技術資料

自動テスト・計測技術に関する技術解説資料をご紹介します。バウンダリスキャンの基礎からPXI/LXIの選定ポイントまで、開発・生産現場でお役立ていただける資料を揃えています。

JTAG Technologies
JTAGテスト / バウンダリスキャン

• バウンダリスキャンとは（技術解説）
• 設計・生産・サービス別ソリューション
• JTAGテスト FAQ
• 導入事例（JTAG Japanサイト）
• 資料ダウンロード

Pickering Interfaces
PXI / LXI 自動計測

• PXIとは？
• PXIスイッチモジュールの使い方
• PXIモジュールとシャーシの互換性
• プログラマブル抵抗とは？
• プログラマブル抵抗の選び方
• 半導体パラメトリック・テストの高速化
• 半導体テスト向け駆動ガード測定
• ホワイトペーパー
• 製品カタログ
• 自動テスト活用例

MarvinTest Solutions
PXI 機能テスト・ATE 自動試験装置

• ATEasy — テスト開発・実行環境
• GENASYS（統合テストプラットフォーム）
• PXI 計測器プラットフォーム
• バスインターフェース（MXI・GPIB）
• PXI 製品総合カタログ 日本語版
• 製品一覧（型番リスト・日本語データシート）

Arm
ソフトウェア開発ツール・トレーニング

• ツール・セレクション・ガイド
• 日本語ユーザーガイド
• カタログダウンロード
• 仮想プラットフォームから実機デバッグ 構築ガイド
• Armを学ぶ（技術解説シリーズ）

FuturePlus Systems
DDRメモリ解析・DisplayPortプロトコル解析

• バス解析プローブ 製品一覧
• DDR5 メモリ プロトコルアナライザ
• DDR4 メモリ解析プローブ
• DisplayPort 1.4 プロトコルアナライザ
• FuturePlus Systems 社について

お問い合わせ

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