アンドールシステムサポートは、東京ビッグサイトで2025/6/4(水)～6/6(金)まで開催される「JPCA Show 2025 / 2025マイクロエレクトロニクスショー」に出展します。今年は、BGA実装基板、QFP実装基板用のJTAGテスト/バウンダリスキャンテストをご紹介します。また、半導体テスト、IoT機器のテスト用のPXI、LXI自動テストソリューションをご紹介します。
講演情報
出展ブース
来場登録
JTAGテスト/バウンダリスキャンテストの展示内容
PXI、LXIを活用した自動テストソリューションの展示内容
講演情報
アンドールシステムサポートは会期中2回、参加費無料、事前登録不要の出展社 NPI(New Product Intorduction) プレゼンテーションを実施します。
講演の概要：「BGA実装基板の検査は、世界中の企業でJTAGバウンダリスキャンテストを活用して品質向上とコスト削減に成功しています。
今回は、信頼性試験での活用方法等、新たな取り組みをご紹介します。」
ご興味がございましたら、開催日時に、直接【セミナー会場D】までお越しください。
講演日時をクリックして頂くと、外部サイトが開き詳細を見る事ができます。
- 講演タイトル：
- 信頼性試験でも使える！
BGA実装基板検査の課題を解決する
JTAGバウンダリスキャンテストのご紹介じゃ - 講演日時：
- 2025年06月04日（水） 14:50～15:10
2025年06月06日（金） 14:10～14:30 - 講演会場：
- 【セミナー会場D】NPIセミナー会場（オープン）/ ECU出展者プレゼンテーション
- 申込方法：
- 直接会場までお越しください。無料、登録不要(定員：50名 先着順)
JTAGテスト/バウンダリスキャンテストの展示内容
BGA実装基板、QFP実装基板テストのIEEE1149.1規格「JTAGテスト/バウンダリスキャンテスト」をご紹介します。
- わずか3秒でBGA実装基板の実装保証ができます。
- テストアプリケーションを自動生成できます。
- 不良箇所をピンポイントで特定することができます。
ブースでは、JTAGテストの開発統合環境「JTAG
ProVision
2023」の自動テストのデモをご覧いただけます。
PXI、LXIを活用した自動テストソリューションの展示内容
PXI、LXIを活用した自動テストは、ハードウェア検証のコストの削減と品質向上させるための有効な手段です。
IoT機器、実装基板、モジュール基板、半導体、LSIのテスト時間・検査タクトの改善ができます。次のようなメリットがあります。
- 検査機器とケーブルの繋ぎ変える手間を自動化できます
- 人手を返さず何度でも同じテストを正確に繰り返し再現する事ができます
- 実環境では作り出す事ができない複雑な条件を再現できます
出展ブース
- 展示会名：
- 2025 マイクロエレクトロニクスショー
- 開催日時：
- 2025年6月4日(水)～6/6日(金) 10:00～17:00
- 展示会場：
- 東京ビッグサイト 東展示棟 eX-tech
- 小間番号：
- 7D-09
来場登録
来場事前登録を行うと、1,000円の入場料が無料となります。
