能テスト システム。

仕様

  • 定格 40 MHz の 4 つのバウンダリ スキャン TAP (テスト アクセス ポート)
  • 高いデータレートに対する信号の完全性の強化
  • 高速フラッシュプログラミングのための追加信号
  • プログラム可能な I/O 電圧 (出力 1.0V ~ 3.6V、入力 0.5V ~ 1.8V)
  • VPC「プルスルー」システム互換

I/O モジュール

JT5112 MIOS

アナログ出力モジュールを備えた JT5112 MIOS JTAG/バウンダリ スキャン混合信号 I/O は、現在の JTAG テスト システムに混合信号スティミュラスと測定機能を追加するだけです。

JT5112 は、耐衝撃性エンクロージャまたは器具埋め込みバージョン (/FXT) として利用可能で、すべての JT37xx シリーズのコントローラで動作します。最大 8 チャンネルで最大 30 V のアナログ値を測定およびソースします。最大 64 チャンネルのデジタル I/O。周波数測定機能とユーザーがプログラム可能な機能も備えています。接続は、ユニットの前面にある標準の 0.1 インチ IDC プラグを介して行われます。JTAG TAP と電源接続は背面にあります。

JTAGアナログ出力
JTAG / バウンダリースキャン I/O、

特徴

  • 合計64チャンネル
  • 56ch デジタル専用
  • 16ch 周波数測定チャンネル
  • 8ch アナログ I/O (合計 64 個から抜粋)
  • 標準IEEE 1149.1制御インターフェース
  • ベンチまたはフィクスチャ (/FXT) バージョンの選択。

利点

  • コンパクトな64チャンネル デジタル/アナログI/Oシステム
  • 頑丈な構造
  • 高クロック (TCK 周波数) をサポート
  • カスタムバス機能用の再構成可能なFPGA
  • ソフトウェアセット(SCIL)機能

アプリケーション

デジタル アナログおよび周波数測定オプションにより、JTAG システムの機能を拡張します。再構成可能な (CoreCommander 経由) FPGA カーネルを備えており、高速メモリ アクセス、フラッシュ プログラミング、I2C 制御、CAN バスなどのカスタム機能が可能です。

仕様

  • 合計64のI/Oチャネル
  • デジタル出力範囲 1.05V – 3.6V
  • 8 つのアナログ入力または出力チャンネル (チャンネル 57 ~ 64 から取得)
  • アナログ精度 ± (0.7% + 24mV)
  • アナログ範囲 0.00V ~ 30.00V または -15.00V ~ 15.00V
  • 周波数測定、範囲 0 ~ 200 MHz (チャンネル 33 ~ 48)
  • パルス幅カウンタ、範囲 4 ~ 8192 nS (チャネル 35 のみ)
  • 周波数発生器、範囲 0 – 62.5 MHz (チャンネル 33 のみ)

モデル

  • JT5112 – 耐衝撃性の ABS ケースに入った標準的なベンチトップ モデル ハウス。4 x 20 ウェイ IDC フォーマット 0.1 インチ コネクタ (MIOS チャネル) および 2 x 10 ウェイ IDC フォーマット 0.1 インチ コネクタ (TAP-IN、TAP-OUT) による接続。壁面電源ユニットが付属しています。
  • JT5112/FXT – 寸法わずか 74mm x 59mm の器具組み込み型モデル。2 x 68 ピン ERNI SMCQ 68 M 244839 コネクタ (MIOS および TAP) による接続

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JT2111 / MPV DIOS モジュール

JT2111/MPV は、耐衝撃性ハウジングに収められた 64 チャネル バウンダリ スキャン デジタル I/O スキャン モジュールです。このモジュールは、バウンダリ スキャン アプリケーションでエッジ コネクタ、オンボード コネクタ、ロジック クラスタをテストおよび制御するように設計されています。複数のモジュールを直列に接続して I/O の数を増やすことができます。96 ピン DIN 41612 コネクタおよび 20 ピン 0.1 インチ ピッチ IDC コネクタが利用可能です。

