JTAGテスト
BGA実装検査・故障解析技術の最前線 ｢真の不良原因｣を追及する ～ハンダ不良検出装置 Ｘ 超音波断面試料作製装置コラボセミナー～
「真の不良原因を追及する 〜ハンダ不良検出装置 × 超音波断面試料作製装置コラボセミナー〜」は、アンドールシステムサポート社、 株式会社高田工業所 の2社で、
BGA実装における目視では判別できない不良の根本原因を、電気的・物理的両面から可視化するための最新技術を紹介します。
JTAGテストによる非接触型の電気検査と、超音波断面加工による高精度な断面観察技術を組み合わせ、品質管理・不良解析の新たな標準となるアプローチを提案します。
現場責任者・品質保証・検査技術者の皆様に特に有益な内容です。
開催日：2025年7月23日 (水)、参加費無料無料(事前申込制)
JPCA Show 2025 / 2025 マイクロエレクトロニクスショーに出展します
2025年4月8日 JTAGテストPXI / LXI / USB 自動計測システム
アンドールシステムサポートは、東京ビッグサイトで2025/6/4(水)～6/6(金)まで開催される「JPCA Show 2025 / 2025 マイクロエレクトロニクスショー」に出展します。今年は、BGA実装基板、QFP実装基板用のJTAGテスト/バウンダリスキャンテストをご紹介します。また、半導体テスト、IoT機器のテスト用のPXI、LXI自動テストソリューションをご紹介します。
2025年開催ネプコンジャパンでJTAGテストと自動テストのソリューションを展示します
2024年12月16日 JTAGテストPXI / LXI / USB 自動計測システムプレスリリース
2025年1月22日 (水) ～ 24日(金) に東京ビッグサイト開催される第39回 ネプコン ジャパンで、アズビル太信株式会社様のブース内に、アンドールシステムサポートは展示させて頂きます。
EdgeTech+ 2024に出展します
2024年11月11日 Arm社 認定セミナーArm社純正開発ツールJTAGテストPXI / LXI / USB 自動計測システムプレスリリース
アンドールシステムサポートは、 パシフィコ横浜で2024年11月20日(水)～22日(金)まで開催される「EdgeTech+ 2024」に出展します。 今年は、Arm社純正開発ツール、Cortex-Mが実装されたマイコン向けの開発ツールであるKeil MDKとリアルタイムOSを組合わせたデバッグ環境、 BGA実装基板、QFP実装基板用のJTAGテスト/バウンダリスキャンテストをご紹介します。また、半導体テスト、IoT機器のテスト用のPXI、LXI自動テストソリューションをご紹介します。
Arm Tech Symposia 2024に出展しました
2024年11月8日 Arm社 認定セミナーArm社純正開発ツールJTAGテストPXI / LXI / USB 自動計測システムプレスリリース
アンドールシステムサポートは、2024/11/7(木) コンファレンスセンター・品川 で開催された、Arm Tech Symposia 2024に出展しました。
第38回 エレクトロニクス実装学会春季講演大会にて、タカヤ株式会社およびアンドールシステムサポート株式会社は、優秀賞を受賞しました
第38回 エレクトロニクス実装学会春季講演大会 春季講演大会の優秀賞を受賞しました。 MES2024 第34回 マイクロエレクトロニクスシンポジウムにて、授賞式が行われました。
「JTAG検査とフライングプローブテスタを組み合わせたハイブリッド検査システム」が第20回「JPCA賞（アワード）」を受賞しました。
「JTAG検査とフライングプローブテスタを組み合わせたハイブリッド検査システム」が第20回「JPCA賞（アワード）」を受賞しました。
JPCA Show 2024 / 2024 マイクロエレクトロニクスショーに出展します
2024年5月29日 JTAGテストPXI / LXI / USB 自動計測システムプレスリリース
アンドールシステムサポートは、東京ビッグサイトで2024/6/12(水)～6/14(金)まで開催される「JPCA Show 2024 / 2024 マイクロエレクトロニクスショー」に出展します。今年は、BGA実装基板、QFP実装基板用のJTAGテスト/バウンダリスキャンテストをご紹介します。また、半導体テスト、IoT機器のテスト用のPXI、LXI自動テストソリューションをご紹介します。
