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JTAGテスト入門セミナー

JTAGテスト入門セミナー

最近、組込み製品の基板が複雑化、高度化しており、改めて注目されている JTAGバウンダリスキャン・テストを分かり易く解説します!

開催日:
第245回 2017年 8月25日 金曜日
第246回 2017年 9月22日 金曜日
第247回 2017年10月20日 金曜日
時間:
 13:30 -17:00(13:15より受付)
東京会場:
アンドールシステムサポート株式会社 東京本社
会場へのアクセス
参加費:
無料でご参加いただけます。
お申込み方法:
下記のフォームより承ります。

セミナー内容

1. JTAGバウンダリスキャンテスト概要

JTAGバウンダリスキャンアーキテクチャ紹介と活用される分野

2. JTAGバウンダリスキャンテストが登場した背景

  • LSIのパッケージの高密度実装にともなう変遷
  • BGAの実装不良と小型化・高密度化による課題
  • 部品内蔵基板やTSV技術による3D LSI/2.5 LSIの概要

3. 実装基板の検査手法と特徴

  • 各テスト手法が検出可能な故障タイプ
  • インサーキットテスト / ファンクションテスト / X線検査 / 自動外観検査(AOI)との補完

4. JTAG ProVisionデモンストレーション

基板の実装検査を行う手順を実機のデモを交えて紹介します。

5. JTAGテストの国内導入企業と課題解決事例

  • 開発現場での活用と開発期間短縮
  • 製造現場での活用と検査コスト削減
  • サービス現場での活用と修理コスト削減

会場

会場名:
アンドールシステムサポート株式会社 東京本社
住所:
〒140-0004 東京都品川区南品川2-15-8
最寄駅:
京浜急行 青物横丁駅より徒歩 10分 (急行・特急・各駅停車)
りんかい線 品川シーサイド駅より徒歩10分(各駅停車)

セミナーお申込み

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