この JT2111/MPV DIOS モジュールは、当社のウェブショップからも入手できます。

特徴

  • コンパクトな多目的システム
  • テストの可能性を追加
  • SCIL機能で(再)構成可能

利点

  • 堅牢なハウジングに収められたコンパクトな 64 チャンネル I/O システム
  • コネクタ オプションの選択 (DIN または IDC)
  • 高クロック (TCK 周波数) をサポート
  • TAP-IN、TAP-OUT機能により、UUTまたは他のDIOSとのデイジーチェーン接続が可能

アプリケーション

JT2111/MPV を使用すると、ベンチトップまたは実験テストおよびボード デバッグ セットアップでの障害検出範囲を拡張できます。同様に、ユニットを量産試験用の製造試験治具ソリューションに同梱することもできます。64 個の I/O は、16 ピンの 4 つのセグメントにグループ化されています。各セグメントをバイパスしてチェーンを短くすることができるため、フラッシュ デバイスのプログラミングが高速化されます。

JT2111/MPV は AC アダプターから電力を供給します。入力電源電圧は、ハードウェアまたはソフトウェアで 1.5V、1.8V、2.5V、または 3.3V から選択可能です。3.3V が選択されている場合、電圧入力は 5V 耐性になります。

仕様

  • 64チャンネルのデジタルI/O電圧をロータリースイッチで選択可能
  • 3.3V(5Vトレラント)、2.5V、1.8V、1.5Vをサポート
  • コネクタ オプションの選択 (DIN または IDC)
  • アクセサリ用の200mA供給電圧

フォームファクター

JT2111/MPV – DIN
96 ピン DIN 41612 コネクタを 1 つ装備しています。

JT2111/MPV – IDC
4 つの 20 ピン 0.1 インチ ピッチ IDC コネクタを装備。

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JT2122 / MPV DIOS デジタル I/O モジュール

JT2122/MPV DIOS (デジタル I/O スキャン モジュール) は、テスト アクセスをコネクタやテスト ポイントに拡張することで、カバレッジを拡大し、バウンダリ スキャン テストの診断解像度を向上させます。JT2122/MPV DIOS は、標準 DIMM-168 モジュールで最大 128 または 133 の I/O への双方向パラレル スキャン アクセスを提供します。

TAP 信号には、168 ピン モジュール コネクタまたは別の 10 ピン コネクタの「フィンガー」を介してアクセスできます。TAP 出力を使用して、別の DIOS モジュールまたはターゲット ボード上のスキャン チェーンにデイジーチェーン接続できます。

特徴

  • 低価格
  • テスト範囲を増やす
  • 診断精度の向上

利点

  • 高チャネル数の DIOS システム
  • 小型で薄型のパッケージは「固定具内」の取り付けに最適です
  • JT2702/DDC ブレークアウトボードと互換性あり

アプリケーション

JT2122 DIMM を JT2702 DIMM キャリアと組み合わせて使用​​すると、カスタム テスト フィクスチャ内で低コストで高チャネル数の I/O を実現できます。たとえば、PSU、JTAG コントローラ/ポッド、DIOS モジュール、リレーなどで構成される汎用テスト システムを、各ボードの「パーソナリティ モジュール」として構築できる「Bed Of Nails」テスト アダプタを備えたフィクスチャ キットに組み込むことができます。タイプ。

仕様

  • 1.8V ~ 5.0V PSU を受け入れ
  • 電源電圧によってしきい値を設定 – 入力は 5V トレラント
  • 16 チャンネルの 8 ブロックにそれぞれ「バイパス可能」にセットアップ
  • 最大 45 MHz の TCK 耐性

JT2128 DIOS モジュール

JT2128 DIOS モジュールは、障害検出率を高め、診断の解像度を向上させます。JT2128 は、3 つのセグメントにグループ化された最大 133 個の I/O チャネルへの双方向パラレル スキャン アクセスを提供し、それぞれを個別にバイパスできます。JT2128 は、ターゲット ボード、JT2702/DDC ブレークアウト モジュール、またはテスト フィクスチャ上の標準 168 ピン DIMM ソケットに簡単に挿入できるように設計されています。

