オートモーティブ業界では、自動化、電動化、車内ユーザーエクスペリエンス(UX)を高めるため、高い演算能力と信頼性が求められています。また、消費電力、熱放散、パッケージングスペースの制約が考慮され、機能安全を最優先すると同時に、迅速で柔軟な開発を可能にする必要があります。
ボディ、ゾーン・コントロール、電動化といった車載および産業用のASIL B/Dアプリケーション向けに、高度なセーフティーとセキュリティを備えたS32K3 車載汎用マイクロコントローラーをご紹介します。
また、HDQFPパッケージは、プローブピンのコンタクトが難しく、AOI、X線を用いた画像検査は困難です。この検査の課題を解決する「JTAGテスト（IEEE1149.1）」による実装テスト手法の解説と国内企業の活用事例をご紹介します。

開催日：
2026年2月20日(金)
時間：
13:30 ～ 15:00
参加費：
無料でご参加いただけます。(事前登録制)
共催：
株式会社ネクスティ エレクトロニクス
共催：
小型 HDQFPパッケージのマイコンに興味のある方
実装テストと故障診断の自動化に興味のある方
NXP社 車載向けマイコン S32K3に興味のある方
開催形式：
オンライン (ZOOM)
申し込み：

お申込みページはこちらから

セミナーの内容

NXP社製 MCU　S32K シリーズ製品紹介

株式会社ネクスティ エレクトロニクス 講演：　株式会社ネクスティ エレクトロニクス

  • 最新の車載マイコン – 小パッケージに機能を集約
  • サイバーセキュリティ、OTAにも対応する最新のハード・ソフトを搭載
  • 簡単・安価に開発環境がそろいます
  • 画期的なHDQFPパッケージにより、フットプリント面積を小さく

NEXTY S32K3オリジナルボード紹介

株式会社ネクスティ エレクトロニクス 講演：　株式会社ネクスティ エレクトロニクス

  • 小型LQFPパッケージのNXP車載マイコンS32K311を搭載
  • CAN FD (5Mbps)とLINトランシーバーを装備
  • 統合開発環境(IDE)として「S32 Design Studio for S32」を無償で提供
  • 評価ボード用に、CAN、LIN、ADC、Timer、GPIOのサンプルコードを無償で提供

ハンダ不良を見逃さない！
JTAGバウンダリスキャンテストの技術解説と事例紹介

アンドールシステムサポート株式会社 講演：　アンドールシステムサポート株式会社

  • HDQFP、BGAパッケージ検査の課題と解決策
  • JTAGテスト（IEEE1149.1）の仕組み
  • JTAGテストによるS32K評価ボードのテスト事例
  • JTAGテストによるテストと故障解析の自動化デモ
  • 国内企業のJTAGテスト活用事例