アンドールシステムサポートは、
パシフィコ横浜で2022年11月16日(水)~18日(金)まで開催される「EdgeTech+ 2022」に出展します。
今年は、Arm社純正開発ツール、Cortex-Mが実装されたマイコン向けの開発ツールであるKeil MDKとリアルタイムOSを組合わせたデバッグ環境、
BGA実装基板、QFP実装基板用のJTAGテスト/バウンダリスキャンテストをご紹介します。また、半導体テスト、IoT機器のテスト用のPXI、LXI自動テストソリューションをご紹介します。
- 展示会名:
- EdgeTech+ 2022
- 開催日時:
- 2022年11月16日(水)~18日(金) 10:00~17:00
- (17日 (金) のみ 18:00まで)
- 展示会場:
- パシフィコ横浜
- 出展ブース:
- (小間番号:A-H21) Armパビリオン内ブース
- (小間番号:C-T15|ユニバーシティパビリオン) JIEP / バウンダリスキャン研究会内ブース
Arm純正開発ツールの展示内容
リアルタイムOSの動作を確認しながらデバッグできる、Arm Keil MDKを紹介します。
- Arm Keil MDKが提供するEvent Recoderの機能を利用する事で、リアルタイムOSの動作を追跡できます。
- デバッガに内蔵されたSystem Analyzerの機能を通して、時間経過を追って、視覚に、イベントを確認する事ができます。
- Arm Keil MDKは、Pack Installerの機能を利用する事で、9,500種類を超えるデーターベースを通して、デバイス固有の初期化コードや、サンプルファイルも入手可能です。
JTAGテスト/バウンダリスキャンテストの展示内容
BGA実装基板、QFP実装基板テストのIEEE1149.1規格「JTAGテスト/バウンダリスキャンテスト」をご紹介します。
- わずか3秒でBGA実装基板の実装保証ができます。
- テストアプリケーションを自動生成できます。
- 不良箇所をピンポイントで特定することができます。
ブースでは、JTAGテストの開発統合環境「JTAG ProVision 2020」の自動テストのデモをご覧いただけます。
JTAGテスト/バウンダリスキャンテストPXI、LXI自動テストソリューションの展示内容
PXI、LXIを活用した自動テストは、ハードウェア検証のコストの削減と品質向上させるための有効な手段です。
IoT機器、実装基板、モジュール基板、半導体、LSIのテスト時間・検査タクトの改善ができます。次のようなメリットがあります。
今回は、ピカリングインターフェース社製の2スロットLXIモジュラーシャーシとPXIマトリクス・スイッチを、組合わせた自動テストの事例を展示します。
PXIマトリクス・スイッチについて LXIモジュラーシャーシについて展示会へご来場予定のお客様へ
下記の公式サイトより、ご登録して頂き、事前に展示会入場証を印刷して頂くと、会場での受け付けがスムーズになります。
(外部リンク) 来場事前登録はこちら