特徴

  • テストカバレッジを強化する
  • 診断解像度の向上
  • ターゲットボードまたはテストフィクスチャに簡単に挿入

利点

  • 168ピンDIMMソケットと互換性あり
  • プログラム可能な電圧
  • 障害検出率の向上
  • アルテラ FPGA による「カスタマイズ可能な」機能

アプリケーション

JT2128 DIMM を JT2702 DIMM キャリアと組み合わせて使用​​すると、カスタム テスト フィクスチャ内で低コストで高チャネル数の I/O を実現できます。ユニットは、特定の論理機能用にユーザーがプログラムすることもでき、「Bed Of Nails」テスト インターフェイスを提供するフィクスチャ キットに組み込むこともできます。

仕様

  • 128 チャネルの JTAG 制御 DIO
  • プログラム可能な機能テスト ロジック
  • I/O電圧は1.8~3.3Vの範囲内で「自己適応型」
  • TCK 速度最大 30 MHz

JT2702 / DDC DIOS アダプター

JT2702 デジタル 256 チャネル JTAG I/O モジュール、

JT2702/DDC (デュアル DIMM キャリア) は、DIMM DIOS アクセサリ製品です。通常、スペースのオーバーヘッドを最小限に抑えながら多数のデジタル I/O チャネルが必要なカスタム テスト アダプタまたはフィクスチャで使用されます。

JT2702/DDC に 1 つまたは 2 つの JTAG Technologies社 DIMM/168 フォーマット DIOS ユニットを装着することにより、ユーザーは 128 または 256 チャネル (デジタル) I/O システムを構築できます。ユニットは直列にリンクすることもできるため、比較的低コストで 1000 IO を超えるチャネル数を容易に達成できます。チャネルへのアクセスは、8 つの標準 40 極 0.1 インチ IDC コネクタ経由で行われます。

特徴

  • 低コストの I/O ソリューション
  • モジュールごとに最大 256 チャネル
  • デイジーチェーンモジュールでチャンネル数を増やす

利点

  • コンパクトなサイズと多チャンネル数
  • 最大25MHzのTCKテストクロックをサポート
  • 取り付けられている DIMM DIOS を自動検出します
  • 追加の「デイジーチェーン接続」JT2702/DDC を自動検出します
  • ProVision に含まれる標準アダプターの説明

アプリケーション

JT2122/MPV、レガシー JT2122/168F、または JT2124/F168 DIMM DIOS モジュールと組み合わせてベンチトップおよび器具内で使用します。標準の IDC コネクタを通じて簡単にアクセスできる高密度 I/O を提供します。コネクタやテストポイントを通じて障害検出範囲を増やすために使用されます。

仕様

  • JTAG Technologies社 DIMM DIOS 用の DIMM-168 フォーマット スロット x 2
  • 8 x 40 ウェイ ラッチ付き IDC ヘッダーはそれぞれ 32 個の I/O と 8 個の信号グランドをサポート
  • TAP-INおよびTAP-OUT用の標準10極IDCコネクタ
  • 寸法 200 x 90 x 30 mm (DIMM は取り付けられていない)
  • 重量 175 g (DIMM 非装着時)

JT2127 / フレックスソケットテストモジュール

JT2127/Flex STM メモリ ソケット テスターは、JTAG/バウンダリ スキャン コントローラーとサポート ソフトウェアを使用して、PCB に取り付けられた DIMM および SODIMM ソケットをテストするために特別に設計されたハードウェア アダプター ファミリです。JTAG/バウンダリ スキャン システムを使用するテスト エンジニアや生産エンジニアにとって、メモリ ソケットのテストは常に面倒な作業でした。UUT (テスト対象ユニット) 上のバウンダリ スキャン準拠のアクセス デバイスからメモリの書き込み/読み取りを作成できる場合でも、初期化プロセスが失敗し、診断情報がほとんど残らない場合があります。さらに、障害が DIMM モジュール自体にあるのか、それともソケットにあるのかもまだ不明です。JTAG Technologies社 の新しい JT2127-Flex システムを使用すると、正常なテスト インターフェイスからピンポイント診断が得られるため、ソケットが正しくはんだ付けされていることを確認できます。

