2026年1月21日(水)～23日(金)に東京ビッグサイト開催される第40回 ネプコン ジャパンで、アズビル太信株式会社様のブース内に、アンドールシステムサポートは展示させて頂きます。

第40回ネプコン ジャパン

JTAGテスト/バウンダリスキャンテストの展示内容

BGA実装基板、QFP実装基板テストのIEEE1149.1規格「JTAGテスト/バウンダリスキャンテスト」をご紹介します。

  1. わずか3秒でBGA実装基板の実装保証ができます。
  2. テストアプリケーションを自動生成できます。
  3. 不良箇所をピンポイントで特定することができます。

ブースでは、JTAGテストの開発統合環境「JTAG ProVision」の自動テストのデモをご覧いただけます。

 

JTAGテスト統合環境JTAG ProVision

展示会名：
第40回 ネプコン ジャパン
会期：
2026年1月21日 (水) ～ 23日(金) 10:00～17:00
展示会場：
東京ビッグサイト (東ホール)
展示会小間番号：
E9-37 : アズビル太信株式会社 様のブース内で展示させて頂きます。
参加券の申し込み：
ネプコンジャパンのWebサイトから無料の参加券のお申込みができます。
お申込みはこちらから

併設の展示会でアンドールシステムサポートの自社ブースでは
JTAGと自動テストソリューションを展示しています

アンドールシステムサポート株式会社のブースは、オートモーティブワールド、西展示棟、小間番号W3-70です