アンドールシステムサポートは、東京ビッグサイトで2022/5/31(水)～6/2(金)まで開催される「JPCA Show 2023 / 2023
マイクロエレクトロニクスショー」に出展します。今年は、BGA実装基板、QFP実装基板用のJTAGテスト/バウンダリスキャンテストをご紹介します。また、半導体テスト、IoT機器のテスト用のPXI、LXI自動テストソリューションをご紹介します。
講演：BGA実装基板検査の課題を解決するJTAGバウンダリスキャンテストのご紹介
6/1(木) 14:55～15:15に＜展示ホールセミナー会場G＞NPIセミナー会場①で「BGA実装基板検査の課題を解決するJTAGバウンダリスキャンテストのご紹介」と題して、出展者（NPI）プレゼンテーションに古長
由行が登壇します。
JTAGテスト/バウンダリスキャンテストの展示内容
BGA実装基板、QFP実装基板テストのIEEE1149.1規格「JTAGテスト/バウンダリスキャンテスト」をご紹介します。
- わずか3秒でBGA実装基板の実装保証ができます。
- テストアプリケーションを自動生成できます。
- 不良箇所をピンポイントで特定することができます。
ブースでは、JTAGテストの開発統合環境「JTAG ProVision
2020」の自動テストのデモをご覧いただけます。
PXI、LXIを活用した自動テストソリューションの展示内容
PXI、LXIを活用した自動テストは、ハードウェア検証のコストの削減と品質向上させるための有効な手段です。
IoT機器、実装基板、モジュール基板、半導体、LSIのテスト時間・検査タクトの改善ができます。次のようなメリットがあります。
- 検査機器とケーブルの繋ぎ変える手間を自動化できます
- 人手を返さず何度でも同じテストを正確に繰り返し再現する事ができます
- 実環境では作り出す事ができない複雑な条件を再現できます
出展ブース
- 展示会名：
- 2023 マイクロエレクトロニクスショー
- 開催日時：
- 2023年5月31日(水)～6/2日(金) 10:00～17:00
- 展示会場：
- 東京ビッグサイト 東展示棟
- 出展ゾーン:
- eX-tech
- 小間番号：
- 2H-26
来場登録
来場事前登録を行うと、1,000円の入場料が無料となります。