特徴

  • マスター DMU ユニットは複数の DIO およびアナログ チャネルを提供します
  • 一般的な DIMM ソケットに簡単に接続できるフレックス アダプターが用意されています。
  • アナログチャンネルの電源電圧のテスト

利点

  • DIMM および SODIMM ソケットのテスト開発者を簡素化します
  • テスト準備のスピードアップ
  • ピンポイント診断が可能
  • 既存の JTAG ハードウェアおよびソフトウェアで動作します。

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アクセサリー

Sentinel RMS USB ライセンス キー

別のコンピュータで当社のソフトウェアを使用したいお客様には、USB ドングルにロックされたソフトウェア ライセンスを購入する可能性を提供します。この製品をソフトウェア注文に追加すると、コンパクトな Sentinel RMS ライセンス キーにリンクされたソフトウェア ライセンスが提供されます。

特徴

  • 購入したソフトウェアを任意のコンピュータで実行する
  • 米国およびEUへの発送準備完了

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JT2135 TAP エクステンダー

JT2135 を使用すると、TAP 信号をベースの JT2137 (クラシック ポッド) から最大 1 メートル延長し、ポッドの周波数仕様を完全に維持できます。JT2135 内のアクティブ回路は、長いインターフェイス ケーブルの TDO 信号の戻り時間を補償します。より長い拡張が必要な​​場合は、複数の JT 2135 を実装できます。

特徴

  • ポッドからUUTまでのケーブル距離を延長します
  • 信号の完全性を維持
  • TDO信号パス遅延を補償します

利点

  • 分散した TAP セットアップ全体で信号の整合性を維持
  • ベースポッドから電力供給(外部PSUは不要)
  • JT2137 ポッドからの 1 対 1 接続
  • コンパクトなフォームファクター

アプリケーション

TAP 信号をターゲット UUT またはシステム上の分離された TAP ヘッダーに分散できるようにします。ATE システムで使用して、器具の配線全体で信号の整合性を維持します。フラッシュプログラミングなどの重要なアプリケーションに対して高いTCKを維持します

仕様

  • 25MHz のフル動作 TCK で TAP 信号を 1m 延長します。
  • 寸法はわずか70mm x 45mm x 15mm
  • 入力および出力 TAP 用の 20 ウェイ IDC ヘッダー

JT2139 TAP アイソレータ

JT2139 は、複数の計測器インターフェイスを利用する組み合わせテスト システムで使用するために設計された TAP 信号分離モジュールです。寄生容量の影響や不要なグランド ループを回避するために、JT2139 を使用して、JTAG Technologies社のバウンダリ スキャン コントローラを計測システムの残りの部分から完全に電気的に絶縁することができます。JT2139 アイソレータは、インサーキット テスタなどとバウンダリ スキャンを統合する JTAG Technologies社 の「Symphony」システムの標準コンポーネントです。

特徴

  • TAP信号を電気的に絶縁
  • シンプルなコンパクト設計
  • 普遍的に適用可能

利点

  • 小型設計でテスト治具内に簡単にフィット
  • TAP ごとに 1 つ – アプリケーションごとに必要な数だけインストールします
  • 基本的な5V電源
  • TAP信号ごとに完全なリレー絶縁

アプリケーション

ATE で使用して、JTAG/バウンダリ スキャン TAP 信号をテスト システムの残りの部分から完全に分離します。TAP 絶縁モジュールを使用すると、浮遊 [テスト] システム インピーダンスによって機能テスト測定が低下する可能性が回避されます。

仕様

  • 寸法 36W x 145L x 12H mm
  • 重量40グラム
  • 4 x 4mm 取り付け穴
  • すべての JTAG 出力 (TDI、TMS、TCK、TRST) AW、およびユーザー信号のリレー分離

JT2154 スキャンブリッジ

JT2154 は、National Semiconductor社の STA111 デバイスをベースにした実験ボードで、設計内でアドレス指定可能なブリッジ/マルチプレクサを利用し、「システム レベル」の JTAG アクセスをセットアップしたいと考えているユーザーを対象としています。このユニットは、高度にセグメント化された設計に対応するために、JTAG Technologies社の JTAGコントローラの TAP (テスト アクセス ポート) 数を拡張するための半永久的な設置にも使用できます。JTAG ProVision には ScanBridge タイプのデバイスのサポートが組み込まれているため、TAP の割り当てとデバイスのアドレス指定を簡単にセットアップできます。

特徴

  • 1:3 TAP マルチプレクサとして使用
  • システムレベル JTAG の実験用プラットフォーム
  • 業界標準のSTA111チップを搭載

利点

  • 設計に着手する前に、ScanBridge テクノロジーを試してください
  • アドレス指定可能な TAP ポートをテスト設定に追加します。
  • JTAG Technologies社 JT21×7 ポッドまたは JT3705/USB とのピン間接続
  • ポッドまたは独自の接続から電力を供給可能

アプリケーション

JT2154 を使用して、JTAG Technologies社のバウンダリ スキャン コントローラーからの TAP を増加したり、ScanBridge/システム レベルの実験の基礎として使用したりできます。コンパクトな設計により、テスト インターフェイス/治具内に設置できます。

仕様

  • ストリーム構成のプライマリ TAP インおよび TAP アウト接続
  • LEDアクティビティインジケーターを備えた3つのセカンダリTAP
  • 標準 JTAG 10 ウェイ IDC コネクタを使用
  • オンボード DIP スイッチによる 64 のアドレス オプション
  • 寸法 105L x 65W x 15H mm、重量 45 g

JT2156 トレーニングボード

JT 2156 トレーニング ボードは、JTAG Technologies社 の ProVision および JTAG Live アプリケーション開発システムのユーザーが利用できるすべての最新機能とテスト技術をデモンストレーションするために考案されました。最新の ARM コア プロセッサだけでなく、この設計には Altera Cyclone FPGA、DDR メモリ、イーサネット PHY、およびいくつかの SPI および I2C 周辺部品も含まれています。JT2156 には、ProVision や JTAGLive Studio の詳細な機能を理解するための包括的な自習​​用マニュアルが付属しています。Altium ユーザーにとって、このデザインは、Nano ボードを現実的なカスタム デザインに適応させる方法の例としても役立ちます。

利点

  • 21世紀のミックスシグナル設計
  • 幅広い最新のデジタル デバイス (RISC マイクロ、FPGA など) を搭載
  • JFT を含む ProVision の高度な機能の完全な調査が可能
  • 最新のAltium EDAシステムを使用して開発
  • JTAG Live ツールのデモンストレーションに最適なプラットフォーム

アプリケーション

JT 2156 は、現在の設計に見られる最新のデバイス タイプを備えた最先端のマイクロプロセッサ設計です。そのため、このボードは、DDR メモリ クラスター テスト、シリアル (SPI) バス デバイス プログラミング、さらには「プロセッサ コア制御テスト」など、バウンダリ スキャンやその他の JTAG 関連のテストおよびプログラミング アプリケーションの全範囲をデモンストレーションするために使用できます。JT2156 は、CoreCommander (マイクロプロセッサ コア制御) ルーチンをデモンストレーションするためのプラットフォームとしても機能します。

仕様

  • ARM 7TDMI コア NXP プロセッサ
  • アルテラ Cyclone 3 FPGA
  • DDR2メモリブロック
  • シリアルSPIメモリ
  • アナログ – デジタル コンバーター
  • 加速度計
  • タッチスクリーンコントローラー

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